「second-layer」を含む例文一覧(21457)

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  • When a P-type semiconductor layer is epitaxilally grown, a first gas flow F1 flowing from a first gas flow port 11 via the zinc crucible 3 and sequential containers to a second gas flow port 12 is generated.
    P型半導体層をエピタキシャル成長させるときには、第1気体流通口11から、亜鉛壺3および処理容器1群を順に通って第2気体流通口12に至る第1気流F1が形成される。 - 特許庁
  • The memory device has a first insulating film 102, a charge storing insulating film 103, and a second insulating film 104 on the semiconductor layer 101; and further has a gate electrode 105 made of polysilicon on an upper surface thereof.
    半導体層101上には、第一の絶縁膜102、電荷蓄積絶縁膜103、および第二の絶縁膜104を有しており、さらに、その上側に、ポリシリコン等よりなるゲート電極105を有する。 - 特許庁
  • In a second step, releasing the flexible polymer from the template is followed by pressing the inverse pattern of the flexible polymer replica into a resist layer (14) on a substrate to imprint a replica of the pattern of the template surface in therein.
    第二工程で、可撓性重合体レプリカをテンプレートから引き離した後、可撓性重合体レプリカの逆パターンを、基材上のレジスト層14中にプレスし、テンプレート表面のパターンのレプリカをインプリントする。 - 特許庁
  • An active layer 11c is formed on the second semiconductor substrate 12 via an oxide film 11a by conducting the heat treatment to the laminated material 13, and by separating the laminated material 13 with an ion-implanting region 11b.
    この積層体13を熱処理して積層体13をイオン注入領域11bで分離することにより第2半導体基板12上に酸化膜11aを介して活性層11cを形成する。 - 特許庁
  • This charger is a device for charging the voltage generated by a dynamo 2, and comprises a full-wave rectifying circuit 5, an electric double layer capacitor 6, a first electrolytic capacitor 7, and a second electrolytic capacitor 8.
    この充電装置は、ダイナモ2で発電された電圧を充電するための装置であって、全波整流回路5と、電気2重層コンデンサ6と、第1電解コンデンサ7と、第2電解コンデンサ8とを備えている。 - 特許庁
  • A mold exterior resin 8 is formed around a second conductive layer 4b, the cathode terminal 6, and the anode terminal 7, such that the ends of the cathode terminal 6 and the anode terminal 7 are drawn out.
    また、陰極端子6および陽極端子7の端部が外部に引き出されるように、第2導電層4b、陰極端子6および陽極端子7の周囲には、モールド外装樹脂8が形成されている。 - 特許庁
  • A carbon fiber mat is impregnated into a first thermoplastic resin and then grinded or cut to form the granular substances, which are mixed with a second thermoplastic resin melted and molded to form a base material layer 1.
    カーボン繊維マットに第1の熱可塑性樹脂を含浸させた後、粉砕又は切断して得られた粒状体と、第2の熱可塑性樹脂樹脂とを混合して溶融成形することにより基材層1を形成する。 - 特許庁
  • After that, the feed gas is supplied, a second semiconductor layer 4 that is generated with dot structure made of a semiconductor crystal as a new crystal growth nucleus is used, and the semiconductor base is completed.
    しかる後、原料ガスを供給し、半導体結晶からなるドット構造を新たな結晶成長核として生成される第2の半導体層4を形成して、本発明の半導体基材が完成する。 - 特許庁
  • Concurrently, it measures the peaks of the largest S curve and the second largest S curve, and sets a flag showing the possibility that there is an HDDVD layer when this peak ratio is within the predetermined range.
    同時に、最も振幅が大きいSカーブと次に振幅が大きいSカーブのピーク比を測定し、このピーク比が、所定レンジ内にあるときに、HDDVD層が存在する可能性があることを示すフラグを立てておく。 - 特許庁
  • A first and a second electrodes 120 and 124 are provided on an element substrate 100, and a third electrode 218 is provided on a counter substrate 200 facing the element substrate 100 via a liquid crystal layer 300.
