「surface analysis」を含む例文一覧(773)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 15 16 次へ＞- To enable high-accuracy refracted wave surface measurement, adjusting an image obtained by refracted wave surface measurement to an image more suitable for analysis.
屈折波面計測によって得られる画像を、より解析に適した画像に調整し、高精度の屈折波面計測を可能とする。 - 特許庁 - To provide a surface analysis apparatus capable of highly accurately analyzing the surface of a sample in a short time through the use of multi-charged ions.
多価イオンを用いて、試料表面の分析を高精度で短時間に行うことができる表面分析装置を提供する。 - 特許庁 - The skin thickness, a surface figure of the skin, viscoelasticity feature of the skin or inner tissue structure of the skin is suitable example for the skin characteristics, and a PLS analysis or a main ingredient analysis is a suitable example for the multivariate analysis.
皮膚性状としては、皮膚の厚さ、皮膚表面形態、皮膚粘弾特性又は皮膚内部組織構造が好適に例示出来、多変量解析としては、ＰＬＳ分析或いは主成分分析が好適に例示出来る。 - 特許庁 - Contamination from the non-etched area of the surface layer of the semiconductor substrate is prevented to perform impurity analysis.
半導体基板の表層の未エッチング領域からの汚染を防止して、不純物分析を行なう。 - 特許庁 - To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy.
試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析器を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING COLOR ANALYSIS OF TONER IMAGE ON IMAGE SUPPORT SURFACE USING SPECTROPHOTOMETER
分光光度計によって画像支持面上のトナー画像のカラー解析を行うためのシステム及び方法 - 特許庁 - The analysis module includes an insulating substrate 306 and a micro-channel 310 within the insulating substrate's upper surface 308.
分析モジュールは、絶縁基板３０６と、絶縁基板の上面内３０８のマイクロチャネル３１０とを含む。 - 特許庁 - IFN-CONTAINING HEPATIC FUNCTION-IMPROVING AGENT ADMINISTERED BASED ON HAPLO TYPE ANALYSIS OF SURFACE ANTIGEN-PRESENTING MOLECULE
表面抗原提示分子のハプロタイプ解析に基づいて投与されるＩＦＮ含有肝機能改善剤 - 特許庁 - QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD FOR SURFACE THICKENED CARBON AMOUNT OF TITANIUM PLATE AND QUALITY MANAGEMENT METHOD FOR TITANIUM PRODUCT
チタン板の表面濃化炭素量の定量分析方法およびチタン製品の品質管理方法 - 特許庁 - By this sample analysis method, even if the observation surface of the sample is not coated with the conductive film, the occurrence of an abnormal analysis results associated with the charge of the sample can be avoided.
この分析方法によれば、導電膜を試料の観察面にコーティングしなくても、試料の帯電に伴う異常な分析結果の発生を回避することができる。 - 特許庁 - To provide a deformation analysis method and a deformation analysis device under the consideration of a phenomenon in which a polishing member surface is scraped off due to dressing under polishing.
研磨中のドレッシングによる研磨部材表面が削り取られる現象を考慮することのできる変形解析方法および変形解析装置を提供する。 - 特許庁 - In a method for forming a semiconductor substrate for analysis (standard semiconductor wafer for analysis), an Si-OH group is formed by hydrophilic treatment on the surface of a silicon substrate.
分析用半導体基板（分析用標準半導体ウエーハ）の形成方法において、まずシリコン基板の表面に親水性処理によりSi-OH基を形成する。 - 特許庁 - To provide a detection surface for biosensors used for a surface plasmon resonance analysis in which the variations in a signal change at a position in a chip are small.
チップ内の位置による信号変化のバラツキが小さい表面プラズモン共鳴分析で用いるバイオセンサー用検出表面を提供する。 - 特許庁 - This sintered zirconia compact has peak intensity ratios as described in the description as determined by EDS surface analysis of a surface crystal grain boundary.
