「surface analysis」を含む例文一覧(773)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 15 16 次へ＞- To provide a method for analyzing, for each layer, a multilayer film on the surface of a substrate by which the multilayer film on the surface of the substrate can be analyzed for each layer, and in particular to provide a method for analyzing each layer of the multilayer film on the surface of the substrate which is suitable for the analysis of impurities for each layer.
基板表面多層膜を各層毎に分析することができる基板表面多層膜の層別分析方法、特に各層毎の不純物の分析に適した基板表面多層膜の層別分析方法を提案する。 - 特許庁 - In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.
測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Ｓの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁 - Then a rotational contact analysis is conducted in which the tire model and the road surface model are contacted and put in relative movement in the amount d (Steps 302 and 304).
そして、タイヤモデルと路面モデルとを接触させて相対的に移動量ｄだけ移動させる回転接触解析を行う（ステップ３０２、３０４）。 - 特許庁 - Furthermore, the H_2O level may be measured and controlled according to a pre-defined amount or according to another parameter such as an analysis of the resulting polymer surface.
Ｈ_2Ｏレベルは、予め定められた量によってまたは得られたポリマー表面の分析などの別のパラメータによって測定および制御されてもよい。 - 特許庁 - To facilitate the examination and grasping for the change and stability of a surface to be evaluated and to allow the precise and objective analysis and evaluation thereof.
評価対象面の変状、安定度に関する調査、把握を簡便に行うことができ、正確かつ客観的に解析、評価を行えるようにする。 - 特許庁 - To carry out an electromagnetic fluid analysis by employing a simple calculation with taking the deformation of a free surface shape of an electrically conductive fluid into consideration.
電気伝導性流体の自由表面形状の変形を考慮しつつ簡単な計算により電磁流体解析が可能となるようにする。 - 特許庁 - To provide an inspection device which requires only a little time for analysis and is capable of efficiently inspecting a wide-range structure surface, and an inspection method using the same.
分析に要する時間がわずかで、効率的に広範囲の構造物表面の検査が可能な検査装置及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁 - The deformation calculation unit 12 continues the repeated calculation by use of the analysis model obtained by subdividing the polyhedral element including the major deformed surface.
そして、大変形面を含む多面体要素が再分割された結果の解析モデルを用いて変形計算部１２に反復計算を続行させる。 - 特許庁 - Since the metal sample contacts the protruding portion, the analysis is possible without being affected due to the ruggedness, even if the ruggedness exists on the surface of the metal sample.
金属試料は突起部と接触するので、金属試料に凹凸が存在しても、凹凸の影響を受けることなく分析することができる。 - 特許庁 - A processing circuit receives the electric signal from the photosensor and makes surface analysis of the workpiece which may include the characterization of defects.
処理回路は、前記光検出要素からの電気信号を受け取り、ワークピースの欠陥の特徴付けを含みえる前記ワークピースの表面分析を行う。 - 特許庁 - To provide a measurement procedure for a surface intensifying Raman spectroscopic analysis, capable of measuring Raman scattering light excellently in sensitivity, repeatability and reliability.
微弱なラマン散乱光を感度良く、再現性、信頼性良く測定できる表面増強ラマン分光分析用の測定手順を提供すること。 - 特許庁 - Thereafter, a physical quantity of the surface element in a global coordinate system of the analysis model is converted to a physical quantity in the local coordinate system (step S15).
その後、解析モデルの全体座標系における表面要素の物理量を、局所座標系における物理量に変換する（ステップＳ１５）。 - 特許庁 - METHOD OF ETCHING SILICON WAFER SURFACE OXIDE FILM, METAL CONTAMINATION ANALYSIS METHOD OF SILICON WAFER WITH OXIDE FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING SILICON WAFER WITH OXIDE FILM
シリコンウェーハ表面酸化膜のエッチング方法、酸化膜付きシリコンウェーハの金属汚染分析方法、および酸化膜付きシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁 - To provide a small-sized electrophorestic device having a short time for analysis, capable of applying a high voltage on a long chain polymer by enlarging its specific surface area.