    第1電極120と第2電極124とは素子基板100に設けられ、素子基板100と液晶層300を介して対向する対向基板200に第3電極218が設けられている。 - 特許庁
  • A semiconductor light-emitting device according to an embodiment includes: a light-emitting part 17; a translucent part 60; a wavelength conversion part (phosphor layer 70); a first conductive part 31; a second conductive part 32; and an encapsulation part 50.
    実施形態によれば、発光部17と、透光部60と、波長変換部(蛍光体層70)と、第1導電部31と、第2導電部32と、封止部50と、を備えた半導体発光装置が提供される。 - 特許庁
  • After an opening 17A (first opening) is formed in the liquid-repellent layer 17 and a hollow 18 of the same size is formed in the gate insulating film 13, the opening 17A is widened to form an opening 17B (second opening).
    撥液層17に開口17A(第1開口)を形成すると共にゲート絶縁膜13に同じ大きさの窪み18を形成したのち、開口17Aを拡幅して開口17B(第2開口)を形成する。 - 特許庁
  • The conductive layer includes a wiring region 26 serving as an inductor, a first end region 22 to which one end of the wiring region 26 is connected, and a second end region 24 to which the other end of the wiring region 26 is connected.
    導電層は、インダクタとなる配線領域26と、配線領域26の一端が接続される第1端部領域22と、配線領域26の他端が接続される第2端部領域24を備えている。 - 特許庁
  • When the conductive layer is viewed in a plane, a circumference of the first end region 22 is not surrounded with the wiring region 26, and a circumference of the second end region 24 is not surrounded with the wiring region 26.
    導電層を平面視したときに、第1端部領域22の周囲が配線領域26によって取囲まれておらず、かつ、第2端部領域24の周囲が配線領域26によって取囲まれていない。 - 特許庁
  • A first active region 9a and a second active region 9b include central top surfaces 9t of a (100) crystal plane and inclined edge surfaces 9e extending from the central top surfaces 9t to the device isolation layer 14.
    第1活性領域9a及び第2活性領域9bは(100)面の中心上面9t及び中心上面9tから素子分離膜14に向けて延びる傾斜エッジ面9eを有する。 - 特許庁
  • When recording a mark for a first round on a recording layer, the irradiation spot of a second light beam is shifted to the recording direction, and thereby the end point of the first mark recording is retracted to the recording direction.
    記録層に対する最初の1周分のマーク記録時に第2の光ビームの照射スポットを記録方向側にシフトさせることで、1周目のマーク記録終了位置を記録方向側に待避させる。 - 特許庁
  • The elastic layer 100B spirally arranged is provided with a second edge portion 100C_2 that comes in contact with a surface to be cleaned at an angle different from that of each of first edge portions 100C_1 located at both ends in the spiral width direction thereof.
    そして、螺旋状に配置された弾性層100Bに、螺旋幅方向の両端部に位置する第1エッジ部100C_1とは異なる角度で被清掃面に接触する第2エッジ部100C_2を設ける。 - 特許庁
  • Then, the coil 23 is wound around the tooth covering unit 32 from the projection guide unit 35 and is wound, in a manner such that a second layer coil line 42 of the coil 23 does not abut against the root 23b of the leading wire 23s.
    そして、コイル23は、突出案内部35からティース被覆部32に巻回され、該コイル23の第2層コイル線42が引き出し線23sの根本部分23bと接触しないように巻回される。 - 特許庁
  • The stamp material layer of a cupola hearth 22 consists of first layers 24a and 24b on the upper surface side formed of a material high in corrosion resistance, and second layers 26a and 26b on the under surface side formed of a material high in heat insulation property.
    キュポラ炉床22におけるスタンプ材層は上面側の耐食性の高い素材にて構成された第1層24a, 24bと下面側の断熱性の高い素材にて構成された第2層26a, 26bとから構成される。 - 特許庁
  • An intermediate layer 42 refers to a managed table and determines whether a command received by a communication unit 41 is a command directed to a first operating system 43 or a command directed to a second operating system 44.
    中間層42は、通信部41で受信されたコマンドを、管理しているテーブルを参照し、第1オペレーティングシステム43に対するコマンドであるか、第2オペレーティングシステム44に対するコマンドであるかを判定する。 - 特許庁
  • The rewiring 40 has a center line average roughness of 100 nm or more on its surface joined with the second insulating layer 32 and the solder bump 55 strides over the rewiring 40 not electrically connected with the solder bump.
