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入出力マクロの英語
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英訳・英語 input/output macro
「入出力マクロ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
ハードマクロの入出力端子とこの入出力端子に接続するスタンダードセルとの距離が長い場合にクロストークノイズを低減させる。例文帳に追加
To reduce a crosstalk when distances are long among input-output terminals in a hard macro and a standard cell connected to the input-output terminals. - 特許庁
入出力用符号メモリ領域41は、可変長符号データをマクロブロック単位で記憶する。例文帳に追加
An I/O code memory area 41 stores variable length code data in units of macroblock. - 特許庁
さらに予めマクロに入出力配線領域を確保(ステップ107)する。例文帳に追加
Furthermore, macros are previously ensured of input/output wiring regions (step 107). - 特許庁
マクロセルの領域上に入出力配線が形成された半導体集積回路において、マクロセル内の配線と入出力配線との結合容量を減少させて、信号遅延やクロストークノイズを低減する。例文帳に追加
To provide a semiconductor integrated circuit in which input/output wiring is formed on the area of a microcell for reducing any signal delay or crosstalk noise by reducing coupling capacitance between in-microcell wiring and input/output wiring. - 特許庁
マクロセルの入出力端子に関する遅延値を正確に計算し、高速度なマクロセルを効率的に設計することができるマクロセル作成方法等の提供。例文帳に追加
To provide a method of forming a micro cell and so on whereby a delay value is accurately computed for an input/output terminal of the micro cell and a high-speed micro cell is designed efficiently. - 特許庁
手段4は、前記修正を要する信号線の入出力下位階層マクロ間距離および入出ピン位置を検出する。例文帳に追加
A means 4 detects an input/output inferior layer macro-macro distance and input/output pin position. - 特許庁
複数の入出力部tがセルバウンダリCBにおいてセルグリッドg上に配置されたマクロセル1と、セルグリッドgをセル配置配線領域のチップグリッドGに平行とする状態でマクロセル1を搭載し、チップグリッドGに沿って形成した配線Rがマクロセル1の入出力部tに接続された半導体チップ2とからなり、マクロセル1における入出力部tが、マクロセル1のセルバウンダリCBに沿う姿勢で、かつ、セルグリッドgの長さ方向に対する垂直方向に長い形状に構成されている。例文帳に追加
Each of the input/output parts (t) in the macro cells 1 is elongated vertically in the lengthwise direction of the cell grid (g) in an attitude, along with the cell boundary CB of the macro cells 1. - 特許庁
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「入出力マクロ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
ハードマクロ15は、他のハードマクロと接続するための入出力端子20、22、信号遅延や信号波形品質改善のためのリピータ24、ハードマクロ間の接続を行うためのグローバル配線をリピータ24に接続するための入力端子26、出力端子28を備えている。例文帳に追加
The hard macro cell 15 has I/O terminals 20 and 22 for connection with other hard macro cells, a repeater 24 for improving signal delay or signal waveform quality, an input terminal 26 connecting global wiring for inter-macro cell connection with the repeater 24, and an output terminal 28. - 特許庁
ハードマクロの入出力AC特性を予め規定しておき、ハードマクロ内の入力側及び出力側にそれぞれディレイセル15及び16を備え、この規定を満たすようにディレイセル15及び16の信号伝搬遅延時間を定める。例文帳に追加
The input/output AC characteristics of the hard macro are previously specified, delay cells 15 and 16 are respectively provided on the input side and output side in the hard macro, and the signal propagation delay time of delay cells 15 and 16 is determined so as to satisfy this specification. - 特許庁
本発明による半導体集積回路装置は、マクロセルが形成されている領域上を通過するように伸長している信号配線に、当該マクロセルとこれに近接する入出力回路との間に形成されたバッファリングセルが接続されている。例文帳に追加
The semiconductor integrated circuit device is provided in which a buffer ring cell formed between the microcell and an input/output circuit close thereto is connected to signal wiring extended over a region where the microcell is formed. - 特許庁
本発明は、マクロをブラックボックスとして扱い、入出力データのみを用いてエラー検出、およびマクロ間のデータ変化率の計数を実現できる論理検証装置及び論理検証方法を提供することを課題とする。例文帳に追加
To provide a system and a method for logic verification which system and method each handles macros as a black box and can realize error detection and counting of the data variation rate between the macros by using only input and output data. - 特許庁
大規模マクロセルが搭載されていても、入出力用セルと論理ゲートセルとの配線長を短くすることができる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor integrated circuit in which wiring length between an input/output cell and a logical gate cell is shortened even when large-scale macrocells are loaded. - 特許庁
このP&Rの実行によって、マクロセル、セル枠、信号線、入出力ピンなどの自動配置配線を行って半導体集積回路を作成する。例文帳に追加
By the execution of the P and R, automatic arrangement wiring of macrocells, cell frames, signal lines, I/O pins, etc., is performed, and the semiconductor integrated circuit is formed. - 特許庁
マクロセル自身に余分な端子や機能を付加することなくクロック信号と入出力データ信号や他の制御信号との正確なタイミング関係をテスト可能とすることにより、内部との接続における動作タイミングの保証可能とする。例文帳に追加
To enable the operation timing in connection to inside to be guaranteed without addition of an extra terminal and function to a macro cell itself by enabling the testing precise timing relation between a clock signal and an input/output data signal or the other control signal to be performed. - 特許庁
外部から制御する入出力端子数を各モード区分に合わせて最適に制御し、メモリマクロ外部での動作不具合発生要因を削減した動作での検査が可能であり、それぞれの検査モードで検査・解析等を容易に実施できるようにする。例文帳に追加
To facilitate inspection, analysis, or the like in respective inspection modes by controlling optimally the number of input/output terminals controlled from the outside in accordance with respective mode sections and enabling inspection in operation in which operation trouble occurrence main cause outside of a memory-macro is reduced. - 特許庁
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