「surface analysis」を含む例文一覧(773)

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  • To provide a method of strongly immobilizing peptide to a surface plasmon resonance measuring device and allowing strict analysis.
    表面プラズモン共鳴測定装置にペプチドを強固に固定化し、厳密な解析を可能とする方法を提供すること。 - 特許庁
  • DEVICE SENSITIVITY EVALUATION METHOD OF SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING DEVICE, AND PERFORMANCE EVALUATION METHOD OF FLOW CELL FOR SAMPLE ANALYSIS
    表面プラズモン共鳴測定装置の装置感度評価方法及びその試料分析用フローセルの性能評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR OPTICALLY MEASURING THICKNESS OR OPTICAL CHARACTERISTIC VALUE OF FILM AND OPTICAL SURFACE ANALYSIS APPARATUS
    膜の厚さ若しくは膜の光学的な特性値を光学的に測定する方法、および光学的表面解析装置 - 特許庁
  • According to the analysis, the optimum angle for skipping stones is for the front face to be raised by 10 degrees with respect to the surface of the water.
    それによると、よく跳ねるための水面との角度は、前面が10°浮き上がった状態が最もよいとされる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • An analysis part 15 extracts structures of blood or the like from each of the tomographic image and the surface image or the SLO image.
    解析部１５は断層画像と表面画像またはＳＬＯ画像のそれぞれから血管等の構造を抽出する。 - 特許庁
  • In a nucleic acid analysis device for analysis of nucleic acid in a sample through fluorometry, a localized surface plasmon is generated by light irradiation and a nucleic acid probe or a nucleic acid synthetic enzyme for the analysis of the nucleic acid in the sample is disposed in a region of generation of the surface plasmon.
    本発明は、蛍光測定により試料中の核酸を分析する核酸分析デバイスにおいて、光照射により局在型表面プラズモンが発生し、かつ、試料中の核酸を分析するための核酸プローブや核酸合成酵素が前記表面プラズモンの発生部位に配置されていることに関する。 - 特許庁
  • To provide a surface data generation method for easily generating outer surface data representing a state of a surface of a construct model after simulation, from analysis data according to a shape of a component, a surface data generator, and a program.
    部品の形状に則した解析データから、シミュレーション後の構造体モデルの表面の状態を表す外表面データを容易に生成する表面データ生成方法、表面データ生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁
  • A surface treated layer which is derived from a silane coupling agent and a corrosive fluoride is provided on at least one surface of the stainless steel plate and a ratio of fluoride and silicon at the XPS analysis of the surface of the surface treated layer satisfies the following formula (1): 0≤F(at.%)/
    ステンレス鋼板の少なくとも一方の表面にシランカップリング剤と腐食性フッ化物に由来する表面処理層を有し、該表面処理層の表面のXPS 分析によるフッ素と珪素の比が下式(1) を満たす。 - 特許庁
  • Since the method of adjusting the liquid quantity in the liquid reservoir and another method of inclining an analysis chip by a prescribed angle in a prescribed direction for adjusting the surface level are used as a surface level adjusting method, stable liquid feeding is realized, and analysis becomes possible in the micro-flow passage.
    その調節法として、液溜中の液量を調節する方法及び、分析チップを所定角度、所定の方向に傾斜させる方法を用いることで、安定した送液が実現でき、マイクロ流路中での分析が可能となった。 - 特許庁
  • The gas component in a sealing space 5 surrounded by the adsorbent 3 for analysis and the organic EL element 2 is absorbed to the adsorbent 3 for analysis by using the adsorbent 3 for analysis, of which the surface opposite to the organic EL element 2 is composed of a porous body.
    有機ＥＬ素子２に対向する面が多孔質体となっている分析用吸着体３を用いることにより、分析用吸着体３と有機ＥＬ素子２に囲まれた封止空間５のガス成分を分析用吸着体３に吸着させる。 - 特許庁
  • Analysis light r5 made incident to a diffraction grating G101 is dispersed by the diffraction grating G101 and vertically moves toward an analysis light derivation unit A101 formed on a surface P101 of a first substrate part 101 as dispersed analysis light r6.
    回折格子Ｇ１０１に侵入した分析光ｒ５は、回折格子Ｇ１０１によって分光され、分光された分析光ｒ６として、第１基材部１０１の表面Ｐ１０１に形成される分析光導出部Ａ１０１に向かって垂直に進行する。 - 特許庁
  • A surface element object area calculation part 14 calculates an object area of surface elements in each component on the basis of the heating value of the component composing an analysis target.
