電界イオン顕微鏡法の英語

電界イオン顕微鏡観察用針状試料作製方法例文帳に追加

METHOD OF FABRICATING ACICULAR SAMPLE FOR FIELD ION MICROSCOPY - 特許庁

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法例文帳に追加

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体例文帳に追加

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE - 特許庁

所望の箇所での観察が可能な電界イオン顕微鏡観察用針状試料作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of fabricating an acicular sample for field ion microscopy which can be observed at a desired part. - 特許庁

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。例文帳に追加

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar. - 特許庁