X-rays fluorescence analysisとは 意味・読み方・使い方

To provide a method and apparatus capable of properly searching for fluorescence X-rays or component to be used in the overlap correction of analytic rays in fluorescence X-ray analysis to display the same.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析において、分析線の重なり補正に用いるべき蛍光Ｘ線または成分を適切に検索して表示できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate impure rays from a sample holder for X-ray fluorescence analysis and improve sensing limitation and analysis accuracy by suppressing a background, in the sample holder for X-ray fluorescence analysis for pre-treating a liquid sample and analyzing a component and a method and a device for X-ray fluorescence analysis using the same.例文帳に追加

液体試料を前処理して含有成分を蛍光Ｘ線分析するために用いられる蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置において、蛍光Ｘ線分析用試料保持具からの不純線をなくし、バックグラウンドを抑制して検出限界を向上させるとともに分析精度を向上させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a fluorescence X-ray analyzer capable of suppressing the generation of higher-order diffracted X rays or escape peaks and to accurately and precisely perform analysis.例文帳に追加

高次の回折Ｘ線やエスケープピークの発生を抑制し、分析を正確に精度よく行うことができる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method which suppresses components vaporizing from a solid sample and can accurately analyze the components being easily vaporized by irradiation with X-rays, when the solid sample is analyzed by using an X-ray fluorescence analysis system.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置により固体試料の分析を行う際に、当該試料からの成分揮発を抑制し、Ｘ線の照射により揮発しやすい成分についても正確に分析できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence X-ray analyzer which can significantly improve the utilization efficiency and the measuring limit of X rays by using a secondary target method ideal for the analysis of light elements.例文帳に追加

軽元素分析に好適な２次ターゲット法を用いて、Ｘ線の利用効率および測定限界を大幅に向上できる全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus which can fully, promptly and precisely analyze using an inexpensive and simple structure by preventing diffraction rays, which become interfering rays, from being generated on the side of the X-ray source in an apparatus for X-ray fluorescence analysis analyzing samples having crystal structures.例文帳に追加

結晶構造を有する試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、妨害線となる回折線をＸ線源側で発生しないようにすることにより、十分迅速で正確な分析ができ、安価で簡単な構造の装置を提供する。 - 特許庁