タングステンランプの英語

撮影用光源３１に、観察用光源１と同様なハロゲンランプあるいはタングステンランプが使用される。例文帳に追加

A halogen lamp or a tungsten lamp is used for a photographic light source 31 like for an observation light source 1. - 特許庁

本発明に係る含有率測定装置は、タングステンランプ61及び焦電素子63を具え、制御回路51によって、タングステンランプ61の印加電圧を変化させ、これによって得られる焦電素子63の出力信号に基づいて、特定物質の含有率を算出する。例文帳に追加

This content measuring device comprises a tungsten lamp 61 and a pyroelectric element 63, wherein the applied voltage of the tungsten lamp 61 is changed by a control circuit 51, and the content of the specified substance is calculated on the basis of the output signal of the pyroelectric element 63 obtained by that means. - 特許庁

陽極酸化工程において半導体基板１０の上記他表面側に対向配置される陰極２５が、半導体基板１０の上記他表面に所望のレンズ形状に応じた光強度分布を形成するように設計されてタングステンランプからなる光源３０と半導体基板１０の上記他表面との間に配置されるマスクを構成するようにパターン設計されている。例文帳に追加

In the anodizing process, the cathode 25 is arranged opposite to the other surface side of the semiconductor substrate 10 and a mask for patterning is designed so as to form a light intensity distribution in accordance with a desired lens shape on the other surface of the semiconductor substrate 10 and is arranged between a light source 30 composed of a tungsten lamp and the other surface of the semiconductor substrate 10. - 特許庁

陽極酸化工程において半導体基板１０の上記他表面側に対向配置される陰極２５が、半導体基板１０の上記他表面に所望のレンズ形状に応じた光強度分布を形成するように設計されてタングステンランプからなる光源３０と半導体基板１０の上記他表面との間に配置されるマスクを構成するようにパターン設計されている。例文帳に追加

The cathode 25 arranged opposite on the other surface side of the semiconductor substrate 10 in the anodizing step is so pattern-designed as to constitute a mask arranged between a light source 30 composed of a tungsten lamp designed to form a light intensity distribution corresponding to the desired lens shape on the other surface of the semiconductor substrate 10 and the other surface of the semiconductor substrate 10. - 特許庁