電気的試験の英語

電気化学的試験・分析用電極および装置例文帳に追加

ELECTRODE AND DEVICE FOR ELECTROCHEMICAL TEST/ANALYSIS - 特許庁

プローブピン及び電気的特性試験部材例文帳に追加

PROBE PIN AND ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING MEMBER - 特許庁

多重アレイの多重特異的な電気化学発光試験例文帳に追加

MULTI-ARRAYED MULTI-SPECIFIC ELECTROCHEMILUMINESCENCE TESTING - 特許庁

多重アレイの多重特異的な電気化学発光試験例文帳に追加

MULTI-SPECIFIC ELECTROCHEMILUMINESCENCE TEST FOR MULTI-ARRAY - 特許庁

電気的接続装置及びこれを用いる試験装置例文帳に追加

ELECTRICAL CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE USING THE SAME - 特許庁

リード挿入型半導体素子の電気的試験装置例文帳に追加

ELECTRICAL TESTER OF LEAD INSERT TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体装置の電気的特性試験装置例文帳に追加

ELECTRICAL PROPERTY TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。例文帳に追加

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board. - 特許庁