電界イオン顕微鏡の英語

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。例文帳に追加

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image. - 特許庁

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法例文帳に追加

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体例文帳に追加

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE - 特許庁

本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。例文帳に追加

This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator. - 特許庁

試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system. - 特許庁

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。例文帳に追加

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope. - 特許庁

所望の箇所での観察が可能な電界イオン顕微鏡観察用針状試料作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of fabricating an acicular sample for field ion microscopy which can be observed at a desired part. - 特許庁

気体電界イオン源（電界電離ガスイオン源）の導電性先端（針状電極先端）の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source). - 特許庁