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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 和英日本標準商品分類 > その他の型用チップの英語・英訳 

その他の型用チップの英語

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和英日本標準商品分類での「その他の型用チップ」の英訳

その他の型用チップ

読み方そのたのかたようちっぷ、ソノタノカタヨウチップ

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「その他の型用チップ」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 5



例文

超LSIや高容量マイクロチップ製造等の超マイクロリソグラフィプロセスやその他のフォトファブリケーションプロセスに於いて好適に使することができ、PEB温度依存性が改善されたポジレジスト組成物及びそれをいたパターン形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a positive resist composition suitable for use in an ultramicro-lithographic process for manufacturing VLSI or a high capacity microchip and in another photofabrication process, and having improved PEB temperature dependency, and to provide a pattern forming method using the same. - 特許庁

疎密パターン依存性が改善され、超LSIや高容量マイクロチップの製造等の超マイクロリソグラフィプロセスやその他のフォトファブリケ−ションプロセスに使することができる化学増幅の感放射線性レジスト組成物を提供すること。例文帳に追加

To provide a chemical amplification type radiation sensitive resist composition having improved dependence on a thin-dense pattern and usable in an ultramicrolithographic process and another photofabrication process for producing VLIS and high capacity microchips. - 特許庁

超LSIや高容量マイクロチップの製造などの超マイクロリソグラフィプロセスやその他のフォトパブリケーションプロセスに好適にいられるポジレジスト組成物及びそれをいたパターン形成方法であり、解像力、現像欠陥、アウトガスが改良されたポジレジスト組成物及びそれをいたパターン形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a positive resist composition improved in resolution, development defects and outgassing and a pattern forming method using the same, which are a positive resist composition suitable for use in an ultramicrolithography process for producing VLSI or high-capacity microchips or in other photofabrication processes and a pattern forming method using the same. - 特許庁

超LSIや高容量マイクロチップの製造等の超マイクロリソグラフィプロセスやその他のフォトファブリケーションプロセスに於いて好適に使することができ、ラインエッジラフネスが良好なポジレジスト組成物、また更にコンタクトホールパターン形成において解像力及びデフォーカスラチチュード、露光マージンにも優れたポジレジスト組成物を提供することである。例文帳に追加

To provide a positive acting resist composition which is suitably used in a super-microlithography process and other photofabrication processes of manufacturing a VLSI and a high-capacity microchip and has excellent line edge roughness and further a positive acting resist composition which has superior resolving power, defocusing latitude, and an exposure margin in contact-hole pattern formation. - 特許庁

例文

超LSIや高容量マイクロチップの製造等の超マイクロリソグラフィプロセスやその他のフォトファブリケーションプロセスに於いて、好適に使することができ、露光ラチチュードが広く、線幅の面内均一性に優れたポジレジスト組成物及びそれをいたパターン形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide positive resist composition and a pattern forming method using it capable of preferably using super-micro lithographic processes or the other photo-fabrication process, such as manufacturing a VLSI or a micro chip of large capacity etc., with a wide latitude for exposure, and excellent in uniformity of line width. - 特許庁

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