長鎖高分子を比表面積を大きくして高電圧を印加する事を可能にして、分析時間の短い、小型の電気泳動装置を提供する。 - 特許庁 - In analysis, laser light emitted from a laser light source 1 is reflected by a mirror 2 and introduced into a cell 4 to be applied on the upper surface of a solid sample 8.
分析時にはレーザ光源１から発したレーザ光はミラー２で反射してセル４内に導入され、固体試料８上面に照射される。 - 特許庁 - The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.
本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁 - To provide an inspection device which allows for efficient inspection over a wide range of structure surface in a short analysis time, and an inspection method using the same.
分析に要する時間がわずかで、効率的に広範囲の構造物表面の検査が可能な検査装置及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁 - This slag sampler for analysis is characterized by having hole parts or projection parts, or both of them, and a smooth part, on its cooled surface for sampling slag by deposition.
分析用スラグサンプラは、スラグを付着採取する冷却面に、穴部、凸部の一方もしくは両方および平滑部を有することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a model geometry analysis method for accurately finding a curvature of a surface element even if the number of elements for a shell model is low.
シェルモデルの要素数が少ない場合でも、面要素の曲率を正確に求めることを可能としたモデル形状の分析方法を提供する。 - 特許庁 - Preferably, each spacing between the cells of the battery modules 12 is detected by image analysis of a marker 18 placed on the stack surface of a current collector 16.
好ましくは、集電板１６の積層面に配置されたマーカ１８を画像解析することにより、各単位電池１２のセル間距離を検出する。 - 特許庁 - To provide a means for measuring, simply and efficiently, in-plane distribution of a silicon wafer surface, while keeping high analysis sensitivity and high accuracy.
本発明は、高分析感度及び高精度を維持しながら、シリコンウェハ表面の面内分布を簡便かつ効率的に測定する手段を実現する。 - 特許庁 - Shape information of an inspection aspherical surface 8a is acquired by a shape analysis means 71 based on the acquired image information of each partial domain.
取得された各部分領域の画像情報に基づき、形状解析手段７１において被検非球面８ａの形状情報を求める。 - 特許庁 - To provide a specimen analysis apparatus, capable of correctly determining the suitability of liquid surface detection, even if a reagent container is set to another automatic analyzer.
試薬容器が他の自動分析装置にセットされた場合にも、液面検知の適否を正しく判定することが可能な試料分析装置を提供する。 - 特許庁 - To enhance the running stability of a vehicle by presuming accurately the road surface friction coefficient in precision in a short time without using a method of frequency analysis.
周波数解析の手法を用いることなく、正確にかつ短時間で路面摩擦係数を精度良く推定して、車両の走行安全性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a structure analysis method of a film containing Ga, As, and at least, one type of element being different from Ga and As, and that of its surface oxide film.
ＧａとＡｓと少なくとも１種類の、ＧａおよびＡｓとは異なる元素とを含む膜およびその表面酸化膜の構造解析方法。 - 特許庁 - To provide a program for volume calculation to highly accurately measure the volume of a recessed part or projecting part existing on an object surface by means of image analysis using a computer.
物体表面にある凹部或いは凸部の体積をコンピュータを用いた画像解析で高精度に計測可能な体積算出用プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a new technology realizing simple and highly-sensitive Raman spectroscopic analysis based on surface enhanced Raman scattering (SERS) by utilizing gold nanorod.
金ナノロッドを利用して表面増強ラマン散乱（ＳＥＲＳ）に基づく高感度で簡便なラマン分光分析を可能にする新しい技術を開発する。 - 特許庁 - The linker compound can fix an oligosaccharide chain, inside a ligand onto the support body surface for the protein analysis by a biotin-streptavidin bond by one stage.
上記リンカー化合物は、ビオチン−ストレプトアビジン結合によりリガンド中のオリゴ糖鎖を蛋白質分析用の支持体表面に一段階で固定できる。 - 特許庁 - An image analysis can be performed with a novel algorithm for measuring cells on the surface reflecting the target cell concentration of the original sample.
