「surface analysis」を含む例文一覧(773)
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物体の応力は、表面メッシュに確定される対向するシェル要素２０、２２を介して、有限要素分析によってモデリングされる。 - 特許庁 - To simultaneously provide an unevenness image of a sample surface in the same visual field for an EPMA analysis image or an SEM observation image in an electron beam analyzer.
電子線分析装置において、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時に得る。 - 特許庁 - REACTION CELL, BIOCHEMICAL AND/OR IMMUNOLOGICAL AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS EMPLOYING THE SAME, AND METHOD FOR REFORMING SURFACE OF INNER WALL OF THE SAME
反応セル、これらを備えた生化学的及び／又は免疫学的自動分析装置、並びに反応セルの内壁部表面改質方法 - 特許庁 - Additionally, the video camera 30 receives reflection light, performs an analysis by an image processing apparatus 2, and obtains a surface, where the slit light 131 is located.
次に、ビデオカメラ３０による通常撮影で画像を取得し、キャリブレーションデータを使って計測点Ｑを通る視線を求める。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for magnetic structure analysis for sorting an element and an atom layer in the uppermost surface 2-3 atom layer.
最表面２〜３原子層における元素と原子層とを選別した磁気構造解析を行う方法とその装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain samples from surface array spots having analytes by the automated sampling system and a method of analysis using an electronic spray.
エレクトロスプレーを基にした自動サンプリングシステムおよび分析方法によって、被分析物を有する表面アレイスポットから試料を得る。 - 特許庁 - ELECTROCARDIOGRAM ANALYSIS APPARATUS FOR ANALYZING BODY SURFACE ELECTROCARDIOGRAM AND CREATING TWO-DIMENSIONAL FUNCTIONAL DIAGRAM ON T-WAVE ALTERNATING PULSE OR FIBRILLARY WAVE
体表面心電図を解析し、Ｔ波交互脈または心房細動波に関する２次元機能図を生成する心電図解析装置 - 特許庁 - More concretely, a reducing speed of a surface area of the liposome is calculated by image analysis and the irritant properties of the test substance are evaluated.
より具体的には、リポソームの表面積の縮小スピードを画像解析により算出し、被験物質の刺激性を評価する。 - 特許庁 - There are disclosed a method and an apparatus for forming a sample of an object, extracting the sample from the object and allowing the sample subjected to a microanalysis including a surface analysis and an electron transmittance analysis in a vacuum chamber.
物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。 - 特許庁 - Since the plurality of beams of the pulse laser light L can be irradiated onto the plurality of spots on the surface of the analysis object 13, acquired fluorescence intensity can be heightened, and equalized because fluorescence can be acquired from a wide range of the analysis object 13.
複数本のパルスレーザ光Ｌを分析対象物13の表面の複数箇所に照射できるため、得られる蛍光強度を大きくでき、分析対象物13の広範囲から蛍光が得られて平均化できる。 - 特許庁 - To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.
オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁 - There is provided a mounted type lens (1) for reverse surface analysis which is used while mounted on a semispherical substrate integrated type SIL (2c) formed on a substrate reverse surface (2b) of a semiconductor device (2).
半導体装置（２）の基板裏面（２ｂ）に形成した半球状の基板一体型ＳＩＬ（２ｃ）の上に搭載して使用するための裏面解析用搭載式レンズ（１）である。 - 特許庁 - To achieve a particle behavior analysis with high accuracy by reducing the effect of position deviation between a place boundary and a motion boundary corresponding to a wall surface in consideration of impact force receiving from the wall surface.
壁面から受ける作用力を考慮しつつ、壁面に対応する場境界と運動境界の位置ズレの影響を緩和し、高精度の粒子挙動解析を実現する。 - 特許庁 - To provide a surface acoustic wave device of high quality which can facilitate the inspection, measurement, analysis of failures, etc., of a surface acoustic wave element that is mounted on a base.
ベース21に実装した弾性表面波素子11に対して、例えば検査、測定および不良解析などを容易に実施でき、品質の高い弾性表面波装置を提供する。 - 特許庁 - The apparatus for analysis of a sample includes a radiation source, which is adapted to direct a converging beam of X-rays toward a surface of the sample and to direct a second collimated beam of the X-rays toward the surface of the sample.
