「wavefront」を含む例文一覧(590)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 次へ＞- ADAPTIVE WAVEFRONT MODULATION SYSTEM FOR REFRACTIVE LASER SURGERY AND METHOD ADAPTED THERETO
レーザ式屈折手術用の適応型波面式調節システムおよび方法 - 特許庁 - The wavefront conversion device 10 has MEMS elements 12 and a moving part 13.
波面変換装置１０は、ＭＥＭＳ素子１２と、移動部１３とを備える。 - 特許庁 - A wavefront correcting system 1 finds the optical characteristics of an eye to be inspected by measuring the wave-front measurement data containing the wavefront aberration and/or aberration to be corrected of the eye to be inspected.
波面補正系１は、被検眼の波面収差及び／又は補正される収差を含む波面測定データを測定し、被検眼の光学特性を求める。 - 特許庁 - To provide a beam distribution apparatus capable of independent wavefront correction for each distributed beam.
分配されたビーム毎に波面補正可能なビーム分配装置の提供。 - 特許庁 - To obtain a wavefront aberration measuring device which allows for high-precision measurement of the wavefront aberration of a tested optical system by suppressing the impact of interference pattern due to noise light.
ノイズ光による干渉縞の影響を抑えて被検光学系の波面収差を高精度に計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁 - To smoothly photograph an eyeground image in the condition that a wavefront aberration is rectified.
波面収差が補正された状態の眼底画像をスムーズに撮影する。 - 特許庁 - To provide a wavefront aberration measuring apparatus, configured capable of accurately measuring the wavefront aberrations of an optical system to be inspected, regardless of the light source wavelength.
光源波長によらず被検光学系の波面収差を高精度に計測することが可能な構成の波面収差計測装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a wavefront aberration correction mirror which can drive a mirror distortion correction, correction of temperature characteristics and wavefront aberration correction with a low voltage and to provide an optical pickup.
ミラー歪み補正及び温度特性の補正と波面収差補正を低電圧で駆動できる波面収差補正ミラーおよび光ピックアップを提供する。 - 特許庁 - WAVEFRONT SENSOR, AND LENS METER AND ACTIVE OPTICAL REFLECTING TELESCOPE USING SAME
波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡 - 特許庁 - An arithmetic unit 14-1 measures a wavefront aberration based on the measured displacement of the eye to be examined and the light receiving signals by the wavefront measuring part 10.
演算装置１４−１は、測定された被検眼の変位と、波面測定部１０による受光信号とに基づき、波面収差を測定する。 - 特許庁 - To provide a wavefront aberration measuring device capable of measuring the wavefront aberration of an optical system under test by a relatively simple constitution without using an interferometry.
干渉法を用いることなく、比較的簡素な構成にしたがって被検光学系の波面収差を計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁 - A predetermined aberration is induced in the unaberrated wavefront to form an aberrated wavefront using an optical element positioned in the optical path.
光路中に置かれた上記光学素子を用いて収差を含む波面を形成するよう、所定の収差がその収差のない波面に生じさせられる。 - 特許庁 - The optical element is adapted to induce a predetermined aberration in a wavefront.
その光学素子は波面に所定の収差を生じさせることに適用される。 - 特許庁 - To securely correct wavefront aberrations caused by an interchangeable optical element.
可換光学素子に起因して発生する波面収差を確実に補正できること。 - 特許庁 - The inspection apparatus is for measuring wavefront aberration of an optical system to be inspected (PL).
被検光学系（ＰＬ）の波面収差を測定するための検査装置である。 - 特許庁 - CONTROLLING METHOD FOR LIQUID LIGHT BEAM DEFLECTOR WITH HIGH ACCURACY CONSIDERING WAVEFRONT CURVATURE
波面曲率を考慮した液晶光ビーム偏向器の高精度制御方法 - 特許庁 - To provide an optimized image processing method of wavefront-coded imaging systems.