    再配線40は、第2の絶縁層32との接合面において100nm以上の中心線平均粗さを有し、はんだバンプ55は、該はんだバンプに電気的に接続されない再配線40に跨る。 - 特許庁
  • A multilayer structure has a semiconductor element 15 which is mounted on a first major surface 11a and a conductive layer 13 which is arranged on a second major surface 11b of a substrate 11 and recedes from a side surface 11s of the substrate 11.
    積層構造体は、第1主面11aに搭載された半導体素子15と、基板の第2主面11bに設けられ、基板11の側面11sから後退した導電層13と、を有する。 - 特許庁
  • Further, the magnetic random access memory includes a second selection transistor including the first diffusion region and a third diffusion region which are formed in the active region 12, and first wiring electrically connected to the first pinned layer.
    さらに、アクティブ領域12に形成された前記第1の拡散領域及び第3の拡散領域を有する第2の選択トランジスタと、固定層に電気的に接続された第1の配線とを備える。 - 特許庁
  • A via hole 16 is formed in the insulating layer 12 by second laser light L2 with a spot diameter D3 larger than a diameter D1 of a ridgeline of a bump part 26a formed at the peripheral edge of the opening 26 of the masking film 24.
    マスキングフィルム24の開口部26の周縁に形成された隆起部26aの稜線の直径D1よりも大きなスポット径D3の第二のレーザ光L2により、絶縁層12にビアホール16を形成する。 - 特許庁
  • A portion 11a1 at least on one side of the wiring material 11 is bonded to a portion where first and second electrodes 23 and 24 are mixed on a first principal surface 20b with an adhesive resin layer 12.
    配線材11の少なくとも一方側の部分11a1は、第1の主面20bの第1及び第2の電極23,24が混在している部分に対して接着性樹脂層12により接着されている。 - 特許庁
  • The buried LDD region is spaced laterally apart from the drain region, and a second LDD region of the first conductivity type is formed proximately to the upper surface of the semiconductor layer in the buried LDD region.
    この埋込みLDD領域はドレイン領域から横方向に離隔され、この埋込みLDD領域内の半導体層の上部表面の近傍に第1の導電型の第2のLDD領域が形成される。 - 特許庁
  • In the semiconductor device, a nitrogen added silicon dioxide thin film 4B is stacked on a fluorine added silicon dioxide thin film 4A, and on the top of this nitrogen added dioxide thin film 4B, the metallic wires 6 of a second layer are arranged.
    半導体装置において、弗素添加酸化珪素膜4A上に窒素添加酸化珪素膜4Bが配設され、この窒素添加酸化珪素膜4B上に第2層目の金属配線6が配設されている。 - 特許庁
  • The resistance changing layer 12 can change an electrical resistance value among a plurality of states by applying a voltage or a current between the first electrode 11 and the second electrode 13.
    抵抗変化層12は、第1の電極11と第2の電極13との間に電圧または電流を印加することによって、電気抵抗値が異なる複数の状態間で変化させることが可能な層である。 - 特許庁
  • The end face of the pole layer 24 arranged at a medium facing surface has a first portion 41 and a second portion that is loacated apart from a substrate at the first portion and connected to the first portion.
    媒体対向面に配置された磁極層24の端面は、第1の部分41と、この第1の部分41よりも基板から遠い位置に配置され、且つ第1の部分に接続された第2の部分42とを有している。 - 特許庁
  • The method for manufacturing the diaphragm structure comprises the steps of forming body parts 30A and 30B and diaphragms 31A and 31B of diaphragm constituting elements by using a normal semiconductor process on first and second substrates 1A and 1B via a mold release layer 2.
    第1および第2の基板1A,1B上に離型層2を介して通常の半導体プロセスを用いてダイヤフラム構成要素である胴体部30A,30Bおよびダイヤフラム部31A,31Bを形成する。 - 特許庁
  • Further a second impurity diffusion region 22 (22A and 22B) of the conductive layer reverse to the first impurity diffusion region 20 is made to adjoin the first impurity diffusion region 20, and further it is made to adjoin the source 26 and the drain 28.
