「surface analysis」を含む例文一覧(773)

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  • The computing and setting part 15 of a corrected heat transfer coefficient corrects the heat transfer coefficient based on a ratio of a surface area of the analysis object before element breakdown with a surface area of the corresponding approximation model.
    補正熱伝達係数の計算及び設定部15は、前記解析対象物の要素分割前の表面積と、これに対応する前記近似モデルの表面積との比に基づいて、熱伝達係数を補正する。 - 特許庁
  • According to an analysis by high-frequency glow discharge atomic emission spectrometry, the maximum value of Si concentration in a surface layer extended 20 nm from the surface of the copper or copper alloy tube is 0.3-30 atom%.
    高周波グロー放電発光分光分析法により分析したときの前記銅又は銅合金管の表面から20nmまでの表層部におけるSi濃度の最大値が0.3乃至30原子%である。 - 特許庁
  • The surface shape of the transparent tabular body 3 is evaluated by image analysis using the determined stripe pattern 1 and only the reflected image by the surface of the transparent tabular body 3 of the stripe pattern 1.
    その後、決定されたストライプパターン1を使用して、ストライプパターン1の透明板状体3の表面による反射像のみを用いて画像解析によって透明板状体3の表面形状を評価する。 - 特許庁
  • To provide a method of determining surface tension by observing the interface shape of a small amount of liquid placed on a solid sample that vibrates vertically and comparing the observed surface tension with surface tension calculated by numerical analysis, and to provide a measuring apparatus.
    上下振動をする固体試料上に設置した小量の液体の界面形状を観測し、数値解析により求められる界面形状との比較により表面張力を決定する方法と測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • By subjecting a molten metal surface level detection signal to a frequency spectrum analysis then, a peak frequency between fluctuation of a bulging molten metal surface level and fluctuation of a dummy bar-nature molten metal surface level is detected, and a differential filter 12 functioning as a disturbance compensator is switched by the peak frequency.
    その際、湯面レベル検出信号を周波数スペクトル解析することで、バルジング性湯面変動とダミーバー性湯面変動とのピーク周波数を検出し、そのピーク周波数によって、外乱補償器として機能する微分フィルタ12を切り替える。 - 特許庁
  • After a groove 40 is formed in the vicinity of the analyzing region 30 of a sample 22, the cross section of the sample is exposed and the cut surface 50 thereof is set as an analyzing target surface, and the groove 40 appearing on the cut surface 50 is used as a mark to perform analysis to specify the analyzing region 30.
    試料22の分析領域30の近傍に溝40を作成した後、試料断面を出してその切断面50を分析対象面とし、切断面50に表出した溝40を目印として分析を行い、分析領域30を特定する。 - 特許庁
  • The surface displacement of one scheduled cutting line out of a plurality of scheduled cutting lines of a workpiece 10 is measured by a surface displacement measurement means 4, and an analysis means 51 estimates the surface displacement of other scheduled cutting lines for the next machining from the measured value of the surface displacement of the one scheduled cutting line.
    表面変位測定手段4により、ワーク10の複数の分割予定ラインのうち、一の分割予定ラインの表面変位を測定し、解析手段51において、この一の分割予定ラインの表面変位の実測値から、次に加工を行う他の分割予定ラインの表面変位を予測する。 - 特許庁
  • In a method for analyzing the surface layer of the silicon wafer, the analyzing surface of the silicon wafer is made close to and face the liquid surface of the silicon solution made of a mixed liquid of fluorine and nitric acid under normal temperatures so as to etch the surface layer section of the silicon wafer, and the etching liquid is collected for analysis.
    シリコンウェーハの分析面を、フッ酸と硝酸の混合液からなるシリコン溶解液の液面に、常温下で近接させて対面させることによってシリコンウェーハの表層部をエッチングし、そのエッチング液を回収して分析することを特徴とするシリコンウェーハの表層分析方法である。 - 特許庁
  • An analysis part AN detects foreign object defect data from the first and second surface data, and the foreign object defect data are classified into three categories of a first mode which is indicated only in the first surface data, a second mode which is indicated only in the second surface data, and a third mode which is indicated in both the first and second surface data.
    解析部ANは、第1及び第2表面情報から異物欠陥情報を検出し、異物欠陥情報を、第1表面情報のみに示された第1モード、第2表面情報のみに示された第2モード、第1及び第2表面情報の両方に示された第3モードに区別する。 - 特許庁
  • The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.
    試料片8をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第1平面5sの表面にある分析対象面12を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面4の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁
  • A measurement area 0201 including a minute analysis point 0200 in an insulative film 0203 on a sample surface and a reference area 0202 positioned in the vicinity of the measurement area 0201 and composed and constructed equally to the measurement area 0201 excepting exclusion of the minute analysis point 0200 are irradiated by X-rays alternately.
