「surface analysis」を含む例文一覧(773)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 15 16 次へ＞- ANALYSIS METHOD FOR SPHERICAL SURFACE WAVE ELEMENT WITH ANISOTROPY
異方性を有する球状表面波素子の解析方法 - 特許庁 - NANOSTRUCTURE SURFACE FOR ANALYSIS OF MICRO PARTICLES AND OPERATION THEREFOR
微粒子の分析および操作のためのナノ構造表面 - 特許庁 - METHOD FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF SURFACE LUBRICANT ON MAGNETIC RECORDING MEDIUM
磁気記録媒体の表面潤滑剤の定量分析方法 - 特許庁 - SURFACE ANALYZER FOR CONDUCTING PHASE ANALYSIS USING PHASE DIAGRAM
状態図を利用した相分析を行う表面分析装置 - 特許庁 - METHOD OF QUANTITATIVE ANALYSIS FOR LUBRICANT ON SURFACE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM
磁気記録媒体表面の潤滑剤の定量分析方法 - 特許庁 - In this analysis method, the liquid sample is dropped onto a clean base material surface, and surface analysis of the base material surface after being dried is performed.
本発明よる分析方法は、液体試料を清浄な基材面に滴下して、乾燥させた後の基材面を表面分析することにより達成される。 - 特許庁 - CAD SYSTEM, CURVED SURFACE ANALYSIS DEVICE, CURVED SURFACE REPRODUCING DEVICE, AND METHOD AND PROGRAM THEREFOR
ＣＡＤシステム、曲面解析装置、曲面再生装置、その方法及びそのプログラム - 特許庁 - To provide a method for analysis, especially, automatic analysis of ultratrace impurity metal on a silicon wafer surface.
シリコンウェハ表面の超微量不純物金属の分析、特に自動分析の方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF SURFACE FUNCTIONAL GROUP OF CARBON BLACK
カーボンブラックの表面官能基の定量分析方法及び装置 - 特許庁 - SURFACE CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS, SHAPE ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
表面性状測定機、形状解析プログラムおよび記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE
サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁 - ANALYZING METHOD OF SUBSTANCE TO BE EXAMINED BY SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS
表面プラズモン共鳴分析による被験物質の解析方法 - 特許庁 - SURFACE ANALYSIS METHOD FOR SOLID SAMPLE USING CP/MAS NMR
ＣＰ／ＭＡＳＮＭＲを用いた固体試料の表面解析方法 - 特許庁 - SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁 - SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER
電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁 - CHEMICAL REACTION ANALYSIS SENSOR USING SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING METHOD
表面プラズモン共鳴測定法を用いる化学反応解析センサ - 特許庁 - Then, an analysis model is p in an analysis model preparation stage 2, and a heat transfer analysis is executed in a welding part heat transfer analysis stage 3 by limiting it to a welding process in the vicinity of the surface layer.
次に、解析モデル作成段階２では解析モデルを作成し、溶接部伝熱解析段階３において表層付近の溶接過程に限定して伝熱解析を行う。 - 特許庁 - Preferably, the surface used as the analysis tip of the aforementioned glass substrate for analysis tip is processed by finishing agents.
好ましくは、前記分析チップ用ガラス基板の分析チップとして使用する面を表面処理剤で処理する。 - 特許庁 - To improve analysis precision by taking a thermal liquid analysis in which reflection from a ground surface is taken into calculation.
地表面からの照り返しを計算に入れた熱流れ解析を行うことで、解析精度の向上を図る。 - 特許庁 - SURFACE-STRENGTHENED TOOL FOR VIBRATION SPECTRAL ANALYSIS AND ITS MANUFACTURING METHOD
表面増強振動分光分析用治具及びその製造方法 - 特許庁 - PROBE FOR SURFACE ENHANCED VIBRATION SPECTROSCOPIC ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD
表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PRETREATMENT FOR ANALYSIS OF IMPURITIY ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR
半導体表面の不純物分析前処理方法およびその装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF TESTPIECE SURFACE, ANALYSIS DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE
試料鏡面の測定方法及び分析装置並びに電子ビーム装置 - 特許庁 - TOOL FOR SURFACE ENHANCED VIBRATION SPECTROSCOPIC ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD
表面増強振動分光分析用治具およびその製造方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SOLID OXIDE FUEL CELL SURFACE ANALYSIS
固体酸化物燃料電池の表面分析のためのシステム及び方法 - 特許庁 - Then, a contact part is pressed onto the surface of the spectrochemical analysis target, the laser beam is applied onto the surface of the spectrochemical analysis target in the opening, the surface of the spectrochemical analysis target is vaporized, and a vaporization constituent is sent to the body of the spectrochemical analysis object by the gas.
そして、分光分析対象の表面に接触部を押し当て、開口部内の分光分析対象の表面にレーザ光を照射して、その分光分析対象の表面を気化させ、その気化成分をガスにより分光分析装置本体へ送り出す。 - 特許庁 - In the IAS (internal analysis space) analysis, on the assumption that a structure or the like is not arranged outside a conversion surface, an electromagnetic field distribution u0 inside the conversion surface, on the conversion surface and in the vicinity of the outside of the conversion surface is found out.