    さらに第1不純物拡散領域20と逆の導電層である第2不純物拡散領域22を、第1不純物拡散領域20と隣接させるとともにソース26とドレイン28とも隣接させる。 - 特許庁
  • A glass transition point of a dielectric paste that is used for forming the second dielectric layer 32B is set at a lower temperature than that of a sealing exhaust gas, and the softening point is set at a higher temperature than that of the sealing exhaust gas.
    第2誘電体層32Bの形成に用いる誘電体ペーストのガラス転移点を封着排気温度よりも低い温度に設定し、かつ、軟化点を封着排気温度よりも高い温度に設定している。 - 特許庁
  • The first handrail part 5 and the second handrail part 6 are constituted of a tubular member having a cross-sectional shape of an ellipse shape as a whole by coating the peripheral face of a metal circular tubular material 7 with a resin layer 8.
    第1の手摺部5と第2の手摺部6は、金属製の円形管材7の周面に樹脂層8を被覆して、全体として楕円形の断面形状を有する管状部材によって構成されている。 - 特許庁
  • The packaging substrate has a double-layer conductive pattern structure, has signal wiring patterns and power supply wiring patterns 300-307 for connecting the memory device to the data processing device on the first surface, and has a ground pattern on a second surface.
    前記実装基板は2層の導電パターン構造を有し、第1面にはメモリデバイスとデータ処理デバイスを接続する信号配線パターンと電源配線パターン(300〜307)を有し、第2面にはグランドパターンを有する。 - 特許庁
  • This nonvolatile semiconductor storage device is divided into first and second regions I, II, and in the first region I, an n+ layer 9 is formed so as to extend from a source region 3 into under a floating gate 6.
    不揮発性半導体記憶装置は、第1、第2の領域I,IIに分割され、第1の領域Iにおいて、ソース領域3から浮遊ゲート6の下に拡張してn+層9が形成されている。 - 特許庁
  • The third lower semiconductor DBR 103_3 is provided between a resonator structure and the second lower semiconductor DBR 103_2, and each refraction layer is set to have an optical thickness of λ/4.
    第3の下部半導体DBR103_3は、共振器構造体と第2の下部半導体DBR103_2との間に設けられ、各屈折率層はいずれもλ/4の光学厚さとなるように設定されている。 - 特許庁
  • Wood veneers are laid on top of each other for multi-layer wood, plywood, or some other sandwich material (20), the veneers included in the second density category serving a middle veneers (14).
    ベニア板は積層木材、合板又は他のサンドイッチ材料(20)を作るために積重ねて置かれ、第1密度カテゴリーに入るベニアは表面板(13)として使い、第2密度カテゴリーに入るベニアは中板(14)として使う。 - 特許庁
  • On an N type silicon substrate (first substrate) 110, an epitaxial silicon layer (second substrate) 111 is formed at an impurity concentration lower than that of the silicon substrate 110, e.g. a concentration of 1E14 or less, thus completing a silicon substrate.
    N型シリコン基板(第1基板)110の上に、このシリコン基板110より不純物濃度の低い、例えば1E14以下の濃度でエピタキシャルシリコン層(第2基板)111を形成してシリコン基板を完成する。 - 特許庁
  • The liquid crystal display device has a liquid crystal modulation element having a liquid crystal layer 100 between a first electrode 102 and a second electrode 103, and a light source 210 for illuminating the liquid crystal modulation element.
    液晶表示装置は、第1の電極102および第2の電極103の間に液晶層100を有する液晶変調素子と、該液晶変調素子を照明する光源210とを有する。 - 特許庁
  • The barrier ribs 4 are made from photoresist and each comprise two reverse-tapered projecting strips 4a and 4b extending parallel to the second electrodes 7, and a forward-tapered insulating layer 8 formed on the outside of the projecting strips.
    隔壁4はフォトレジストにより形成され、第2電極7と平行に延びる2本の逆テーパ状の凸条4a,4bと、その外側に形成された順テーパ状の絶縁層8とで構成されている。 - 特許庁
  • The power generation array is constituted by providing a plurality of element support portions supporting many photoelectric converting elements to the first conductor layer at intervals and connecting second conductor layers independent by the element support portions.
