While a bit line is pre-charged by two different voltage being the exact opposite each other having a first voltage value and a second voltage value, read-out can be performed in a memory cell, two voltage values obtained in this case are attained by enabling buffer to a first or a second capacitor respectively before these two voltage values are supplied to an evaluator to be compared. 上記課題は、本発明によれば、ビットラインが2つの互いに異なる正反対の電圧に第1の電圧値及び第2の電圧値によってプリチャージされている間に、メモリセルは次々に読み出し可能であり、この場合に得られる2つの電圧値は、これら2つの電圧値が互いに比較されるために評価器に供給される前に、それぞれ第1の乃至は第2のキャパシタンスにバッファ可能であることによって解決される。 - 特許庁
A node device determines the number of other node devices to be connected for acquiring prescribed content data, and inquires a management device which manages locations of node devices, to acquire the determined number of network address information for connection and acquires a plurality of partial data and reproduces them in accordance with a reproduction order while storing them into a buffermemory. ノード装置は、所定のコンテンツデータを取得するために接続対象となる他のノード装置の数を決定し、ノード装置の所在を管理している管理装置に問い合わせることにより、接続するためのネットワークアドレス情報を、決定数分取得し、該ネットワークアドレス情報に基づいて他のノード装置に接続し、前記複数の部分データの夫々を、分散して取得し、バッファメモリに蓄積させつつ再生順序にしたがって再生させる。 - 特許庁
Then, the device is provided with input buffer amplifiers 8-1 to 8-4 for special mode generating an internal clock signal for a special mode being separated from a normal mode relating to read-out operation or write-in operation of data in the semiconductor memory and at least one filter out of noise filters 9-1 to 9-4. ここで、入力信号の変化に対して緩やかに変化する時間応答特性を有し、上記複数の外部クロック信号のうちの少なくとも1つの外部クロック信号に基づいて、上記半導体記憶装置におけるデータの読み出し動作又は書き込み動作に係わる通常モードとは別の特殊モードのための内部クロック信号を発生する特殊モード用入力バッファアンプ8−1乃至8−4及びノイズフィルタ9−1乃至9−4のうちの少なくとも1つを備える。 - 特許庁
The error correcting device 15 is provided with a formatter block 151, demodulating data which is read from a recording medium, a buffermemory 13 storing demodulated data, a composite syndrome calculation block 153 determining the guarantee condition of demodulated data, a PRE-EDC block 154 and a demodulation error flag register 155, a syndrome calculation block 156 which conducts syndrome calculation on demodulated data and an error correction block 157 correcting the error of demodulated data. 記録媒体から読み出されたデータを復調するフォーマッタブロック151と、復調されたデータを格納するバッファメモリ13と、前記復調されたデータの保証条件を判定する複合シンドローム計算ブロック153、PRE−EDCブロック154および復調誤りフラグレジスタ155と、復調されたデータに対してシンドローム計算を行うシンドローム計算ブロック156と、復調されたデータに誤り訂正を行う誤り訂正ブロック157とを少なくとも備えた誤り訂正装置15。 - 特許庁