ソフトエラー評価の英語

半導体デバイスのソフトエラー耐性評価方法及び評価装置例文帳に追加

ESTIMATING METHOD AND ESTIMATING DEVICE FOR SOFTWARE ERROR RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体デバイスの宇宙線中性子ソフトエラー耐性評価方法例文帳に追加

COSMIC RAYS NEUTRON SOFTWARE ERROR RESISTANCE EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

宇宙線中性子ソフトエラー解析の広範囲なパラメータに対する迅速な評価を提供する。例文帳に追加

To quickly evaluate soft error analysis by cosmic ray neutrons with over wide-range parameters. - 特許庁

比較的安価なテスタでソフトエラーを迅速に評価することができるＳＤＲＡＭの動作方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for operating an SDRAM by which the error of software can quickly be estimated with a comparatively inexpensively tester. - 特許庁

任意の半導体デバイスに関して効率の良い宇宙線中性子起因のソフトエラー耐性評価が可能となる手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means for efficiently evaluating the resistance of an arbitrary semiconductor device to software error due to cosmic rays neutrons. - 特許庁

これにより、任意の半導体デバイス、設計段階にある任意の半導体デバイスに関し任意の地点における宇宙線中性子起因のソフトエラー耐性を評価することができるため、半導体デバイスの宇宙線中性子ソフトエラー耐性を事前に評価・予測を可能にする。例文帳に追加

Since resistance to software error due to cosmic radiation neutrons at an arbitrary spot can be evaluated with respect to an arbitrary semiconductor device, or an arbitrary semiconductor device in a designing stage, the resistance of the semiconductor device to software error due to cosmic rays neutrons can be previously evaluated/estimated. - 特許庁