試料分析装置は、第１のＸ線収束ビームを試料表面に向け、第２のＸ線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。 - 特許庁 - While, the flow velocity on the surface is determined based on the PIV analysis, the surface flow velocity data and relevant data are extracted from the database, and the river flow rate is calculated in real time.
一方、ＰＩＶ解析に基づいて、表面の流速を求め、その表面流速データと関連するデータを前記データベースから引き出し、リアルタイムに河川流量を算出することとした。 - 特許庁 - To provide a local analysis method for locally analyzing a substrate surface with high sensitivity and high precision, particularly suitable for analyzing impurities on the substrate surface.
基板表面局所を高感度かつ高精度で分析することができる基板表面の局所分析方法、特に基板表面不純物に適した局所分析方法を提案する。 - 特許庁 - This surface-strengthened tool for vibration spectral analysis for performing vibration spectral analysis is characterized in that this tool is equipped with a substrate fitted with a backing film 12 on which columnar structures 11 are arranged, and that a metallic film 14 is deposited on the surface of each of the columnar structures 11.
振動分光分析を行うための表面増強振動分光分析用治具において、柱状構造体１１が配列された下地膜１２付きの基体を備え、柱状構造体１１の表面には金属膜１４が付着していることを特徴とする。 - 特許庁 - Ozone gas treatment or ozone gas treatment and irradiation with ultraviolet rays are conducted in a treatment vessel, so as to prevent the contact of the surface of the sample with the atmosphere, and the cleaned state of the surface of the sample is evaluated through a nondestructive surface analysis method.
オゾンガス処理、あるいはオゾンガス処理と紫外線照射は、表面分析用試料の表面が大気に触れないように、処理容器の中で行い、非破壊表面分析法により表面の清浄化の状態を評価する。 - 特許庁 - In a substrate 1 for impurity analysis, on which impurities of an inorganic or organic type in the air of a clean room are adsorbed, a main surface 2 to be used as an impurity adsorbing surface is formed by etching or the like into a rough surface 3.
クリーンルーム気中の無機系、有機系の不純物を分析するために不純物を吸着させる不純物分析用基板１において、不純物の吸着面となる主面２をエッチング等により凹凸面３とする。 - 特許庁 - To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.
試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁 - The surface analysis apparatus analyzes the composition of a base material M1 and an add-in material M2 as the components composing the surface to be measured SP based on the intensity of the reflected light Lr from the surface to be measured SP with a control device 20.
表面分析装置は、被測定面ＳＰからの反射光Ｌｒの強度に基づいて同被測定面ＳＰを構成する成分としての母材Ｍ１と添加材Ｍ２の構成を制御装置２０にて分析する。 - 特許庁 - The analysis mesh generation device for generating analysis mesh data used for analysis of the analysis object from shape mesh data showing the surface shape of the object comprises a ridge line shape reproduction processing part 105, so that the shape of the ridge line in the shape mesh data can be reproduced based on a characteristic ridge line determined for the shape mesh data.
解析対象物の表面形状を表現する形状メッシュデータから前記対象物の解析に用いる解析メッシュデータを生成する解析メッシュ生成装置について、稜線形状再生処理部１０６を設け、形状メッシュデータについて求めた特徴稜線に基づいて形状メッシュデータにおける稜線の形状を再生させることができるようにしている。 - 特許庁 - An adjusting sample 18 is mounted on an exchanger 7 of a primary X-ray filter 6 and is located simply near the position of sample surface at analysis.
調整試料１８を１次Ｘ線フィルター６の交換機７に取り付け、簡単に分析時の試料表面位置の近傍に位置させる。 - 特許庁 - To provide a deterioration analysis method capable of analyzing a deterioration state of a polymer material, in particular, the deterioration state of a surface state in detail.
高分子材料の劣化状態、特に表面状態の劣化状態について、詳細に解析できる劣化解析方法を提供する。 - 特許庁 - Analysis while measuring directly the sample temperature is enabled without being influenced by the thermocouple by the surface contact in this way.
このように面接触することによって、熱伝対の影響を与えることなく試料温度を直接測定しながらの分析が可能である。 - 特許庁 - The deposition of the carbon based thin film is confirmed regarding the surface of the silicon substrate, and the fact that it is a DLC thin film is confirmed from an analysis result according to Raman spectroscopy.