波面符号化イメージングシステムの最適化された画像処理方法を提供する。 - 特許庁 - IMPROVFD HIGH-SPEED AVERAGE-POWER FIBER LASER SYSTEM HAVING HIGH-SPEED PARALLEL WAVEFRONT SENSOR
高速並列波面センサを有する改良高速平均パワー・ファイバ・レーザ・システム - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING SYSTEM ERROR AND INTERFEROMETER SYSTEM FOR WAVEFRONT MEASUREMENT EQUIPPED WITH THE SAME
システム誤差計測装置およびこれを備えた波面測定用干渉計装置 - 特許庁 - INSTRUMENT FOR OBJECTIVE MEASUREMENT OF REFRACTIVE WAVEFRONT ABERRATION, SURGICAL MICROSCOPE, AND SLIT LAMP
他覚的屈折波面収差測定装置、手術用顕微鏡およびスリットランプ - 特許庁 - Concretely, a wavefront after passing through each area is reversed in irregulality.
具体的には、各領域を通過した後の波面は、凹凸状態が逆転する。 - 特許庁 - To provide a measurement apparatus capable of measuring wavefront aberrations correctly and efficiently.
波面収差を正確かつ効率的に測定しうる測定装置を提供する。 - 特許庁 - The device also includes a device designed by measuring first wavefront aberrations of an eye before near work and measuring second wavefront aberrations of the eye after near work.
このデバイスはまた、近業前の眼の第一の波面収差を測定し、近業後の眼の第二の波面収差を測定することにより設計されるデバイスを含む。 - 特許庁 - The tangle error of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a projection part 3, and the comatic aberration of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a lens part 2.
また、張出部３の透過波面測定により被検レンズ１の面倒れを求め、レンズ部２の透過波面測定により被検レンズ１のコマ収差を求める。 - 特許庁 - The wavefront correction system 1 performs correction which will negate the aberration of the reflected light flux from the ocular fundus by a wavefront correction element 71 or the like.
また、波面補正系１は、波面補正素子７１等により、測定された収差に基づき、眼底からの反射光束に対して収差を打ち消すような補正を行う。 - 特許庁 - Thereby, a phase plane with minimum wavefront distortion can be selected from phase planes with 2π phase difference which can be connected with respect to any inclination of the wavefront.
これにより、どのような波面傾斜に対しても、接続の可能な位相差2πの位相面のうちから波面歪を最小とするものを選ぶことが可能となる。 - 特許庁 - The observation apparatus 1 includes a light source 10, a biaxial scanning system 20, a wavefront modulator 30, an optical branching part 40, an optical detector 50, a wavefront detector 60, a controller 70, etc.
観察装置１は、光源部１０、二軸走査系２０、波面変調部３０、光分岐部４０、光検出部５０、波面検出部６０および制御部７０等を備える。 - 特許庁 - Furthermore, a signal can be read by suppressing the deterioration of the wavefront shape.
さらに波面形状の劣化を抑えて信号を読み取ることができるようになる。 - 特許庁 - To select a set of initial cluster centers in wavefront clustering of objects in a collection.
オブジェクトのコレクションのウエーブフロントクラスタリング内の初期クラスタセンタのセットを選択する。 - 特許庁 - WAVEFRONT GENERATING APPARATUS AND SURFACE PROFILE MEASURING APPARATUS AND FOCUS DRIVING APPARATUS WITH THE SAME ASSEMBLED INTO THEM
波面発生装置、該装置を組み込んだ面形状測定装置、焦点駆動装置 - 特許庁 - To provide a wavefront curvature modulating device that separates luminous flux emitted by a light source into a plurality of beams having different wavefront curvatures, and an image display device equipped with the wavefront curvature modulating device.
光源から出射される光束を異なる波面曲率を有する複数の光束に分離し、分離された光束のうち少なくとも１つを選択的に出射する波面曲率変調装置及び波面曲率変調装置を備えた画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a wavefront aberration measurement instrument capable of accurate measurement of a target optical system.
被検光学系を精度良く測定できる波面収差測定装置を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL REFLECTION ELEMENT, OPTICAL REFLECTOR, WAVEFRONT CURVATURE MODULATOR, AND OPTICAL SCANNING TYPE DISPLAY APPARATUS
光反射素子、光反射装置、波面曲率変調装置及び光走査型表示装置 - 特許庁 - The image processing method includes the steps of: wavefront-coding a wavefront that forms an optical image; converting the optical image to a data stream; and processing the data stream with a filter kernel to reverse effects of wavefront coding and generate a final image.
画像処理方法は、光学像を形成する波面を波面符号化するステップと、光学像をデータストリームに変換するステップと、波面符号化の影響を逆転し、最終画像を生成するために、フィルタカーネルを用いてデータストリームを処理するステップとを含む。 - 特許庁 - To accurately measure wavefront aberrations of laser light emitted from a laser light irradiating device.
