| 意味 | 例文 (80件) |
automatic probeとは 意味・読み方・使い方
追加できません
(登録数上限)
「automatic probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 80件
AUTOMATIC POSITIONING SCANNING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ - 特許庁
AUTOMATIC POSITION MOVING DEVICE FOR ULTRASONIC IMAGING PROBE例文帳に追加
超音波像映用自動位置移動装置 - 特許庁
PROBE CARD AUTOMATIC EXCHANGING MECHANISM AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
プローブカード自動交換機構及び検査装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC PROBE INSPECTION例文帳に追加
オートプローブ検査方法及びオートプローブ検査装置 - 特許庁
PROBE FOR AUTOMATIC INSPECTION DEVICE OF ELECTRIC DEVICE AND AUTOMATIC INSPECTION DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
電子機器の自動検査装置用プローブ及びその自動検査装置 - 特許庁
AUTOMATIC COATING REMOVAL DEVICE OF COMBUSTION GAS BLEEDING PROBE例文帳に追加
燃焼ガス抽気プローブの自動コーティング除去装置 - 特許庁
-
履歴機能
過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断
診断回数が
増える! -
マイ単語帳
便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳
文章で
単語を理解! -
「automatic probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 80件
DISPENSING PROBE CLEANING METHOD AND AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS例文帳に追加
分注プローブ洗浄方法および自動分析装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MANAGING PROBE CARD OF AUTOMATIC HANDLER FOR TAB例文帳に追加
TAB用オートハンドラのプローブカード管理装置及び管理方法 - 特許庁
An automatic analysis apparatus comprises a sampling probe, a sampler and a reader.例文帳に追加
この自動分析装置は、サンプリングプローブと、サンプラと、読取り部とを有する。 - 特許庁
WASH LIQUID FOR PROBE FOR CLINICAL TEST AUTOMATIC ANALYZER AND METHOD FOR WASHING例文帳に追加
臨床検査自動分析装置用プローブの洗滌液および洗滌法 - 特許庁
PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND AUTOMATIC CALIBRATION METHOD例文帳に追加
表面形状測定用触針式段差計及びその自動較正方法 - 特許庁
The strength degradation of the probe card 1 can be suppressed even if the probe card 1 is made of the resin used for a full-automatic prober.例文帳に追加
プローブカードが、フルオートプローバに用いられる樹脂製ものであっても、その強度の劣化を抑えることができる。 - 特許庁
METHOD FOR CLEANING PROBE IN ANALYTE DISPENSING DEVICE, ANALYTE DISPENSING DEVICE AND AUTOMATIC ANALYZER例文帳に追加
検体分注装置のプローブ洗浄方法、検体分注装置及び自動分析装置 - 特許庁
To provide an automatic visual inspection device capable of certainly performing the automatic visual inspection in the chip invalid region of a semiconductor wafer and capable of preventing the probe of a probe device from being damaged by the foreign matter adhered to the chip invalid region when inspecting the probe, and an automatic visual inspection method.例文帳に追加
半導体ウェーハのチップ無効領域における自動外観検査を確実にし、プローブ検査時にチップ無効領域に付着した異物によりプローブ装置における探針が破損するのを防止することのできる外観検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁
|
| 意味 | 例文 (80件) |
|
|
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
-
1proper
-
2take
-
3plea
-
4bilateral
-
5victims
-
6meet
-
7go
-
8responsible
-
9condominium
-
10eat
「automatic probe」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|