「active layer」を含む例文一覧(7476)

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  • A substrate 100 is overlaid with a lower clad layer 101, active layer 102, first upper clad layer 103, etching stop layer 104, and second upper clad layer 106 as a ridge in this order.
    基板100上に、下クラッド層101、活性層102、第1上クラッド層103、エッチングストップ層104、リッジとしての第2上クラッド層106がこの順に積層されている。 - 特許庁
  • In an SOI substrate 12, an SOI active layer 3 is formed on a buried oxide film 2, and at least a part of the layer 3 is formed by ALE (atomic layer epitaxy: atomic layer epitaxial growth).
    埋め込み酸化膜2上に、SOI活性層3が形成され、この少なくとも一部がALE(Atomic Layer Epitaxy:原子層エピタキシャル成長)によって形成されているSOI基板12。 - 特許庁
  • An npn bipolar transistor consists of a first semiconductor layer group sharing constituted of the n-type emitter layer 12, the p-type base layer 13, the active layer 14, and the n-type base layer 15.
    n型エミッタ層12、p型ベース層13、活性層14、及びn型ベース層15からなる第1の半導体層群区分からnpn型のバイポーラトランジスタを構成する。 - 特許庁
  • A pnp bipolar transistor consists of a second semiconductor layer sharing constituted of a p-type base layer 13, the active layer 14, the n-type base layer 15 and the p-type emitter layer 16.
    p型ベース層13、活性層14、n型ベース層15、及びp型エミッタ層16からなる第2の半導体層群区分からpnp型のバイポーラトランジスタを構成する。 - 特許庁
  • In the device, there is formed proton implanted parts 34 that reaches a first clad layer 12 by penetrating a contact layer 24, a current blocking layer 20, a second clad layer 16, and an undoped active layer 14.
    コンタクト層24と電流ブロック層20と第2クラッド層16とアンドープ活性層14とを貫通して、第1クラッド層12まで達するプロトン注入部34を形成する。 - 特許庁
  • An n-type buffer layer, an n-type clad layer, an active layer 38, a p-type clad layer and a p-type cap layer are sequentially laminated on an n-type substrate, and an (n) electrodes 44 is provided on a lower surface of the substrate.
    n型基板上に、n型バッファ層、n型クラッド層、活性層38、p型クラッド層、及びp型キャップ層を順次積層し、基板の下面にn電極44を設ける。 - 特許庁
  • On the AlN buffer layer 2, an undoped GaN layer 3, an n-type GaN layer 4, an active layer 5, and a p-type GaN layer 6 are laminated in order, and an isolation groove A isolating elements is formed.
    AlNバッファ層2上には、アンドープGaN層3、n型GaN層4、活性層5、p型GaN層6が順に積層され、素子間を分離する分離溝Aが形成される。 - 特許庁
  • On a surface of a substrate 1, a semiconductor layer 30 is formed which has an undoped GaN layer 2, an n-type semiconductor layer 3, an active layer 4, and a p-type semiconductor layer 5 laminated in this order.
    基板1表面には、アンドープGaN層2、n型半導体層3、活性層4、p型半導体層5がこの順に積層した半導体層30を形成してある。 - 特許庁
  • The semiconductor layer 11 includes an n-type semiconductor layer, an active layer thereupon, and a p-type semiconductor layer further thereupon, and the Ni ultrathin film 12 is formed in contact with the p-type semiconductor layer.
    半導体層11はn型半導体層、その上の活性層およびその上のp型半導体層を含み、このp型半導体層に接してNi超薄膜12を形成する。 - 特許庁
  • In the semiconductor light emitting element, a lower cladding layer 32, an active layer 33, an upper cladding layer 34, and a contact layer 35 are formed on an opening 20A of an insulating layer 20 on a surface of a substrate 10 in this order.