ジルコニア焼結体は、表面の結晶粒界におけるＥＤＳ表面分析において、明細書中に記載のピーク強度比を有する。 - 特許庁 - SILICON ELIMINATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE, LIQUID SAMPLE EXTRACTION METHOD FOR REGION UNDER SURFACE LAYER OF SILICON WAFER, AND ANALYSIS METHOD FOR METAL IMPURITY IN THE REGION
シリコンウェーハ表面の珪素脱離方法、シリコンウェーハ表層下領域の液体サンプル採取方法及びその金属不純物分析方法 - 特許庁 - The presence of the organic contamination is evaluated by dyeing the principal surface of the glass substrate and using an optical surface analysis method.
そしてこの有機コンタミネーションの有無の評価は、前記ガラス基板主表面を染色処理し、光学式表面分析法を用いて行う。 - 特許庁 - Then, the outer surface 15 of the specimen 10 where the Newton rings are observed is fixed on a sample holder 50 of an analysis device, and in this condition the analysis region is set inside the most inner Newton ring on the ground surface 16 of the specimen 10, and then the analysis of the profile of element is carried out.
そして、ニュートンリングが観測された試料１０の表の面１５を分析装置のサンプルホルダ５０に固定し、この状態で当該試料１０の研磨面１６の最内周ニュートンリングの内部に分析領域を設定して、元素プロファイルの分析を行う。 - 特許庁 - To provide a method for the quantitative analysis of a very small amount of an element in the surface of an aluminum foil by glow discharge emission analysis, capable of performing the quantitative analysis of a very small amount of a metal element present in the surface of the aluminum foil easily and accurately, and capable of being employed in process control in an aluminum foil manufacturing process.
容易にしかも正確にアルミ箔表面に存在する微量金属元素を定量することができ、これによってアルミ箔の製造工程における工程管理で採用できるグロー放電発光分析によるアルミ箔表面の微量元素分析法を提供する。 - 特許庁 - This method of sampling slag for analysis is characterized in that the slag sampler is immersed in molten slag and pulled up within 10 seconds and solidified deposit slag is peeled off, and the smooth surface is fast cooled and used as an analysis surface.
また、分析用スラグ採取方法は、該スラグサンプラを溶融スラグに浸漬して、１０秒以内に引き上げ、付着した凝固スラグを剥離して、急冷された平滑面を分析面として供することを特徴とする。 - 特許庁 - To perform the analysis with high precision at a plurality of places approaching the surface of a sample by preventing the adhesion of primary ions to the peripheral region of the analyzing region on the surface of the sample when secondary ion mass analysis is performed.
二次イオン質量分析を行なう際に、試料面における分析領域の周辺部位への一次イオンの付着を防止し、試料面の近接する複数箇所における高精度の分析を行なう。 - 特許庁 - To conduct elementary analysis in a sample electrode surface and in a site deeper than the surface without carrying out etching, in analysis using total reflection photoelectron spectroscopy.
エッチングを行うことなく、全反射光電子分光法を用いた分析で、試料極表面とそれより深いところの元素分析を行うことができる試料分析方法および試料分析装置を提供すること。 - 特許庁 - The side surface of the columnar sample S is axisymmetrically excavated and the analysis of a component due to glow discharge emission analysis becomes possible and the side surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.
円柱状の試料Ｓの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの側面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁 - To allow shape analysis and surface roughness analysis on the basis of the output of a detector for measuring the surface roughness of a workpiece, thereby eliminating time and effort to exchange the detector with one for shape measurement, and hence to improve measurement efficiency and to allow analysis under the same environmental conditions, thereby allowing high-precision measurement and analysis.
本発明の目的は、ワークの表面粗さを測定する検出器の出力に基づいて、形状解析と表面粗さ解析を行えるようにして、検出器を形状測定用に交換する手間を不要とし、測定能率を向上させると共に同一環境条件下での解析を可能として測定・解析の高精度化を可能とする。 - 特許庁 - Through the use of a sample container 1 for biochemical analysis in which a plurality of recessed parts 2 are formed at pitch intervals W of 500 μm or less on the surface of a plate-shaped body made of glass and/or ceramic, biochemical analysis such as DNA analysis is performed.