    面要素目標面積算出部１４は、解析対象物を構成する部品の発熱量に基づいて、部品ごとの面要素の目標面積を算出する。 - 特許庁
  • Secondary ions emitted from the irradiation surface of an analysis sample 5 are extracted by an extraction electrode 15 while holding the two-dimensional information of the irradiation surface and enter a pulse gate electrode.
    分析試料５の照射面から放出される二次イオンは、照射面の二次元情報を保持したまま引出電極１５で引き出され、パルスゲート電極部に入射する。 - 特許庁
  • To directly and rapidly analyze a component in a molten metal through atomic absorption analysis, even in case where the surface of the molten metal does not become a stationary surface.
    溶融金属の表面が静止面とならない場合においても、原子吸光分析法を用いて溶融金属中の成分を直接且つ迅速に分析する。 - 特許庁
  • To provide a surface analyzer capable of easily adjusting samples S at a desired angle and scanning an analysis position on the surface of one sample S at various angles.
    試料Ｓを容易に所望の角度に調整でき、かつ、一の試料Ｓ表面上において分析位置を様々な角度で走査できる表面分析装置の提供。 - 特許庁
  • Since the device surface has no contact with air during a period from just after production until just before analysis, adhesion of an organic substance onto the device surface can be prevented.
    デバイス表面は、製造直後から分析直前の間に空気と接触することがないため、デバイス表面への有機物の付着を防止することができる。 - 特許庁
  • To provide an etching apparatus used in sample preparation for more accurately carrying out a substrate surface analysis, and an apparatus and a method for evaluating a substrate surface using it.
    基板表面分析をより正確に行うための試料作製用エッチング装置、およびこれを用いた基板表面評価装置と基板表面評価方法を提供する。 - 特許庁
  • The method manufactures part of the electrochemical analysis inspection strip and includes a step for forming a metal substrate having the upper surface, on the surface of an electrical insulating substrate.
    電気化学式検査ストリップの一部を製造するための方法であって、電気絶縁基板の表面に、上面を有する金属基板を形成するステップを含む。 - 特許庁
  • To accurately diagnose existence of wall surface exfoliation by performing wavelet transformation analysis by using a mother wavelet suitable for the wall surface which is a diagnostic object.
    診断対象である壁面に適したマザーウェッブレットを用いてウェーブレット変換解析を行うことにより、壁面剥離の有無を正確に診断できるようにする。 - 特許庁
  • To provide an analysis method of functional group on the surface of a molded product, capable of precisely analyzing the kind, the distribution state and the density of the functional group on the surface of the molded product.
    成形品表面における官能基の種類、その分布状態と密度について、精度良く分析できる、成形品表面の官能基分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To realize a qualitative analysis method by a surface analyzing machinery capable of performing highly accurate qualitative analysis even if the shift between the peak energy position of a spectrum and the energy position of a transition beam is generated.
    スペクトルのピークのエネルギー位置と遷移線のエネルギー位置のずれが発生している場合でも、高精度の定性分析ができるようにした表面分析機器による定性分析方法を提供する。 - 特許庁
  • The tire analysis system 1 performs a behavior analysis of a tire by measuring the change in the tire shape and the change in the surface distortion of the tire when predetermined test conditions are input.
    このタイヤ解析システム１は、所定の試験条件を入力したときのタイヤ形状の変化やタイヤ表面歪みの変化を測定することによりタイヤの挙動解析を行うシステムである。 - 特許庁
  • To provide a spectrochemical analysis device for analyzing the state of the surface of a sample under presence of an atmosphere medium, and to provide a spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction.
    雰囲気媒体の存在下での試料表面の状態を分析する分光分析装置、及び摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する分光分析装置を提供する。 - 特許庁
  • In the method, a text structure including information on surface layer case and deep layer case is obtained with performances of a morpheme analysis, paragraph analysis, vocabulary processing, case frame processing, attribute adding, etc., to the natural text inputted by a user.
    ユーザから入力された自然文を形態素解析、文節解析、語彙処理、格フレーム処理、属性付与等を行って表層格、深層格の情報を含む文構造を取得する。 - 特許庁
  • To accurately calculate the tire performance including generation force distribution in the tire ground surface while suppressing an increase in computation time in a tire analysis using a numeric analysis method including the finite element method (FEM).
