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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 英和GIS用語 > SYSTEM UNDER TESTの意味・解説 

SYSTEM UNDER TESTとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 テスト対象システム(テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT)は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。

英和GIS用語集での「SYSTEM UNDER TEST」の意味

system under test


「SYSTEM UNDER TEST」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 99



例文

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト(DUT)の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL例文帳に追加

多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁

MORTAR PRODUCT UNDER TEST AND CEMENT QUALITY CONTROL SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

モルタル供試体およびそれを用いたセメントの品質管理システム - 特許庁

METHOD FOR DIAGNOSING DATA PACKET TRANSFER FAILURE IN SYSTEM UNDER TEST例文帳に追加

被試験システムにおいてデータパケット転送障害を診断する方法 - 特許庁

To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

例文

intended to test a new system under operating conditions and to familiarize the operators with the system発音を聞く 例文帳に追加

動作条件下で新しいシステムを試験し、オペレーターをシステムに慣れさせることを目的とする - 日本語WordNet

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Weblio英和対訳辞書での「SYSTEM UNDER TEST」の意味

System under test


system under test

Weblio英和対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「SYSTEM UNDER TEST」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 99



例文

The reticle 1 is placed at the front focusing point of an optical system 2 which is under the test.例文帳に追加

レチクルには、複数の位置に計測パターン1a、1bが形成されている。 - 特許庁

Then, a system under test 110 executes a failure processing in accordance with the error bit.例文帳に追加

試験対象システム110はエラービットに従って障害処理を実行する。 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス(DUT)のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのDUTの応答出力を検証する。 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

Consequently, test of a multi-system portable terminal, system automatic identification of the portable terminal, connection test between terminals of different systems, test under interference with other system, self-diagnosis and remote test can be carried out.例文帳に追加

これによって、マルチシステム携帯端末の試験、携帯端末のシステム自動識別、異なるシステムの端末間における接続試験、他のシステムの干渉下における試験、自己診断およびリモート試験が可能となる。 - 特許庁

The system under test 110 also executes the failure processing for the delayed interruption.例文帳に追加

また、試験対象システム110は遅延した割込みに対して障害処理を実行する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁

例文

By shining ultraviolet light (58) along the system under test (50), the fluorescent trace (54)is illuminated.例文帳に追加

システム(50)に沿って紫外線(58)を当てることにより、蛍光トレース(54)が照らされる。 - 特許庁

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