元のサンプルの標的細胞濃度を反映する、表面上の細胞を計測するための新規のアルゴリズムにより、画像分析を実行することができる。 - 特許庁 - Hereby, noise originated in an organic substance adhering onto the nucleic acid analysis device surface can be reduced, and reliability of base sequence information can be enhanced.
本発明により、核酸分析デバイス表面に付着する有機物由来のノイズを低減でき、塩基配列情報の信頼性を高めることができる。 - 特許庁 - To analyze impurity identification using a focused ion beam, element analysis, composition, crystallinity, and surface boundary state in a minute region of nano-meter order.
集束イオンビームを利用した不純物同定、元素分析、組成、結晶性、表面界面状態をナノメートルオーダーの微小領域で分析可能とする。 - 特許庁 - To provide an analysis method for closely observing adsorption/desorption properties of an adsorptive compound contained in a liquid onto a metal surface.
液体中に含まれる吸着性化合物の金属表面に対する吸着・脱離特性を詳細に観察できる分析方法を提供する。 - 特許庁 - The analysis module also has a laminate layer 318 disposed over the electrode, the electrically conductive trace, the micro-channel and a portion of the upper surface of the insulating substrate.
分析モジュールは、電極、導電性トレース、マイクロチャネル、および、絶縁基板の上面の一部の上に配置されたラミネート層３１８をも含む。 - 特許庁 - The simulation method and program are suitably used, for example, in analysis of a gas reaction of catalyst on a crystal surface by molecular dynamics.
本シミュレーション方法及びプログラムは、例えば触媒などの結晶表面上のガス反応を分子動力学法で解析する際に好適に利用される。 - 特許庁 - The analysis module also includes a conductive contact pad 312 disposed on the upper surface of the insulating substrate and an electrode 314 disposed over a micro-channel.
分析モジュールは、絶縁基板の上面に配置された導電性接触パッド３１２と、マイクロチャネルの上に配置された電極３１４とをさらに含む。 - 特許庁 - This electrochemical analysis inspection strip includes an electrical insulating substrate, and the metal electrode (for example, a gold electrode) provided on the surface of the electrical insulating substrate.
電気化学式分析検査ストリップであって、電気絶縁基板と、その電気絶縁基板の表面に設けられた金属電極（例えば、金電極）を含む。 - 特許庁 - In the surface carbon film, the bond between the carbons has an sp3 bonding/sp2 bonding ratio of 5%-90% by X-ray photoelectron spectroscopic analysis.
該表面炭素膜において、炭素同士の結合が室温のＸ線光電子分光分析でｓｐ３結合／ｓｐ２結合比が５％〜９０％である。 - 特許庁 - the act of systematically moving a finely focused beam of light or electrons over a surface in order to produce an image of it for analysis or transmission
分析または伝達のためそれの画像を生成するために、表面の上に微細に焦束された光芒または電子を組織的に動かすことの行為 - 日本語WordNet - To provide an ultrasonic analysis system capable of acquiring multipoint ultrasonic vibration on an inspection object having a complicated surface shape.
複雑な表面形状をもつ検査対象物上の多点における超音波振動を取得することができる超音波解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device which method contains composition distribution analysis of a vapor deposition film stuck on an inner surface of a contact hole having an aperture of deep submicron order.
ディープサブミクロンオーダーの口径のコンタクトホールの内面に付着した蒸着膜の組成分布分析を含む半導体装置の製造方法。 - 特許庁 - The surface characteristics measuring apparatus provided with the detector for measuring the surface roughness of a workpiece, relatively rotates the workpiece and the detector for measuring surface roughness, inputs the output of the detector when the detector scans the surface of the workpiece to prepare measured data, performs rolling circle undulation filter processing on the measured data when the shape analysis of the workpiece is designated, and then performs the shape analysis.
ワークの表面粗さを測定する検出器を備えた表面性状測定機において、ワークと表面粗さ測定用検出器とを相対的に回転駆動させ、検出器がワークの表面を走査した際に検出器の出力を入力して測定データとし、ワークの形状解析が指定された際に、測定データに転がり円うねりフィルタ処理を施した後、形状解析を行う。 - 特許庁 - This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the developing layer is not broken by 20 times or less of 25g continuous load surface abrasion repetition tests.