    基板10表面の絶縁層20の開口20A上に、下部クラッド層32と、活性層33と、上部クラッド層34と、コンタクト層35とが順に形成されている。 - 特許庁
  • Since the active layer is formed in the p-type semiconductor and the n-type semiconductor is formed on the active layer, a region by the side of a lower layer which is a region in which good quantum dot is formed among the active layers becomes a region nearer at the p-type semiconductor of the active layers.
    p形半導体に活性層が形成されており、活性層上にn形半導体が形成されているため、活性層のうちで良質な量子ドットが形成される領域である下層側の領域は、活性層のうちのp形半導体に近い領域となる。 - 特許庁
  • The active material is firmly fixed to the surface of the collector by connecting active materials without using the binder, and the electrode active material layer made of at least two layers of an accurate layer formed by the active material and substantially having no gap and a gap formation layer is formed.
    結着材を用いずに活物質同士を接合させることにより該活物質を集電体表面に固着させるとともに、当該活物質から構成される実質的に空隙を有しない緻密層と、空隙形成層の少なくとも2層から電極活物質層を構成する。 - 特許庁
  • A negative electrode 30 includes: a negative current collector 31 in which a negative active material layer 33 containing an active material capable of absorbing and releasing lithium is formed on the surface 32; and a conductive member 35 formed on the negative active material layer and extending in the thickness direction within the negative active material layer.
    負極30は、リチウムを吸蔵、放出可能な活物質を含む負極活物質層33が表面32に形成された負極集電体31と、負極活物質層に設けられ、負極活物質層内において厚み方向に伸びる導電性部材35と、を有している。 - 特許庁
  • Active materials are fixed on a surface of a collector by joining the active materials together without using any bonding materials, and the electrode active material layer is composed of two layers: a compact layer that is composed of the active material and substantially does not have voids and a void-forming layer.
    結着材を用いずに活物質同士を接合させることにより該活物質を集電体表面に固着させるとともに、当該活物質から構成される実質的に空隙を有しない緻密層と、空隙形成層の少なくとも2層から電極活物質層を構成する。 - 特許庁
  • An electrode active material layer 5 is formed by bonding active materials together without using a binder to fix the active materials onto a surface of a collector 2 and comprises at least a dense layer 3 made of the active materials and having substantially no void, and a void formation layer 4.
    結着材を用いずに活物質同士を接合させることにより該活物質を集電体2表面に固着させるとともに、当該活物質から構成される実質的に空隙を有しない緻密層3と、空隙形成層4の少なくとも2層から電極活物質層5を構成する。 - 特許庁
  • Then, a core layer 8 is formed by irradiating the photosensitive transparent resin layer 5 with the active energy rays using the lamination layer 6 having such constitution.
    このような構成の積層材6を用い、感光性透明樹脂層12に活性エネルギー線を照射してコア層8を形成する。 - 特許庁
  • The laminate 11 is composed of a clad layer 12, an active layer 13 and a clad layer 14 which are formed starting from the substrate 10.
    積層体11は、基板10の側から順にクラッド層12,活性層13およびクラッド層14が形成されたものである。 - 特許庁
  • An n-type clad layer 7 of III nitride compound conductor, an active layer 9, and a p-type clad layer 11 are formed thereon.
    その上にIII族ナイトライド化合物半導体よりなるn型クラッド層7,活性層9,p型クラッド層11などを積層する。 - 特許庁
  • Further, the efficiency of carrier injection to the active layer 145 can be improved by providing both Hall stop layer 143 and electron stop layer 147.
    また,ホール停止層143と電子停止層147とを設けることで,活性層145へのキャリア注入の効率化が図られる。 - 特許庁
  • An inclination composition layer 104 of about 5 to 100 nm film thickness is formed between the base layer 103 and the active layer 105.
    ベース層103と活性層105との間には、膜厚が約5nm〜約100nmの傾斜組成層104が形成されている。 - 特許庁
  • An active layer 104 has a quantum well structure including: a well layer constituted of GaInPAs; and a barrier layer constituted of Ga_0.6In_0.4P.
    活性層104は、GaInPAsからなる井戸層と、Ga_0.6In_0.4Pからなる障壁層とを含む量子井戸構造からなる。 - 特許庁
  • In a semiconductor optical device, a compound semiconductor layer is laminated which includes an etching stop layer 32 and an active layer 36 and is laminated on a semiconductor substrate 2.
    半導体基板2に積層された、エッチング停止層32と活性層36とを含む化合物半導体層を積層する。 - 特許庁
  • An opening divides the p-type compound semiconductor layer and active layer into at least two regions, and exposes the n-type compound semiconductor layer.