    試料表面の絶縁膜0203中にある、微小分析点0200を含む測定領域0201と、測定領域0201の近傍にあって微小分析点0200を含まないこと以外は組成、構造が測定領域0201に等しい参照領域0202にX線を交互に照射する。 - 特許庁
  • Consequently, thermal boundary conditions need not be set by calculation gratings of the wall surface boundary layers 103, 104L, and 104R and the thermal flow analysis in which the sky radiation is taken into calculation can be taken by using the existent mesh model for aerodynamic analysis.
    こうすることで、壁面境界層103,104L.104Rの各計算格子毎に熱境界条件を設定する必要がなくなり、既存の空力解析用のメッシュモデルを用いて、天空放射を計算に入れた熱流れ解析を行うことができる。 - 特許庁
  • In side gases are continuously sucked through a vent hole at a side surface of the container through the use of a sampling probe for container analysis and fed to a device for detecting the gasses in the container.
    コンテナ側面にある通気口を利用して、コンテナ分析用サンプリングプローブを用いて内部の気体を連続して吸引し、コンテナ内ガス検知装置に送る。 - 特許庁
  • A plane connecting the moving boundary positions of the respective small analysis areas is defined as the moving boundary surface of the developer particles in the entire space to be analyzed (S220).
    各微小解析領域の移動境界位置を結んだ面を解析対象の空間全体についての現像剤粒子の移動境界面とする(S220)。 - 特許庁
  • To provide a device for easily and shortly executing the analysis of volatile components and refractory components remaining on the surface of a sheet-shaped solid matter.
    シート状固形物の表面に残留している揮発性成分と難揮発性成分の分析を簡便に且つ短時間に実施できるようにする為の装置を提供すること。 - 特許庁
  • In another embodiment, the moisture-proof laminated body has a metal fatty acid salt layer on the surface of the moisture-proof layer in an amount of 0.01 to 1 g/m^3 (measured by the fluorescent X rays analysis).
    防湿層表面に、脂肪酸金属化合物が0.01〜1g/m^2(蛍光X線解析法により測定)存在すること前記防湿積層体。 - 特許庁
  • In the stainless steel for a fuel cell, a coating film having an intensity ratio [(OO/OH)/(Cr/Fe)] as determined by X-ray photoelectron spectroscopy analysis of not less than 1.0 is formed on the surface of stainless steel containing not less than 16% by mass of Cr.
    Crを16質量%以上含有するステンレス鋼の表面に、X線光電子分光分析による強度比〔(OO/OH)/(Cr/Fe)〕が1.0以上である皮膜を形成する。 - 特許庁
  • To provide a solid substrate for a sensor suppressing non-specific absorption, especially a substrate for the sensor used for a surface plasmon resonance analysis or the like where the non-specific absorption is controlled.
    非特異吸着を抑制したセンサー用固体基板、特に、非特異吸着を制御した表面プラズモン共鳴分析などに使用するセンサー用基板を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a disk for liquid sample analysis which prevents adhesion on the disk surface of a liquid sample or leak thereof, and has excellent workability at the sample injection time.
    液体試料のディスク面への付着や漏洩を防止することができ、試料注入時の作業性も良好な液体試料分析用ディスクを提供する。 - 特許庁
  • To provide an electrophoretic element for machinery analysis capable of being enhanced in separation efficiency and reduced in size and having a surface modified inner wall high in durability.
    高分離・高効率化が可能で、且つ小型化が可能であり、また、耐久性の高い表面修飾内壁を有する機器分析用電気泳動素子を提供する。 - 特許庁
  • To provide an automatic analyzer having a function of defoaming bubbles generated on a liquid surface, and minimally suppressing the influence on an analysis agent.
    本発明は、液体の表面に生じた泡を消泡し、かつ、分析試薬への影響を最小限に抑える機能を有する自動分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To perform grouping according to a shape of a bolt hole by use of CAD data, and to stick a vertical shell onto a bolt seat surface, so as to produce mesh data allowing high-accuracy numerical analysis.
    CADデータを用いて、ボルト穴の形状に応じてグルーピングするとともにボルト座面に仮想シェルを貼付して、精度高く数値解析できるメッシュデータを作成する。 - 特許庁
  • The oil well pipe screw joint has a constitution that making a residual stress of the bottom of the screw in the axial direction in the depth between the surface reaches to 40μm minus 400 MPa or smaller as a value of the X-ray stress analysis.
    ネジ底部の軸方向残留応力が表面から40μmまでの深さの間、X線応力解析での値として−400MPa以下にする。 - 特許庁
  • Thermal analysis is conducted based on layout data showing how electronic components that meet set conditions are arranged, and the temperature distribution of the printed circuit board surface is computed.