    第1導電体層に多数の光電変換素子を支持する素子支持部を間隔を隔てて複数設けるとともに、各素子支持部毎に独立した第2導電体層を接続した発電アレイを構成する。 - 特許庁
  • Moreover, a mold exterior resin 8 is formed around the second conductive layer 4b, cathode terminal 6 and anode terminal 7 such that ends of the cathode terminal 6 and anode terminal 7 are drawn out.
    そして、陰極端子6および陽極端子7の端部が外部に引き出されるように、第2導電層4b、陰極端子6および陽極端子7の周囲には、モールド外装樹脂8が形成されている。 - 特許庁
  • Each organic layer 25 is formed at the intersection of the first 22 and second electrodes 26 in the shape of independent island and located within the width of the first electrode 22 when viewed on the plan.
    有機層25は第1の電極22と第2の電極26との交差する位置にそれぞれ島状に独立して設けられているとともに、平面視した状態で第1の電極22の幅内に配置されている。 - 特許庁
  • In particular, the first electrode is formed using a corrugated shape provided by anisotropic-etching one face of an Si substrate 11 for forming the cavity, the second electrode is formed thereon via sacrifice layer 16, and the backplate is formed further.
    特に第1の電極を、キャビティを形成するSi基板11の一面を異方性エッチングした波形形状を利用して形成し、この上に犠牲層16を介して第2の電極を、更にバックプレートを形成する。 - 特許庁
  • At least one specified source/drain region in the first and second source/drain regions has effective width which is substantially larger than width of bonding between the semiconductor layer and the specified source/drain regions.
    第1および第2のソース/ドレイン領域のうちの少なくとも特定の1つは、半導体層とその特定のソース/ドレイン領域との間の接合の幅よりも実質的に大きな実効幅を有して形作られている。 - 特許庁
  • The first groove 26 and the second groove 25 whose depth are different from each other are formed by utilizing a difference of their detachability to stripping liquid using a resist layer comprised of 2 kinds of resist materials with each having a different characteristic.
    このような深さの異なる第1の溝26および第2の溝25は、特性の異なる2種類のレジスト材料からなるレジスト層を用い、これらの剥離液に対する剥離性の違いを利用して形成される。 - 特許庁
  • To previously form a ball cell substrate, to remove the diffusion layer of second conductivity tape silicon along a spherical outline without local heating, to expose first conductivity type silicon and to form a ball diode substrate.
    予め、ボール・セル基板を形成し、局所的な加熱を伴わずに球状輪郭に沿って第2導電型シリコンの拡散層を取り除き第1導電型シリコンを露出させて、ボール・ダイオード基板を形成することにある。 - 特許庁
  • To provide a pumping and draining device capable of reducing the cost for work, properly draining the groundwater of a first aquifer 5 to a second aquifer 6, and properly removing a filtered matter accumulated on a draining layer screen 4.
    工事のコストを低減でき、第2帯水層6へ第1帯水層5の地下水を適切に排出可能であり、かつ、排水層スクリーン4に蓄積された濾過物を適切に除去できる揚排水装置を提供する。 - 特許庁
  • The monotone function is used as an activation function of a first neuron group N1 and 2r pieces of neurons 11-1r and 21-2R structuring a second neuron group N2 included in an input layer 1 of the recurrent neural network.
    このリカレントニューラルネットワークの入力層1に含まれる第1のニューロン群N1と第2のニューロン群N2とを構成する2r個のニューロン11〜1rと21〜2Rの活性化関数として単調関数を用いる。 - 特許庁
  • The semiconductor laser stack 1 includes a first notch N1 and a second notch N2 (both the ends of a detecting reference) formed at both the end sides of the emitter E of the end face of an active layer including the emitter (light emitting part) E.
    半導体レーザスタック1は、エミッタ(発光部)Eを含む活性層の端面のうちのそれぞれのエミッタEの両端側に第1ノッチN1及び第2ノッチN2(検出基準両端部)を形成している。 - 特許庁
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