    開口部がp型化合物半導体層及び活性層を少なくとも二領域に分け、n型化合物半導体層を露出する。 - 特許庁
  • On an InP substrate 11, a semiconductor laminate part 10 is grown which has an active layer 14a and a surface layer (cap layer) 17a.
    InP基板11上に、活性層14a及び表層(キャップ層)17aを有する半導体積層部10を成長させる。 - 特許庁
  • The active layer 10 has a multiple quantum well structure for which an InGaN quantum well layer and an AlGaN barrier layer are stacked.
    活性層10は、InGaN量子井戸層とAlGaN障壁層とを積層した多重量子井戸構造を有している。 - 特許庁
  • The section 1 has the double heterostructure, constituted by laminating a p-type clad layer 8, the active layer 4, and an n-type clad layer 7 on another.
    該発光層部1は、p型クラッド層8、活性層4及びn型クラッド層7が互いに積層されたダブルヘテロ構造を有する。 - 特許庁
  • The semiconductor laser element 10 includes a first conductivity type clad layer 11, a second conductivity type clad layer 15, and an active layer 13.
    半導体レーザ素子10は、第1導電型クラッド層11と、第2導電型クラッド層15と、活性層13と、を備えている。 - 特許庁
  • A first semiconductor layer 20, an active layer 30, and a second semiconductor layer 40 are successively laminated on the one surface of a board 10.
    基板10の一面に、第1の半導体層20,活性層30および第2の半導体層40が順に積層されている。 - 特許庁
  • On the upper surface of a sapphire substrate 1, an N-type semiconductor layer 2, an active layer 4, and a P-type semiconductor layer 5 are laminated in this order.
    サファイア基板1の上面には、N型半導体層2、活性層4、P型半導体層5がこの順に積層してある。 - 特許庁
  • The temperature of the substrate is set higher than that when forming the first layer, a second layer 5 composed of InP being formed, with an active layer 7 being formed thereon.
    基板温度を第1の層の形成時よりも高くし、InPからなる第2の層を形成し、その上に、活性層を形成する。 - 特許庁
  • The active layer 4 is formed by alternately stacking an InN layer 4a with a first thickness and a GaN layer 4b with a second thickness.
    活性層4は第1の厚さのInN層4aと第2の厚さのGaN層4bとを交互に積層して形成されている。 - 特許庁
  • An active layer composed of semiconductor material whose band gap is smaller than that of the lower carrier confining layer is formed on the lower carrier confining layer.
    下部キャリア閉込層の上に、下部キャリア閉込層よりもバンドギャップの小さな半導体材料からなる活性層が形成されている。 - 特許庁
  • To provide a high quality GaN-based light-emitting element, in which a GaNP layer or a GaNAs layer is used as an active layer and to provide its formation method.
    GaNPやGaNAsを活性層とした良質なGaN系発光素子およびその作成方法を提供すること。 - 特許庁
  • The surface-emitting semiconductor laser device is provided with a lamination structure wherein an active layer 26 is formed between a pair of a lower clad layer 24 and an upper clad layer 28.
    一対の下部クラッド層24と上部クラッド層28の間に活性層26が形成されている積層構造を備えている。 - 特許庁
  • An n-type clad layer 21, an active layer 25 and a p-type clad layer 23 are arranged in the direction of a normal axis NX of a principal surface 17a.
    n型クラッド層21、活性層25及びp型クラッド層23は主面17aの法線軸NXの方向に配置される。 - 特許庁
  • On the composition modulation buffer layer 20, first semiconductor layer 40 is formed which includes an active layer made of a nitride semiconductor.
    組成変調バッファ層20上に、窒化物半導体からなる活性層を含む第1の半導体層40が形成されている。 - 特許庁
  • At an interface between the SCH layer 52 and the clad layer 16, a uniform diffraction grating 36 is formed over the entire length of the active layer 45.
    SCH層52とクラッド層16との界面には、活性層45の全長に沿って均一回折格子36が設けられている。 - 特許庁
  • The quantum well layer 32 and the barrier layer 31 in the active layer 30 are each composed of a nitride semiconductor containing Al.