    有限要素法（ＦＥＭ）等の数値解析手法によるタイヤの解析において、計算時間の増加を抑えつつ、タイヤ接地面内の発生力分布等のタイヤ性能を精度良く算出する。 - 特許庁
  • A dry analysis element which is provided with a sample storage part on a surface of a water non-permeation sheet and in which reagent required for analysis is applied and dried in the sample storage part is provide for measurement.
    上記課題は、水不透過性シートの表面に検体収容部が設けられ、該検体収容部に分析に必要な試薬が塗設乾燥されている乾式分析素子によって達成される。 - 特許庁
  • An analysis unit uses the image data obtained by scanning the board to inspect the height of the surface to be inspected by a phase shift method.
    解析ユニットは、基板を走査して得られた画像データを利用して、位相シフト法により被検査面の高さを検査する。 - 特許庁
  • DEVELOPMENT OF HIGHLY SENSITIVE FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD BY DIRECT IRRADIATION WITH EXCITATION LIGHT TO SURFACE FUNCTIONAL PARTICLE OBTAINED BY CONDENSING SAMPLE MATERIAL
    試料物質を濃縮した表面機能性粒子への励起光の直接照射による高感度蛍光分析法の開発 - 特許庁
  • DATA PROCESSING AND MANAGEMENT EQUIPMENT AND METHOD FOR DATA INSPECTION/ANALYSIS OF PARTICLE IN SURFACE PROCESSING TREATMENT DEVICE OR FILM FORMING TREATMENT DEVICE
    表面加工処理装置又は成膜処理装置の異物検査・解析のためのデータ処理及び管理装置及び方法 - 特許庁
  • In addition, light emission intensity is enhanced by placing a tape 23 transmitting the laser light 4 on the surface of the analysis object sample 1.
    さらに、分析対象試料１の表面に、レーザ光４を透過するテープ２３を置いて発光強度を高めている。 - 特許庁
  • The detected speckled pattern is analyzed by an analysis part 209 to calculate an Sc value, showing the surface roughness of the recording material.
    そして、検出したスペックルパターンを解析部２０９において解析し、記録材の表面粗さを示すＳｃ値を算出する。 - 特許庁
  • The analysis may preferably be directed on visual appearance, surface structure, chemical characteristics, mechanical behavior and state of health of such skin.
    分析は、好ましくは、膚の目視外観、表面構造、化学的特性、機械的挙動及び健康状態について行われる。 - 特許庁
  • A next analysis can be implemented after a target molecule acquired on a surface of the recovered bead is peeled by thermal alteration.
    回収したビーズの表面に捕捉されたターゲット分子を加熱変性により剥がして次の解析を行うことができる。 - 特許庁
  • The boundary condition of analysis is set for the surface elements, and the whole structure is divided into micro total elements.
    ついで、表面要素に対して解析の境界条件を設定し、一方、構造物全体を微小な全体要素に分割する。 - 特許庁
  • The analysis part 40 analyzes the viscoelasticity of the thin film 8 by using the propagation time and amplitude of the received surface wave.
    解析部４０は、受信した表面波の伝播時間及び振幅を用いて、高分子薄膜８の粘弾性を解析する。 - 特許庁
  • Multifrequency phase analysis is executed in the multifrequency response signals to inspect an under side of the surface of the component.
    また、部品の表面下を検査するために、多周波応答信号に対して多周波位相解析を実行することを更に含む。 - 特許庁
  • 2) Perform daily blank measurements using a blank vessel to confirm that the analysis system is free of radioactive surface contamination.
    ２）測定日毎に空の測定容器を用いてブランクを測定し、分析系に放射性表面汚染がないことを確認する。 - 厚生労働省
  • Because, in the time of Takakazu SEKI or before, the main problem in mathematical analysis was the circumference ratio or the volume and surface area of a sphere, it was called the study of enri (circle principle).
    関孝和やそれ以前は円周率、球の体積や表面積が主な問題となったので、その名がある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To improve precision of analysis on a sample surface by controlling a damage such as a change in a bonding state, and the composition of the sample.
    試料の結合状態および組成の変化などの損傷を抑制し、試料表面の分析精度を向上させる。 - 特許庁
  • This thermal analysis method has a process of acquiring virtual temperature as the temperature of a contact surface section with a contacted object of the longitudinal shape object.