シリコン基板上に炭素系薄膜の堆積を確認し、ラマン分光法による分析結果からDLC薄膜であるとことを確認した。 - 特許庁 - STRUCTURE ANALYSIS METHOD OF FILM CONTAINING GA, AS, AND AT LEAST ONE TYPE OF ELEMENT BEING DIFFERENT FROM GA AND AS AND ITS SURFACE OXIDE FILM
Ｇａと、Ａｓと、少なくとも１種類のＧａおよびＡｓとは異なる元素とを含む膜およびその表面酸化膜の構造解析方法 - 特許庁 - The height of the fine waving on the above waving is measured by using a three dimension surface structure analysis microscope and expressed by a coercivity curve.
うねり上に発生した微小うねりの高さは三次元表面構造解析顕微鏡を用いて測定され、粗さ曲線で示される。 - 特許庁 - When the characteristics are analyzed, variation in characteristics of an end surface incidence type photodetecting element due to cleavage is reflected on the circuit simulation for the analysis.
また、特性を解析するにあたり、劈開による端面入射型受光素子の特性変化を回路シミュレーションに反映させて解析する。 - 特許庁 - As determination of the physicochemical variation, determination of hydrophilic chemical species on the polymer material surface by spectroscopic analysis can be used.
前記物理化学的変化量の定量としては前記高分子材料表面上の親水性化学種の分光分析による定量がある。 - 特許庁 - An apparatus for preparing the deformation analysis model of an injection-molded product having a double layer structure comprising a base layer and a surface layer is embodied.
本発明は、基材層と表皮層の二層構造を有する射出成形品の変形解析モデルを作成する装置に具現化される。 - 特許庁 - By this analysis method, it is possible to obtain information on only a compound adsorbed onto a metal surface without influence from a liquid.
この分析方法によれば、液体の影響を受けずに金属表面に吸着した化合物のみの情報を得ることが可能となる。 - 特許庁 - To provide a road surface roughness detector based on a detection signal from a sensor even when any frequency analysis (FFT: Fast Fourier Transform) or the like is not performed.
周波数分析（ＦＦＴ）などを行わなくても、センサからの検出信号に基づいて路面粗さの検出を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for immobilization, analysis and recovery advantageous for a biosubstance, and a surface plasmon sensor capable of making the best use of a merit of the method.
生体物質の有利な固定化、解析、回収方法と、この方法の利点を活かした表面プラズモン共鳴センサーを提供する。 - 特許庁 - The plurality of beams of the pulse laser light L transmitted through the plurality of optical fibers 22 are irradiated onto a plurality of spots on the surface of an analysis object 13.
複数本の光ファイバ22で伝送する複数本のパルスレーザ光Ｌを分析対象物13の表面の複数箇所に照射する。 - 特許庁 - To provide an extraction method of a sample piece for analysis capable of obtaining a clean peeling surface free from processing strain in the fine sample piece.
微小な試料片において、加工歪のない清浄な剥離面を得ることができる分析用の試料片抽出方法を提供する。 - 特許庁 - As an analysis result, displacement of the spherical surface and a spherical inside, a snapshot of strain or a stress value, or a time history waveform can be obtained.
また解析結果として球表面および球内部の変位、ひずみまたは応力値のスナップショット、または時刻歴波形を得ることができる。 - 特許庁 - This system for sample analysis contains a radiation source, matching for guiding a converged beam of X-rays toward the surface of the sample.
サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってＸ線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。 - 特許庁 - On a mesh generation method, which generates the polygon mesh for CAE analysis using a surface model that is created by CAD and describes surface form of a certain material with plural surfaces, a computer 1 generates point group data, which is distributed all over the surface, according to the surface model.
ＣＡＤにより作成され、ある部材の表面形状を複数のサーフェスで表現したサーフェスモデルを用いて、ＣＡＥ解析用のポリゴンメッシュの生成するメッシュ生成方法において、コンピュータ１は、サーフェスモデルに基づいて、サーフェス上に点群が全体的に分布した点群データを生成する。 - 特許庁 - When the sample 6 is given in executing the analysis, a sample identification part 18 recognizes the sample number thereof, an image processing part 21 detects a defective part by the image of the analysis surface of the sample 6 obtained by a CCD camera 12.