レーザ光照射装置から出射されるレーザ光の波面収差を精度よく測定する。 - 特許庁 - To provide a lightweight optical pickup device 1 which can prevent the deterioration of the wavefront characteristics.
波面特性の劣化を防止できる軽量な光ピックアップ装置１を提供する。 - 特許庁 - A simulation member calculates the degree of affection of the measured wavefront aberration element on eyes.
シミュレーション部は、測定された波面収差成分による視標の影響度合いを求める。 - 特許庁 - To simultaneously measure a transmission wavefront and a defect of an optical element.
光学素子の透過波面の測定と欠陥の測定とを同時に行えるようにする。 - 特許庁 - The wavefront clustering is performed to the objects in the collection using the second number of the initial cluster centers.
初期クラスタセンタの第２の数を用いてオブジェクトのコレクションをウエーブフロントクラスタリングする。 - 特許庁 - A first method utilizes simulated wavefront information from randomly generated data.
第１の方法では、ランダムに生成されたデータからシミュレーションした波面情報を用いる。 - 特許庁 - OPTICAL INTEGRATOR OF WAVEFRONT SPLITTING TYPE AND ILLUMINATING OPTICAL DEVICE PROVIDED WITH THE OPTICAL INTEGRATOR
波面分割型のオプティカルインテグレータおよび該オプティカルインテグレータを備えた照明光学装置 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL POSITION MEASURING INSTRUMENT, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING INSTRUMENT, AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE WAVE MEASURING INSTRUMENT
三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置 - 特許庁 - Wavefront aberrations of the optical system 6 is measured by analyzing this interference pattern.
この干渉縞を解析することで、被検光学系６の波面収差を計測する。 - 特許庁 - A polarization converting part 5 for rotating a plane of polarization of either beam out of a pair of adjacent beams divided by the wavefront dividing part is located right behind the wavefront dividing part 21.
波面分割部により分割された隣接する一対の光束のうち一方の光束の偏光面を回転させる偏光変換部５を波面分割部２１の直後に配置する。 - 特許庁 - Images with the wavefront curvature (a) and wavefront curvature (b) are alternately projected on the retina of an observer and put together through an after-image phenomenon, so that they are observed as an image in which perspective is represented.
観察者の網膜上には波面曲率ａ，波面曲率ｂの画像が交互に投影され、残像現象によって合成され、遠近感の表現された画像として観察される。 - 特許庁 - The reference light with random wavefront is obtained, by passing reference light having a regular wavefront through a multi-mode optical fiber or through a fiber bundle, consisting of a plurality of optical fibers having different lengths.
波面の揃った参照光をマルチモード光ファイバーに通して、あるいは、長さの異なる複数の光ファイバーの束からなるファイバーバンドルに通して波面の乱雑な参照光とする。 - 特許庁 - To accurately decide a process central position required when image data of interference fringes is processed to compute a wavefront aberration in an optical system, and to compute the wavefront aberration with high accuracy.
干渉縞の画像データを処理して光学系の波面収差を算出する際に必要な処理中心位置を正確に決定し、波面収差を高い精度で算出する。 - 特許庁 - A sensor regulates an error signal by comparing the wavefront reflected from the eye with the wavefront without aberration, and the active mirror is programmed by using the error signal, then the aberration is removed from the reflected light.
センサが、目から反射した波面を収差のない波面と比較してエラー信号を規定し、エラー信号を使用してアクティブ・ミラーをプログラムし、反射光から収差を除去する。 - 特許庁 - To provide an optical pickup device which detects a temperature accurately corresponding to an amount of caused wavefront aberration and consequently can correct the wavefront aberration using only the detected temperature as a variable.
発生する波面収差量に正確に対応した温度を検出することにより、検知した温度のみを変数とした波面収差補正を可能とした光ディスクドライブ装置を、提供する。 - 特許庁 - In this interferometer 1, a polarized beam splitter 2, a Faraday rotator 3, a cubic half mirror 4 and a wavefront modulator 5 are provided, in this order along the route of light 21, before wavefront modulation.
干渉計１において、波面変調前の光２１の経路に沿って、偏光ビームスプリッタ２、ファラデーローテータ３、立方体型ハーフミラー４、波面変調器５をこの順に設ける。 - 特許庁
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