APPARATUS FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION 波面収差測定装置 - 特許庁
WAVEFRONT GENERATION OPTICAL SYSTEM AND WAVEFRONT ABERRATION MEASURING SYSTEM 波面生成光学系及び波面収差測定装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION 波面収差の測定方法 - 特許庁
WAVEFRONT MEASUREMENT METHOD AND DEVICE 波面測定方法および装置 - 特許庁
draw a line perpendicular to the wavefront 波先に垂直な線を引く - Weblio英語基本例文集
INTERFEROMETER SYSTEM FOR WAVEFRONT MEASUREMENT 波面測定用干渉計装置 - 特許庁
To provide a method of measuring wavefront aberration and a wavefront aberration measuring instrument with wavefront aberration measuring accuracy enhanced. 波面測定精度を向上させた波面収差測定方法、及び、波面収差測定機を提供する。 - 特許庁
To provide a wavefront measuring device and a wavefront measuring technique capable of measuring the wavefront in simple constitution and processes for wavefront measuring devices and wavefront measuring techniques measuring states of wavefront of light. 光の波面の状態を測定する波面測定装置及び波面測定方法に関し、簡単な構成、処理で波面の測定が可能となる波面測定装置及び波面測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
WAVEFRONT SYNTHESIS SIGNAL CONVERTER AND WAVEFRONT SYNTHESIS SIGNAL CONVERSION METHOD 波面合成信号変換装置および波面合成信号変換方法 - 特許庁
A wavefront correction element control device 15 generates control signals for the wavefront correction based on the measured wavefront aberration and outputs the signals to the wavefront aberration element 71 to correct the wavefront. 波面補正素子制御装置15は、測定された波面収差に基づき、波面補正のための制御信号を形成し、波面補正素子71に出力して波面を補正させる。 - 特許庁
WAVEFRONT MEASURING DEVICE FOR OPTICAL PICKUP APPARATUS 光ピックアップ用波面測定装置 - 特許庁
FUNDUS PHOTOGRAPHING APPARATUS WITH WAVEFRONT COMPENSATION 波面補償付眼底撮影装置 - 特許庁
The aberrated wavefront is then analyzed using the wavefront analyzer, which is calibrated using data generated by the wavefront analyzer from the aberrated wavefront. その後、収差を含んだ波面は波面解析器を用いて解析され、そして収差を含む波面から波面解析器が生成したデータを用いて較正される。 - 特許庁
OPTICAL WAVEFRONT CONTROL PATTERN GENERATING APPARATUS AND OPTICAL WAVEFRONT CONTROL PATTERN GENERATING METHOD 光波面制御パターン生成装置及び光波面制御パターン生成方法 - 特許庁
WAVEFRONT ABERRATION MEASURING DEVICE AND METHOD AND WAVEFRONT ABERRATION ADJUSTING METHOD 波面収差計測装置および方法、並びに波面収差調整方法 - 特許庁
To reduce the time required for the evaluation of wavefront aberrations in a method and an apparatus for evaluating wavefront aberrations. 波面収差の評価に要する時間を減少することである。 - 特許庁
WAVEFRONT CONVERSION DEVICE AND OPTICAL DEVICE 波面変換装置、および光学装置 - 特許庁
METHOD FOR CALCULATING TWO-DIMENSIONAL WAVEFRONT ABERRATION 二次元波面収差の算出方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION OF LASER LIGHT レーザ光の波面収差測定方法 - 特許庁
A wavefront correction element 71 corrects the wavefront of a reflecting or transmitting luminous flux. 波面補正素子71は、反射又は透過する光束の波面を補正する。 - 特許庁
DEVICE OF MEASURING TRANSMITTED WAVEFRONT IN IMMERSION LENS 液浸レンズの透過波面測定装置 - 特許庁
Further, by mounting a wavefront control element in the device, a wavefront of the reference light is corrected to obtain an optimum wavefront in advance. また装置に波面制御素子を搭載することで、参照光の波面を事前に最適な波面に補正する。 - 特許庁
WAVEFRONT ABERRATION CORRECTION APPARATUS AND EXPOSURE APPARATUS 波面収差補正装置及び露光装置 - 特許庁
WAVEFRONT-ABERRATION-MEASURING DEVICE AND EXPOSURE APPARATUS 波面収差測定装置及び露光装置 - 特許庁
WAVEFRONT CURVATURE MODULATING DEVICE AND IMAGE DISPLAY DEVICE EQUIPPED WITH WAVEFRONT CURVATURE MODULATING DEVICE 波面曲率変調装置及び波面曲率変調装置を備えた画像表示装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION 波面収差測定装置及びその方法 - 特許庁
WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND DEVICE THEREFOR 波面収差測定方法及びその装置 - 特許庁
METHOD OF MEASURING WAVEFRONT ERROR, METHOD OF ADJUSTING WAVEFRONT ERROR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE 波面誤差計測方法、波面誤差調整方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
A substantially unaberrated wavefront is passed along an optical path leading to a wavefront analyzer. 実質的に収差のない波面が、波面解析器に導かれる光路に沿って通される。 - 特許庁
The wavefront detector 60 receives the input light to detect the wavefront of the light. 波面検出部60は、入力された光を受光して、その光の波面を検出する。 - 特許庁
WAVEFRONT ABERRATION CORRECTION MIRROR AND OPTICAL PICKUP 波面収差補正ミラーおよび光ピックアップ - 特許庁
HOLOGRAM REPRODUCTION WAVEFRONT CORRECTING METHOD AND DEVICE ホログラム再生波面補正方法および装置 - 特許庁
HOLOGRAM REPRODUCED WAVEFRONT CONTROL METHOD AND APPARATUS ホログラム再生波面制御方法および装置 - 特許庁
Each wavefront shape information in other domains excluding the improper domains A_1, A_2 is linked mutually by a synthetic aperture method to determine wavefront shape information of the whole transmission wavefront area, and an aberration of the transmission wavefront is determined based on the wavefront shape information of the whole transmission wavefront area. 不適正領域A_1,A_2を除く他の領域の波面形状情報を、開口合成法により互いに繋ぎ合わせることにより、透過波面全域の波面形状情報を求め、この透過波面全域の波面形状情報に基づき透過波面の収差を求める。 - 特許庁
To provide a wavefront synthesis technique for reproducing a wavefront on the sound source side of a microphone array. マイクアレーよりも音源側にある波面を再現する波面合成法の技術を提供する。 - 特許庁
To provide a wavefront detection system suitable for refraction aberration measuring for an eye and a wavefront detection method. 眼の屈折収差測定に好適な波面検知システム及び波面検知方法を提供する。 - 特許庁