burn-in test systemとは 意味・読み方・使い方

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

The burn-in test system includes the integrated circuit system 100 including the CPU 110 and a tester 20.例文帳に追加

ＣＰＵ１１０内蔵の集積回路装置１００と、テスタ２０を含むバーインテストシステムである。 - 特許庁

In a test-burn-in system, 24 test boards are sequentially processed having time difference, and the test boards circulate.例文帳に追加

テストバーンイン装置において、２４枚のテストボードは順次時間差を持って処理されることになり、各々のテストボードは１枚単位で循環する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit device test system and an integrated circuit device test method for efficiently performing a burn-in test.例文帳に追加

効率よくバーンインテストを行うことができる、集積回路装置のテストシステム、及び集積回路装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

QUALITY JUDGING BOARD FOR BURN-IN TEST SYSTEM AND QUALITY JUDGMENT RESULT MEMORY METHOD例文帳に追加

バーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

To provide a burn-in test system capable of transferring a test signal at a high speed.例文帳に追加

本発明の課題は、高速なテスト信号の転送が可能となるバーンインテストシステムを提供することである。 - 特許庁

A DRAM 1 of a packet, system operated with an operation frequency of several hundreds MHz is provided with a burn-in mode in which a memory test is performed with an operation frequency of several tens MHZ at the time of a burn-in test.例文帳に追加

数百ＭＨＺの動作周波数で動作するパケット方式のＤＲＡＭ１は、バーンインテスト時には数十ＭＨｚの動作周波数でメモリテストを行うバーンインモードを備えている。 - 特許庁