限界電圧検査の英語

より厳しい検査電圧及びライトリカバリ時間の下でこれらのメモリセルの検査を行って、メモリセルをさらなるストレスの下に置き、弱い、または動作限界近くで良好なメモリセルを明らかにする。例文帳に追加

Memory cells are inspected under a stricter inspection voltage and write recovery time, and the memory cells are placed under larger stress, thereby identifying memory cells weak or good near a operational limit. - 特許庁

より厳しい検査電圧及びライトリカバリ時間の下でこれらのメモリセルの検査を行って、メモリセルをさらなるストレスの下に置き、弱い、または動作限界近くで良好なメモリセルを明らかにする。例文帳に追加

Weak or satisfactory memory cells are clarified by inspecting these memory cells under a severer inspection voltage and write recovery time, and locating the memory cells under further severer stress. - 特許庁