マイクロコンピュータ試験装置の英語

マイクロコンピュータチップを構成する素子に対してストレスを付加する試験を簡単に実施することができる半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device capable of easily conducting a test wherein elements making up a microcomputer chip are applied with stresses. - 特許庁

漏電検出装置５への電源電圧が低下する場合にマイクロコンピュータ１１は交流試験電圧発生回路８の電圧増幅率を減少させて交流試験電圧の出力を維持する。例文帳に追加

When power source voltage to the electrical leak detector 5 decreases, a microcomputer 11 decreases the voltage amplification factor of the alternating current test voltage generating circuit 8 to maintain the output of the alternating current test voltage. - 特許庁

マイクロコンピュータ２が、リニアフィードバックレジスタからなるデータ圧縮回路１７に格納された測定データをテスト装置３に出力する際に、テスト装置から出力されるモニタクロック信号に同期して測定データをシフトアウトすることにより、全てのマイクロコンピュータ２から出力される試験データを同期させてテスタ装置３に読み込むことができる。例文帳に追加

When a microcomputer 2 outputs measurement data stored in a data compression circuit 17 composed of a linear feedback register to this test device 3, by shifting out the measurement data in synchronism with monitor clock signals outputted from the test device, test data outputted from all the microcomputer 2 are synchronously read to the test device 3. - 特許庁