ガラスおよび／またはセラミックスからなる板状体表面に複数の凹部２を５００μｍ以下のピッチ間隔Ｗにて形成した生化学分析用試料容器１を用いてＤＮＡ分析等の生化学分析を行う。 - 特許庁 - Hereby, the sample 10 for analysis suitable for analyzing the surface state and the state of a plane parallel to the surface by using a SEM or a TEM can be formed easily and highly accurately without fouling the surface of an analysis object film pattern 14.
これにより解析対象膜パターン１４の表面を汚すことなく、ＳＥＭやＴＥＭなどを用いた表面状態および表面と平行な面内における状態の解析に好適な解析用試料１０を、高精度かつ容易に形成することができる。 - 特許庁 - To improve the accuracy of the analysis of electrodeposition coating for analyzing the deposited quantity of a coating film on the surface of a material to be coated.
被塗装物表面の塗膜析出量を解析する電着塗装解析の精度向上を図る。 - 特許庁 - To provide a method for using results obtained from a finite element analysis in order to guide surface simplification.
面の簡略化を案内するのに有限要素分析から得られた結果を使用する方法を提供すること。 - 特許庁 - SPUTTERING SURFACE FLATNESS EVALUATION METHOD AND RESOLUTION EVALUATION METHOD IN GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS
グロー放電発光分光分析におけるスパッタ面の平坦性の評価方法及び深さ分解能の評価方法 - 特許庁 - In addition, the electrochemical analysis inspection strip includes an enzyme reagent layer provided on the upper surface of the metal electrode.
加えて、この電気化学式分析検査ストリップは、金属電極の上面に設けられた酵素試薬層を含む。 - 特許庁 - PRODUCTION METHOD OF SUBSTRATE FOR SURFACE ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPIC ANALYSIS, MANUFACTURING METHOD OF MICRO-TAS, AND THE MICRO-TAS
表面増強ラマン分光分析用基板の作成方法、マイクロＴＡＳの製造方法、及び、マイクロＴＡＳ - 特許庁 - To provide a surface analysis device, capable of displaying the shape and loading state of a sample holder on a stage map.
試料ホルダの形状や搭載状態を、ステージマップ上に表示できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁 - The mounted type lens for reverse surface analysis includes the shape of the rest after a part of a solid sphere is cut with one flat surface, and has a semispherical concave (1c) in a cut surface (1b).
この裏面解析用搭載式レンズは、中実の球体の一部を１つの平面で切除した残部の形状を含み、該切除面（１ｂ）にさらに半球状の凹み（１ｃ）を有する。 - 特許庁 - The carbon electrode material preferably has an amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis of 0.2% or more and 1.2% or less of the number of carbon atoms on the whole surface.
当該炭素電極材は、ＸＰＳ表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の０．２％以上１．２％以下であることが好ましい。 - 特許庁 - To provide an analysis method capable of carrying out typing a plurality of surface antigens at once which develop in a cell, finding unknown surface antigens, and checking development patterns of known surface antigens.
細胞に発現する複数の表面抗原を一挙にタイピングし、未知の表面抗原を見出し、既知の表面抗原の発現パターンを調べるための分析方法を提供すること。 - 特許庁 - The surface roughness of the analyzing surface of a measuring sample and that of a part, which comes into contact with the analysis surface of the measuring sample, of an emission stage 5 are respectively set to Rmax≤10 μm.
測定試料の分析面の表面粗度及び、発光ステージ５がこの測定試料の分析面に接触する部分の表面粗度をいずれもRmax≦１０μｍの平滑面とする。 - 特許庁 - To provide a tire performance analysis system capable of accurately analyzing tire performance by road surface modeling a road surface as an elastic element and a viscous-elastic element.
路面を弾性体及び粘弾性体として路面モデル化して正確なタイヤ性能解析を行うことができるタイヤ性能解析システムを提供する。 - 特許庁 - The sample etched to a predetermined depth in the specific regions of the substrate surface is prepared by using this etching device, and the analysis of the etched surface is carried out.
このエッチング装置を用いて、基板表面の特定領域を所定深さエッチングした試料を作製し、そのエッチング表面の分析を行う。 - 特許庁 - To provide a prism with a metal membrane, having a flat surface of micrometer order and being suitable for spectral analysis which utilizes surface plasmon resonance phenomenon.