ＩＡＳ解析では、変換面外部には構造物などを置かないと仮定して、変換面内部、変換面上、変換面外部の近傍における電磁界分布ｕ０を求める。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING EXTREMELY SMALL MULTIPLE PROBE AND SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS
極微小多探針プローブの製造方法及び表面特性解析装置 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD FOR RAPIDLY IDENTIFYING SURFACE ANTIGEN DEVELOPING IN CELL
細胞に発現する表面抗原を迅速に同定するための分析方法 - 特許庁 - SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR CHIP AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE USING IT
表面プラズモン共鳴センサチップ及びそれを用いた試料の分析方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF RATE COEFFICIENT OF DESORPTION IN SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS
表面プラズモン共鳴分析における離脱速度係数の測定方法 - 特許庁 - SURFACE-STRENGTHENED TOOL FOR VIBRATION SPECTRAL ANALYSIS, ITS MANUFACTURING METHOD, SURFACE-STRENGTHENED TOOL FOR RAMAN SCATTERING SPECTRAL ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD
表面増強振動分光分析用治具並びにその製造方法及び表面増強ラマン散乱分光分析用治具並びにその製造方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF RATE COEFFICIENT OF REACTION IN SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS
表面プラズモン共鳴分析における反応速度係数の測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR COMPREHENSIVE ANALYSIS OF PROTEASE ACTIVITY USING SURFACE PLASMON RESONANCE
表面プラズモン共鳴を用いたプロテアーゼ活性の網羅的な解析方法 - 特許庁 - To provide a method for in-situ analysis of the surface of the solid in a liquid.
液体中の固体表面をその場分析する方法を提供する。 - 特許庁 - In the EAS (external analysis space) analysis, on the assumption that a structure or the like exists outside the conversion surface, a total electromagnetic field distribution u is found out.
ＥＡＳ解析では、変換面外部には構造物などが存在するとして、全電磁界分布ｕを求める。 - 特許庁 - OBSERVATION/ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE SURFACE BY OBLIQUE EMISSION PROTON BEAM INDUCED CHARACTERISTIC X- RAY ANALYSIS AND APPARATUS THEREFOR
斜出射プロトンビーム誘起特性Ｘ線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置 - 特許庁 - To provide an analysis object material extraction device capable of shortening an extraction time for extracting an analysis object material from a surface to be measured including the analysis object material, and achieving quick analysis.
分析対象物質を含む被測定面から分析対象物質を抽出する抽出時間を短縮し、迅速な分析を実現する分析対象物質抽出装置を提供する。 - 特許庁 - As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.
表面分析方法としては、ＸＰＳ分析法等が挙げられ、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析と併用すれば、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁 - A thermal analysis part 16 applies thermal analysis based on numerical analysis such as a finite element method, a finite difference method or a finite volume method to the surface element model generated by the surface element model generation part 15.
熱解析部１６は、面要素モデル生成部１５によって生成された面要素モデルに対して、有限要素法、有限差分法、あるいは有限体積法などの数値解析による熱解析を行う。 - 特許庁 - To provide a surface analysis apparatus which accurately discriminates irregularities on a surface.
表面上の凹凸成分の識別をより的確に行うことのできる表面解析装置を提供する。 - 特許庁 - ANALYZER FOR SAMPLE USING SURFACE PLASMON RESONANCE AND SENSOR CHIP FOR SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS
表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析装置及び表面プラズモン共鳴分析用センサチップ - 特許庁 - To provide a method for spark discharge atomic emission spectrometric analysis for maximizing a measurement region as an analysis point configured on a surface of a sample, implementing a component analysis of a sample according to a multiple-analysis logic, and improving the accuracy of the component analysis and a speed of an analysis process.
本発明は、試料面上に設定される分析点である測定領域の最大化を図り、多回分析ロジックに従った試料の成分分析を行い、成分分析の高精度化、分析処理の高速化を実現したスパーク放電発光分光分析方法に関する。 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE, SUBSTRATE FOR ANALYSIS, METHOD FOR PRODUCING SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE AND SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE
表面修飾基板の解析方法、解析用基板及び表面修飾基板の製造方法、並びに表面修飾基板 - 特許庁 - The defective part is detected from the difference of brightness from a normal part of the sample surface by the image analysis, and an analysis position is extracted so that the analysis position avoids the defective part.
画像解析により試料表面の正常部との輝度の違いから欠陥部を検出して、分析する位置が欠陥部を避けるように分析位置を抽出する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ANALYZING POLE SURFACE LAYER PART IN ELECTRON BEAM MICRO-ANALYSIS
電子線マイクロアナリシスにおける極表層部分析用試料作製方法 - 特許庁 - ERYTHROCYTE SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD BY ELECTROPHORETIC ANALYSIS, AND DEVICE THEREFOR
電気泳動解析による赤血球表面電位測定方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD OF DISPLAYING FACE ANALYSIS DATA IN SURFACE ANALYZER USING ELECTRON BEAM
電子線を用いた表面分析装置における面分析データ表示方法 - 特許庁 - To provide a measuring method which enables an accurate surface analysis in a depth direction.
深さ方向の表面分析が正確にできる測定方法を提供する。 - 特許庁 - The server receives transmitted information and use it for analysis of a road surface condition.
サーバは送られた情報を受信して路面状況の分析に供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