水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも１つの機能層と少なくとも１つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該粒状構造物展開層が２５gの連続荷重表面擦り繰り返し試験において２０回以下では破壊しないことを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁 - By control of a control part, a dispensing probe 116 sucks the vapor of a volatile material 130 in the first reagent container 130, discharges the sucked vapor to an upper part of an analysis agent in the second reagent container 140, detects a liquid surface of an analysis agent 141, sucks the analysis agent 141, and discharges the sucked analysis agent in a reaction vessel 150.
分注プローブ１１６は、制御部の制御により、第１の試薬容器１３０において揮発性物質１３０の蒸気を吸引し、第２試薬容器１４０において分析用試薬上部に吸引した蒸気を吐出し、分析用試薬１４１の液面検知を行い、分析用試薬１４１を吸引し、反応容器１５０において吸引した分析用試薬を吐出することにより上記課題を解決する。 - 特許庁 - The micro fluid chip includes: a channel that separates an analysis target substance by electrophoresis and is provided on the surface of a substrate section to add the reaction reagent to the analysis target substance separated by the electrophoresis by a nozzle; and an absorption region that is provided on the surface of the substrate section excluding the channel and absorbs the reaction reagent.
マイクロ流体チップは、分析対象物質を電気泳動により分離し、電気泳動により分離した分析対象物質に対してノズルを用いて反応試薬を添加するために基板部表面に設けられた流路と、流路を除く基板部表面に設けられ、反応試薬を吸収する吸収領域と、を有する。 - 特許庁 - To provide a powder holder, measuring sample manufacturing method, and sample analysis method which can easily manufacture test samples, even for powder to achieve enhancement in the measuring efficiency, in the analysis requiring smoothness of sample surface.
試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide-electron-optical equipment capable of developing magnetic anisotropy toward a cathode axis direction (traveling direction of spin polarization electrons) and thereby capable of efficiently carrying out the measurement of a spin polarization rate and an analysis/surface analysis of a magnetic material sample.
陰極軸方向（スピン偏極電子の進行方向）への磁気異方性を発現することができ、もってスピン偏極率の測定や磁性体試料の解析・表面分析などを効率よく行うことが可能な電子光学機器を提供すること。 - 特許庁 - An analysis model forming section 11 forms an analysis model where rubber display cells formed of rubber molecule cells, cross-linking point cells, and filler cells are arranged at random, and frictional surface display cells are arranged adjacently to the rubber display cell arranged on the lowest part.
解析モデル形成部１１は、ゴム分子セル、架橋点セル及び充填材セルからなるゴム表示セルがランダムに配置されるとともに、最も下方に配置されたゴム表示セルに隣接して摩擦面表示セルが配置された解析モデルを形成する。 - 特許庁 - The sample S is almost isotropically excavated by vibration while rotated at random, the analysis of a component in a radial direction due to glow discharge emission analysis become possible and surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.
振動によって試料Ｓはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの表面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁 - This analysis object material extraction device includes: a container for storing extraction liquid for extracting the analysis object material from the surface to be measured including the analysis object material; an opening part provided on the container, for bringing the surface to be measured into contact with the extraction liquid; and at least either of a circulation means for circulating the extraction liquid in the container and a vibration means for vibrating the extraction liquid in the container.
分析対象物質を含む被測定面から分析対象物質を抽出する抽出液を収容するための容器と、容器に設けられた、被測定面と抽出液とを接触させるための開口部と、容器内の抽出液を循環する循環手段と容器内の抽出液を振動させる振動手段とのうち少なくとも１つと、を備える分析対象物質抽出装置である。 - 特許庁 - The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has pseudo graphite crystal structure in which the stacked structure ratio based on the peak intensity of <002> diffraction as determined by X-ray analysis is 0.50-0.90, and the amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis is 0.2-1.2% of the number of carbon atoms on the whole surface.
水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、Ｘ線広角解析より求めた＜００２＞回折のピーク強度に基づく積層構造比が０．５０〜０．９０である擬黒鉛結晶構造を有し、ＸＰＳ表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の０．２〜１．２％であることを特徴とする。 - 特許庁