分析実行時に試料６が与えられると試料識別部１８がその試料番号を認識し、が層処理部２１はＣＣＤカメラ１２により得られた試料６の分析面の画像により欠陥部を検出する。 - 特許庁 - A plurality of extraction algorithms A-D different in the number of analysis parts set on an analysis surface of a sample, an initial position, an avoiding method when a defective part is present, and the like are previously stored in an extraction information storage part 22.
試料の分析面上に設定する分析個所の数、初期的な位置、欠陥部が存在した場合の回避方法などが相違する複数の抽出アルゴリズムＡ〜Ｄを抽出情報記憶部２２に記憶させておく。 - 特許庁 - The echo data analysis module 4 computes the relative ratio of individual echo data of the cartilage surface area and individual echo data of the cartilage inside area, and the relative ratio data is calculated and output as an analysis data with the echo data to a display module 5.
エコーデータ解析部４は、軟骨表面領域の個別エコーデータと軟骨内部領域の個別エコーデータとの相対比を演算し、相対比データを算出し、エコーデータとともに解析データとして表示器５へ出力する。 - 特許庁 - To enable the analysis, fluorescent X-ray analysis and X-ray diffraction analysis of an object to be inspected which has concaves and convexes on its surface by making it possible to prolonging the working distance from an opening end on the emission side to the object to be inspected.
出射側開口端から被検査体までの作動距離を長くすることができ、表面に凹凸がある被検査体の分析、蛍光Ｘ線分析、Ｘ線回折分析を被検査体の大きさに拘わらず行うことができるＸ線集束素子及び該Ｘ線集束素子を備えるＸ線照射装置を提供する。 - 特許庁 - The signal-processing means performs a plurality of processes, i.e., (a) a multi-phase analysis for a phase surface figure of the electrocardiogram signal, (b) a spectrum analysis for the electrocardiogram signal and (c) an analysis of an APD recovery curve which is computed in response to the electrocardiogram signal, in order to determine whether the electrocardiogram signal indicates the heart disease or not.
前記信号処理手段は、心電図信号が心臓疾患を指示するか否か決定するため、次の複数の処理、即ち、(ａ)心電図信号の位相面図の多相解析、(ｂ)前記心電図信号のスペクトル解析、及び(ｃ)前記心電図信号に応じて演算されたＡＰＤ回復曲線の解析を行う。 - 特許庁 - According to the road surface roughness detection method, the road surface roughness can be detected based on the detection signal of the acceleration sensor 22 even when the frequency analysis (FFT) or the like is not performed.
このような路面粗さの検出方法によれば、周波数分析（ＦＦＴ）などを行わなくても、加速度センサ２２の検出信号に基づいて路面粗さを検出することが可能となる。 - 特許庁 - The first node moving means moves each mesh node of the surface layer in a plate thickness direction in accordance with a deviation in the plate thickness of the surface layer calculated by the fluid analysis means from a design value.
第１節点移動手段は、流動解析手段によって算出された表皮層の板厚の設計値に対する偏差に応じて、表皮層の各メッシュ節点を板厚方向に移動させる。 - 特許庁 - When analysis is performed by a single- beam measurement device, a magnetic-layer side surface of a floppy disk as a sample S is brought into close contact with a bottom surface of the prism at a contact pressure of 10 kgf/cm2 or less.
シングルビーム測定装置による分析に際しては、サンプルＳとしてのフロッピーディスクの磁性層形成側の表面をプリズム底面に接圧１０ｋｇｆ／ｃｍ^2以下で密着させる。 - 特許庁 - A nozzle descent distance is calculated based on information regarding the nozzle penetration distance of the analysis condition setting part 32 and the liquid surface position information of the liquid surface detection part 34 by a nozzle descent distance calculation part 30.
ノズル下降距離算出部３０により、分析条件設定部３２のノズル侵入距離に関する情報及び液面検知部３４の液面位置情報に基づいてノズル下降距離を算出する。 - 特許庁 - To provide an analysis device operating a finite element method polar coordinate system wave propagation code calculating a surface acoustic wave propagation characteristic of an anisotropic single crystal so as to provide a spherical surface acoustic wave element and a spherical optical surface wave element.
球状弾性表面波素子および球状光表面波素子の実現の為に、異方性単結晶の弾性表面波伝搬特性を計算する有限要素法極座標系波動伝搬コードを動作させる解析装置を提供する。 - 特許庁
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