    設定された条件に合致する電子部品が配置されたレイアウトデータに基づいて熱解析を行ってプリント回路基板表面の温度分布を演算する。 - 特許庁
  • To provide a biochemical substance detection method using surface enhanced Raman scattering for detecting presence or content of a biochemical substance contained in an analysis object.
    分析対象が含む生化学物質の存在または含量を検出するための表面増強ラマン散乱を利用した生化学物質検出方法を提供する - 特許庁
  • The unit for biochemical analysis is provided with a substrate and has a plurality of adsorptive regions formed to the substrate to project from a surface of the substrate.
    基板を備え、前記基板に、前記基板の表面から突出する複数の吸着性領域が形成されたことを特徴とする生化学解析用ユニット。 - 特許庁
  • Also, in the analysis chamber, a sample electrode surface 22 for placing a sample 20 is arranged so that distance to a counter electrode 24 is electrically closer than that to a peripheral wall 11.
    また、分析チャンバーは、試料20を載置する試料電極面22を、対向電極24までの距離が周壁11までの距離より電気的に近くなるように配設する。 - 特許庁
  • After that, ultrasonic wave washing is performed to expose the cleaning surface of the electronic element 3 surrounded by the plurality of chips, thereby brought it into a state where electric analysis can be performed.
    その後、超音波水洗を行い、複数チップに挟まれていた電子素子3の表面の清浄面を露出させ、電気的な解析が可能な状態とする。 - 特許庁
  • The periodical disturbance frequency is obtained from a peak component obtained by executing the frequency analysis to the variation of the molten metal surface level and may be automatically set to the notch filter and the band pass-filter.
    湯面レベル変動を周波数解析して得られたピーク成分から周期性外乱周波数を求め、前記ノッチフィルタ、バンドパスフィルタに自動設定するとよい。 - 特許庁
  • An image analysis section 29 extracts the contour of the surface about the examination object based on a medical image showing the form of the examination object within a subject.
    画像解析部29は、被検体内の検査対象物の形態を表す医用画像に基づいて検査対象物についての表面の輪郭を抽出する。 - 特許庁
  • To provide paper for collecting transcription able to record a shape and simultaneously collect surface adherent materials, excellent in maintability of collected materials and having good storability/analysis workability.
    形状記録と同時に表面付着物を採取でき、しかも採取物の保持性に優れ、保管性・分析作業性の良い転写採取用紙を提供する。 - 特許庁
  • After the analysis of the inclusion at that position is completed, the constant-speed move and high-speed beam scanning of the sample stage are resumed and the above operation is executed for the entire surface of a sample.
    その位置における介在物分析終了後再び試料ステージの定速移動と高速ビームスキャンを再開させ、上記動作を試料全面に亘って実行する。 - 特許庁
  • Since a color difference with the liquid in the container becomes clear by changing the color or material of the opposite surface or part of the container, it is possible to perform a stable analysis by an image processor.
    容器の反面又は一部の色又は材質を変えることにより、中に入っている液体の色差が鮮明になり、画像処理装置で安定して分析できる。 - 特許庁
  • One end of the corresponding inter-analysis mesh node vector 29 is shifted to a reference point 44 on a surface 20 of the formed article model 10, so that a first vector 30 can be obtained.
    成形品モデル10の表面20における基準点44に、対応する解析メッシュ節点間ベクトル29の一端をシフトして、第1ベクトル30を求める。 - 特許庁
  • An analysis device 20 for the sample includes a radiation source 26, constituted so as to guide the radiation beam 27 along a beam axis and hit it on the target region of the surface of the sample.
    試料の分析装置20は、放射線ビーム27を、ビーム軸に沿って導き、試料の表面上の目標領域に当てるように構成されている放射線源26を含む。 - 特許庁
  • The absorbance ratio (D_698/D_2850) obtained from the infrared absorption spectrum on the surface of the particle measured by an infrared spectroscopic analysis of the total reflection absorption is in the range of 0.4-5.0.
    全反射吸収の赤外分光分析により測定された粒子表面の赤外線吸収スペクトルから得られる吸光度比(D_698/D_2850)が0.4〜5.0の範囲にある。 - 特許庁
  • An echo data analysis module 4 divides each individual echo data composing the echo data into a plurality of areas including at least a cartilage surface area and a cartilage inside area.
    エコーデータ解析部4は、エコーデータを構成する各個別エコーデータを、少なくとも軟骨表面領域、軟骨内部領域を含む複数領域に区分する。 - 特許庁
  • The quantitative analysis can be carried out using particulate matters as the sampling agent having the surface area of 5-50 m2/g and being made of heat-resistant resin, carbon black or their mixture.