    また、活性層30の量子井戸層32および障壁層31は、それぞれ、Alを含む窒化物半導体から構成されている。 - 特許庁
  • A constant diffraction grating 36 is provided along the total length of the active layer 45 on a boundary between the intermediate layer 15 and the clad layer 16.
    中間層15とクラッド層16との界面には、活性層45の全長に沿って均一回折格子36が設けられている。 - 特許庁
  • The semiconductor laser element 1 includes a photonic crystal layer 7 as a two-dimensional diffraction grating and an active layer 5 as a light emitting layer.
    半導体レーザ素子1は、2次元回折格子としてのフォトニック結晶層7と発光層としての活性層5とを備える。 - 特許庁
  • The semiconductor laser device 1A includes: an n-type semiconductor substrate 3; an active layer 12; a diffraction lattice layer 15; and an n-type clad layer 18.
    半導体レーザ素子1Aは、n型半導体基板3、活性層12、回折格子層15、及びn型クラッド層18を備える。 - 特許庁
  • A uniform diffraction grid 36 is provided in an interface between the upper intermediate layer 15b and the clad layer 16 along the active layer 45.
    上部中間層15bとクラッド層16との界面には、活性層45に沿って均一回折格子36が設けられている。 - 特許庁
  • The first p-type group III nitride semiconductor layer 27 is provided between the second p-type group III nitride semiconductor layer 29 and the active layer 25.
    第1p型III族窒化物半導体層27は第2p型III族窒化物半導体層29と活性層25との間に設けられる。 - 特許庁
  • A semiconductor device is provided with an active layer (activate layer) 105 comprising a first semiconductor layer that is formed on a sapphire substrate 101.
    半導体装置は、サファイア基板101上に形成された第1の半導体層よりなる能動層(活性層)105を備えている。 - 特許庁
  • The semiconductor light emitting device is provided with a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer interposing an active layer and mutually joined.
    半導体発光素子は、活性層を介在させて互いに接合されたp型半導体層とn型半導体層とを備える。 - 特許庁
  • A diffraction grid 35 is provided in the interface between the SCH layer 52 and the clad layer 16 along only one part of length of the active layer.
    SCH層52とクラッド層16との界面には、活性層の長さの一部分のみに沿って、回折格子36が設けられている。 - 特許庁
  • A p-clad layer 105 is composed of two layers having a different carrier concentration, and a Zn dope amount of a p-clad layer 105B on the far side from an active layer 104 is set to be lower than a p-clad layer 105A on the close side to the active layer 104.
    p−クラッド層105を、キャリア濃度が異なる2層から構成し、活性層104に近い側のp−クラッド層105Aに対して、活性層104に遠い側のp−クラッド層105BのZnドープ量が低くなるように設定する。 - 特許庁
  • The solid electrolyte cell has a structure in which a positive electrode collector layer 12, a positive electrode active material layer 13, a solid electrolyte layer 14, a negative electrode active material layer 15 and a negative electrode collector layer 16 are sequentially laminated on a substrate 11.
    固体電解質電池は、基板11上に、正極集電体層12と正極活物質層13と固体電解質層14と負極活物質層15と負極集電体層16とが順次積層された構造を有する。 - 特許庁
  • An N-type GaAlAs clad layer 2 and P-type GaAlAs clad layer 4 confine injection carriers in a P-type GaAlAs active layer 3, while an N-type GaAs block layer 5 concentrates a current in the light-emission region of the active layer 3.
    N型GaAlAsクラッド層2およびP型GaAlAsクラッド層4によってP型GaAlAs活性層3内の注入キャリアを閉じ込め、N型GaAsブロック層5によって、活性層3の発光領域に電流を集中させる。 - 特許庁
  • The method includes a process of forming a collecting layer 12 on a resin layer 11 in vacuum processing, and a process of forming an active material layer 13 on the collecting layer 12 by injecting an active material together with carrier gas into the collecting layer 12.
    真空プロセスによって樹脂層11の上に集電層12を形成する工程と、集電層12に対して活物質をキャリアガスと共に噴射することにより、集電層12上に活物質層13を形成する工程とを包含する。 - 特許庁
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