    長手形状物体の、被接触物体との接触面部の温度として仮想温度を取得する工程を有する。 - 特許庁
  • Analysis (G analysis) of rolling in a flat road surface model of a tire model in which the shape, structure and material of a pneumatic tire are divided into a limited number of elements and analysis (L analysis) of rolling in a road undulation model including an undulation finer than the width of narrow grooves of a partial block model indicating a part of a tread pattern having the narrow grooves formed thereon are separately executed.
    空気入りタイヤの形状、構造、材料を有限個の要素に分割したタイヤモデルの平滑路面モデルにおける転動の解析（Ｇ解析）と、細溝が形成されたトレッドパターンの一部を表す部分ブロックモデルの細溝の幅よりも細かい起伏を含む路面起伏モデルにおける転動の解析（Ｌ解析）とを別々に実行する。 - 特許庁
  • In particular, the entire semiconductor chip is regarded as a dielectric and inductance analysis is performed to obtain an inductance component of an equivalent circuit, and it is regarded as a dielectric having a metal thin film on a surface thereon and capacitance analysis is performed to obtain a capacitance component of the equivalent circuit, and the inductance analysis results and the capacitance analysis results are combined to obtain the equivalent circuit.
    特に、半導体チップ全体を誘電体とみなしてインダクタンス解析を行い等価回路のインダクタンス成分を求め、表面に金属薄膜を有する誘電体とみなして容量解析を行い等価回路の容量成分を求め、インダクタンス解析結果と容量解析結果を合成して、等価回路を求める。 - 特許庁
  • To provide a surface analysis method, for detecting even an adhering substance which adheres to the surface of an analysis object sample nonuniformly or in a trace amount, and thereby cannot be detected conventionally, because the adhering substance is lower than the lowest limit to be detected.
    本発明は、分析対象試料表面に不均一もしくは微量な状態で付着し、従来、検出下限以下で検出できなかったような付着物質であっても、検出可能とする表面分析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.
    作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To perform an ultra-high sensitivity analysis, when analyzing chemically the kinds and quantities of metallic impurities existent on the surface of a semiconductor substrate, by substituting for a conventional acid for decomposing a surface oxidation film an analysis suited acid accompanied by no entrapped contaminant.
    半導体基板表面上に存在する金属不純物の種類および量を化学分析する際に、表面酸化膜を分解するための酸を汚染の混入無く分析に適した酸に置換し、超高感度分析を行なうことを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a surface plasmon resonance fluorescence analyzer and surface plasmon resonance fluorescence analysis method capable of restricting dispersion in degrees of birefringence for each prism from giving influence to a measurement result, and also attaining reduction in analysis time and device size.
    プリズム毎の複屈折の度合いのばらつきの測定結果への影響を抑制すると共に、分析時間の短縮及び装置の小型化を図ることができる表面プラズモン共鳴蛍光分析装置、及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an analytical method and device for analyzing progress of surface crack capable of taking the difference between crack progress characteristics in the depth direction and on the surface into consideration, in order to progress analysis for the surface crack of a structural member.
    構造部材の表面き裂の進展解析について、深さ方向と表面上でのき裂進展特性の違いを考慮することが可能な表面き裂の進展解析方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a measurement method and an analysis method of a sample surface and a measuring device and an analytical device of the sample surface, capable of acquiring accurately information of the sample surface by a device having a simple structure.
    簡易な構成の装置によって正確に試料表面の情報を得ることができる試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a three-dimensional collision analysis method that, in conducting the numerical analysis of the high velocity collision phenomenon of a deformed body using a computer, can accurately grasp the shock wave passing through a contact surface to prevent the occurrence of numerical instability on the contact surface, so that the shape of the contact surface can be correctly obtained.
    変形物体の高速衝突現象をコンピュータにより数値解析する際、接触面を通過する衝撃波を精度よく捉えて接触面での数値不安定性の発生を防ぎ、接触面の形状を正しく求めることができる３次元動的衝突解析方法を提供する。 - 特許庁
  • A control system of the analysis/control device 18 feeds a command for stopping a rotation against rotation mechanisms 12, 16 and carried out a control for stopping a rotation of the abrasive surface plate 2 and an abrasive head 6 when it decides that the time is a polishing furnishing time based on an analysis result in the analysis system.
    また、分析／制御装置１８の制御系は、分析系での分析結果に基づいて研磨終了時点であると判断すると、回転機構１２、１６に対して回転停止の指令を送出し研磨定盤２及び研磨ヘッド６の回転を停止させる制御を行う。 - 特許庁
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