    捕集剤として表面積が5〜50m^2/gの粒子状の耐熱性樹脂又はカーボンブラック又はそれらの混合物を用いることで定量分析が可能になる。 - 特許庁
  • COMPOSITE PARTICLE WITH HIGH DISPERSIBILITY INHIBITING NONSPECIFIC ADSORPTION, COMPOSITE PARTICLE COLLOID, ANALYSIS REAGENT USING THE SAME, PARTICLE SURFACE MODIFICATION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING COMPOSITE PARTICLE
    分散性が高く、非特異的吸着を防止した複合粒子、複合粒子コロイド、それを用いた分析試薬、粒子表面修飾方法、及び複合粒子の製造方法 - 特許庁
  • The method of manufacturing the micro array of the DNA analysis using the thickener is also effective in the case the probe molecule is fixed to the surface of the solid phase carrier by electrostatic coupling.
    なお、この増粘剤を用いるDNA分析用マイクロアレイの製法は、プローブ分子が固相担体表面に静電結合で固定される場合でも有効である。 - 特許庁
  • The analysis means 7 calculates the result of test by using a transmission route of ultrasonic wave determined based on the surface information of the object 2 to be inspected in which the ultrasonic wave is incident.
    解析手段7は、超音波が入射する検査対象2の表面情報に基づいて求めた超音波の伝搬経路を用いて探傷結果を算出する。 - 特許庁
  • To provide a laboratory instrument in which adsorption of a sugar chain compound to the wall surface is suppressed and the sensitivity and accuracy of estimation analysis are enhanced in a research for sugar chain engineering.
    糖鎖工学の研究において、壁面への糖鎖化合物の吸着を抑え、評価解析の感度及び精度を向上させ得る実験器具を提供する事。 - 特許庁
  • The surface treatment is applied to a disposable plastic material used in blood diagnosis (for example, hemostatic analysis) and medical implanting such as arteria sealing.
    本発明による表面処置は、血液診断(例えば、止血分析)ならびに動脈シーリングなどの医学的インプラントにおいて使用されるディスポーザブルプラスチック材料に適用される。 - 特許庁
  • To generate finite element meshes which make it possible to compute an analysis result with higher precision in a shorter time by properly generating the finite element meshes at a surface layer part.
    表層部に適切に有限要素メッシュを生成し、より精度の高い解析結果をより短時間で計算することを可能にする有限要素メッシュを生成する。 - 特許庁
  • Through Raman spectroscopic analysis where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, an LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C is observed.
    表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。 - 特許庁
  • An image of the sample surface is picked up by an imaging part 10, and image data is incorporated into a personal computer 14 used as an image analyzing means, to make an image analysis.
    撮像部10により試料表面の画像を撮像して、画像解析手段であるパーソナルコンピュータ14に画像データを取り込んで画像解析が行なわれる。 - 特許庁
  • To suppress a change in a temperature rising speed by frost adhering onto the outer surface of a correction tube when raising the correction tube from a cooling tank for increasing temperature, and to improve analysis precision.
    捕集管を冷却槽から引き上げて昇温する際に捕集管の外面に付着する霜による昇温速度の変化を抑制し、分析精度を高める。 - 特許庁
  • The surface element analysis is carried out by irradiating a film surface of the photoresist film with X-rays using a photoelectron spectrometer, measuring the amount of generated secondary electrons at an angle of 90° with respect to the film surface, and measuring the respective distribution amounts of fluorine atoms and carbon atoms of the photoresist film.
    (表面元素分析):フォトレジスト膜の膜面に光電子分光装置を使用してX線を照射し、発生する二次電子の量を、前記膜面に対して90°の角度で測定し、前記フォトレジスト膜のフッ素原子と炭素原子のそれぞれの分布量を測定する。 - 特許庁
  • To provide a golf swing analysis and evaluation system performing an analysis and evaluation connecting to a feature quantity of a golf swing such as a head speed right after the swing by calculating a floor surface reaction force and a pressure produced between the sole and the floor surface during the golf swing, and performing an instruction for correcting the golf swing and a recommendation of a golf gear.
    ゴルフスウィング中の足裏と床面との間に発生する床面反力や圧力を計測することによって、ヘッドスピード等のゴルフスウィングの特徴量に結びつく分析、評価をスウィング直後に行ない、さらに、ゴルフスウィングの修正のための指導やゴルフ用具の推薦等を行なうゴルフスウィング分析評価システムの提供。 - 特許庁
  • The microchip 1 comprises: a substrate 30; a flow channel 23 which is formed inside the substrate 30 and whose outlet is made up as an aperture 9c; and an analysis section 10 which includes a portion of a flat surface of the substrate 30 and where an object liquid to be measured spills out of the aperture 9c and remains on the flat surface of the substrate 30 as an analysis sample.
    マイクロチップ1は、基板30と、基板30の内部に形成された流路23と、基板30の平坦な表面の一部からなり、流路23の出口が開口9cとして形成され、その開口9cから溢れ出た測定対象液が基板30の平坦な表面にとどまって分析試料となる分析部10とを備えている。 - 特許庁
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