element testsとは 意味・読み方・使い方

Logical element tests, dyadic photomaps as operands, various operators.例文帳に追加

dyadic フォトマップをオペランドとして使う。 様々な演算子を使用。 - XFree86

MatchHistogram element tests, using various images and histogram matchingtechniques.発音を聞く 例文帳に追加

\\-matchhistogram1 〜 \\-matchhistogram18 様々なイメージとヒストグラムマッチング技術を用いた、MatchHistogram 要素のテスト。 - XFree86

To reduce the costs of element tests, and to improve the work efficiency.例文帳に追加

素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図る。 - 特許庁

Arithmetic element tests, photomap and constant operands, ROIs, unconstrained. -band1例文帳に追加

フォトマップと定数をオペランドとして用い、ROI と組み合わせ、制約は与えない。 - XFree86

Arithmetic element tests, using photomapsas the operands, with Control Planes.発音を聞く 例文帳に追加

フォトマップをオペランドとして用い、制御プレーンと組み合わせる。 \\-arithmeticmonadiccplane1 〜 \\-arithmeticmonadiccplane9 算術要素のテスト。 - XFree86

By using the element-testing apparatus to which such a contact pin 1 is mounted, it is possible to accurately perform element testings, reduce the cost of the element tests and improve the working efficiency.例文帳に追加

このようなコンタクトピン１を搭載した素子試験装置を用いれば、精度よく素子試験を遂行することができ、素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図ることができる。 - 特許庁

Thus, the element of the position with the sensitivity change can be also considered in the graph showing results of periodically conducted visual field tests with time.例文帳に追加

したがって、定期的に行った視野検査結果を経時的に示すグラフにおいて、感度変化のあった場所の要素も考慮できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device on which a semiconductor element can be repaired easily, when it becomes clear that the element is defective or improperly connected as a result of post-connection tests.例文帳に追加

接続後のテストで不良と判明した半導体素子または接続に不良があった半導体素子を簡単にリペアでき、かつ接続信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