応用計測の英語

平面状被撮像物のカメラ計測のためのカメラキャリブレーション方法、および応用計測装置例文帳に追加

CAMERA CALIBRATION METHOD FOR CAMERA MEASUREMENT OF PLANAR SUBJECT AND MEASURING DEVICE APPLYING SAME - 特許庁

電子ビーム電流計測方法及びそれを用いた電子ビーム応用装置例文帳に追加

ELECTRONIC BEAM CURRENT MEASURING TECHNOLOGY AND ELECTRONIC BEAM APPLICATION DEVICE USING IT - 特許庁

パルス光伝播時間計測装置および仮想マウス等の応用装置例文帳に追加

INSTRUMENT FOR MEASURING PROPAGATION TIME OF PULSE LIGHT, AND APPLICATION DEVICE SUCH AS VIRTUAL MOUSE - 特許庁

観察対象物体の断層像を、高い解像力とコントラストを持って観察し、計測にも応用可能な光画像計測装置を提供する。例文帳に追加

To provide an optical image measuring device capable of observing a tomogram of an observation target object with high resolution and contrast, and applicable also to measurement. - 特許庁

走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式例文帳に追加

ULTRA-HIGH SENSITIVITY DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM APPLIED BY SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE - 特許庁

電流センサおよび電流計測方法、その応用の三相交流電源モニタなど例文帳に追加

CURRENT SENSOR, CURRENT MEASURING METHOD, AND THREE-PHASE ALTERNATING CURRENT POWER SOURCE MONITOR OR THE LIKE APPLIED THEREWITH - 特許庁

入射したレーザ光の光学特性を計測する光学特性計測装置、およびその原理を応用した光学式変位計において、簡易な光学系で各種計測を可能とする構成を提供すること。例文帳に追加

To provide a structure which enables various kinds of instrumentations by a simple optical system, in an optical characteristics measuring arrangement for measuring the optical characteristics of incident laser light, and an optical displacement gauge to which its principle is applied. - 特許庁

プラズマ電位を、プローブ計測器に頼ることなく、質量分析器を応用して、イオン種の分析と併せて計測でき、質量分析とプラズマ電位計測の双方を行える割りには安価に済むプラズマ電位計測方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a plasma potential measuring method and device for measuring plasma potential along with an analysis of ion species applying a mass spectrometer without depending on a probe measuring instrument at a low cost considering that both mass spectrometry and plasma potential measurement can be performed. - 特許庁