マイクロメートルオーダーで平坦な表面を有し且つ表面プラズモン共鳴現象を利用した分光分析に好適な金属薄膜を備えたプリズムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface.
平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁 - In the analysis of a large sample, the cover case 10 from which the lid member 16 is removed is lowered, and the analysis is performed in the state where the sample upper part is protruded from the upper end surface of the cover case 10.
一方、大形試料を分析する際には蓋部材１６を取り外したカバーケース１０を下降させ、その上端面から試料上部が突出した状態で分析を行う。 - 特許庁 - Analysis simulation is performed by a finite element method (FEM) according to a predetermined analysis program to acquire data of tire axle force, tire shape and tire surface vibration (step ST6).
予め定められた解析プログラムに従って、有限要素法（ＦＥＭ）により、解析シミュレーションを行い、タイヤ車軸力、タイヤ形状、及びタイヤ表面振動のデータを取得する（ステップＳＴ６）。 - 特許庁 - An analysis condition such as a boundary condition in the analysis model C is input (S103), aerodynamic calculation on the surface of the shape model B of the vehicle body divided into elements is performed using the analysis model C, and a force acting on each element is calculated (S104).
解析モデルＣにおける境界条件等の解析条件が入力され（Ｓ１０３）、解析モデルＣを用い、要素化した車体の形状モデルＢの表面における空力計算を行って、各要素に作用する力を計算する（Ｓ１０４）。 - 特許庁 - An amorphous carbon wafer to be purified is brought into contact with a molten liquid of diboron trioxide glass, an element for disturbing analysis, existing on the surface of the wafer and in a shallow layer near the surface, is absorbed into a liquid, cooled and rinsed and then purified by heated ultrapure water, and the analysis surface is made hydrophobic.
純化対象のアモルファスカーボンウェーハを三酸化二ホウ素ガラスの熔融液に接触させて、該ウェーハの表面並びに表面近くの浅い層にある分析を妨害する元素を液に吸出させ、冷却後加熱した超純水でリンスして純化し、分析面を疎水性化する。 - 特許庁 - To provide an unequally divided montage face analysis method by surface analysis equipment so that an efficient analysis measurement can be made by collectively measuring a part without a height difference, and performing measurement while thinly dividing only a part with a height difference for a sample with the height difference for only a specific part within the analysis range.
分析範囲のうち特定部分だけに高低差がある試料に対して、高低差がない部分は一括して測定し、高低差がある部分だけ細密に分割して測定し、効率のよい分析測定が行えるようにした表面分析機器による非等分割モンタージュ面分析法を提供する。 - 特許庁 - An electric circuit 30 amplifies the surface wave received by the receiver 13 to supply it to an analysis part 40.
電気回路３０は、表面波受信子１３で受信した表面波を増幅して、解析部４０に供給する。 - 特許庁 - Heat conduction analysis is performed for the sample data with the skin surface temperature of the object person for measurement as a constraint condition (ST 120).
サンプルデータに対し、測定対象者の皮膚表面温度を拘束条件として熱伝導解析を行う（ST120）。 - 特許庁 - On the basis of the result of this analysis, a three-dimensional dendrogram is constructed on a basic surface, and a projection image thereof is generated.
当該分析の結果に基づいて、基礎面上に三次元デンドログラムを構築し、その投影画像を生成する。 - 特許庁 - To remove a noise from a detected signal to conduct accurate analysis, in a biosensor, in particular, in a surface plasmon sensor.
バイオセンサ、特に、表面プラズモン共鳴センサにおいて、検出した信号からノイズを除去し、正確な分析を行なう。 - 特許庁 - To position a target observation/analysis easily and accurately in a surface observation analyzer.
表面観察分析装置において、目的とする観察・分析部位の位置決めを簡単且つ正確に行えるようにする。 - 特許庁 - On the surface treatment layer coating the substrate, the oligonucleotide or DNA fragment is carried for gene analysis.
この固体支持体の表面処理層の被膜上に、オリゴヌクレオチドまたはＤＮＡ断片を担持させ遺伝子を解析する。 - 特許庁
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