「element tests」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Tests to exercisethe various FAX decoders and the Geometry element. 例文帳に追加

\\-geomg31dscale1 〜 \\-geometryfaxradio1 様々な FAX デコーダと Geometry 要素を試すテスト。 - XFree86

A selection of MatchHistogram element tests, with Control Planes. 例文帳に追加

\\-matchhistogramcplane1 〜 \\-matchhistogramcplane6 MatchHistogram 要素のテストの抜粋。 制御プレーンを用いる。 - XFree86

Logical element tests, dyadic photomaps as operands, various operators.例文帳に追加

dyadic フォトマップをオペランドとして使う。 様々な演算子を使用。 - XFree86

MatchHistogram element tests, using various images and histogram matchingtechniques. 例文帳に追加

\\-matchhistogram1 〜 \\-matchhistogram18 様々なイメージとヒストグラムマッチング技術を用いた、MatchHistogram 要素のテスト。 - XFree86

To reduce the costs of element tests, and to improve the work efficiency.例文帳に追加

素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図る。 - 特許庁

Arithmetic element tests, photomap and constant operands, ROIs, unconstrained. -band1例文帳に追加

フォトマップと定数をオペランドとして用い、ROI と組み合わせ、制約は与えない。 - XFree86

Arithmetic element tests, using photomapsas the operands, with Control Planes. 例文帳に追加

フォトマップをオペランドとして用い、制御プレーンと組み合わせる。 \\-arithmeticmonadiccplane1 〜 \\-arithmeticmonadiccplane9 算術要素のテスト。 - XFree86

By using the element-testing apparatus to which such a contact pin 1 is mounted, it is possible to accurately perform element testings, reduce the cost of the element tests and improve the working efficiency.例文帳に追加

このようなコンタクトピン１を搭載した素子試験装置を用いれば、精度よく素子試験を遂行することができ、素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図ることができる。 - 特許庁

Thus, the element of the position with the sensitivity change can be also considered in the graph showing results of periodically conducted visual field tests with time.例文帳に追加

したがって、定期的に行った視野検査結果を経時的に示すグラフにおいて、感度変化のあった場所の要素も考慮できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device on which a semiconductor element can be repaired easily, when it becomes clear that the element is defective or improperly connected as a result of post-connection tests.例文帳に追加

接続後のテストで不良と判明した半導体素子または接続に不良があった半導体素子を簡単にリペアでき、かつ接続信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁

Then the potential change of each lead pin is determined by the gate circuit 16 for tests, and the results of the determination are announce by the lightening of a light emitting element 18.例文帳に追加

そして、各リードピンの電位変化を、テスト用ゲート回路１６で判定し、その判定結果を発光素子１８の点灯により報知する。 - 特許庁

To consider an element of a position (measurement position) with sensitivity change as well in a graph showing results of periodically conducted visual field tests with time.例文帳に追加

定期的に行う視野検査結果を経時的に示すグラフにおいて、感度変化のあった箇所（測定箇所）の要素も考慮できるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting an electronic element, which can easily determine small-scale defects such as short circuits without the need of providing an electronic element characteristic inspection apparatus that tests characteristics of an electronic element in an energized state.例文帳に追加

電子素子を検査する場合、通電状態で特性を試験する電子素子の特性検査装置を設ける必要がなく、また、短絡等の小規模の不良を判定することが容易である電子素子の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The friction testing device tests by contacting the friction element 24 to the specimen S mounted on a table 3 in a load condition by a load mechanism 11 and reciprocating the table 3.例文帳に追加

テーブル３に載せた試験片Ｓに対して摩擦子２４を負荷機構１１による負荷条件にて当接させ、テーブル３を往復移動させて試験を行う装置である。 - 特許庁

Some tests, such as -modify1,-await, -abort, and -redefine, perform additional steps within the test function inner loop, as required by the element being tested, or in an attempt to make the test more visually appealing.例文帳に追加

テストによっては(-modify1,-await, -abort, -redefine 等)、テスト関数の内部ループ内で追加のステップを実行する。 これはテストされる要素の要求に応じるためや、テストの見栄えを良くするために行われる。 - XFree86

A test body 7 which tests the operation of the buzzer by reflecting the irradiation light 31 from the infrared LED element 3 and receiving it by the photodiode element 4 is so provided that it can freely be operated from the outside of its main body 5 to exit into the smoke detection chamber 2.例文帳に追加

赤外ＬＥＤ素子３による照射光３１を反射しホトダイオード素子４に受光させてブザーの動作試験を行う試験体７を、煙検知室２内に向けてその本体５外部から出退操作自在となるように設ける。 - 特許庁

The test terminals 114a, b tests the light receiving layer 130 in a stage in the middle of manufacturing the solid-state image pickup element, and continuation of following manufacturing steps is stopped if it is determined to be faulty.例文帳に追加

この固体撮像素子の製造途中の段階でテスト用端子１１４ａ，ｂで受光層１３０の検査を行い、不良品と判定したときは以後の製造工程の継続を中止する。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for sealing an optical semiconductor which ensures a stable reliability in moisture resistance reliability tests such as PCT and THB, even when sealing an optical semiconductor element having Al lines as metal lines.例文帳に追加

金属配線としてＡｌ配線を有する光半導体素子を封止しても、ＰＣＴやＴＨＢ等の耐湿信頼性試験において、安定した信頼性を確保することができる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a resin paste for a semiconductor which is excellent in the adhesion strength at a high temperature and has a low modulus of elasticity under elevated temperatures, and is free from the detachment of the semiconductor resin paste layer or the erosion of a wiring in a semiconductor element in solder crack resistance and moisture resistance tests.例文帳に追加

熱時の接着強度に優れ且つ熱時低弾性率であり、耐半田クラック性試験及び耐湿試験において半導体用樹脂ペースト層の剥離や半導体素子の配線腐食が起こらない信頼性に優れた半導体用樹脂ペーストを提供する。 - 特許庁

By constituting the mark body 3 separately from the contour body 2, the mark 5 formation on each model and the calibration tests on the sensor and the magnetic force can be omitted, and the wind tunnel model 1 can be manufactured at low cost and the wind tunnel test can be performed efficiently both in time and in cost system 5 of the light receiving element 6.例文帳に追加

マーク体３を外形体２とは別構成とすることで、模型毎のマーク５の形成やセンサ及び磁力についての較正試験を省略して、風洞模型１を低コストで製作し、風洞試験を時間的・コスト的に効率良く実施することができる。 - 特許庁

To obtain a polybutylene terephthalate composition excellent in impact resistance, hydrolysis resistance and viscosity stability, further excellent in heat-cycle properties obtained by repeating a low-temperature and high- temperature tests, and thereby useful for a machine mechanism element, an electric or electronic part or an automotive part, having an inserted metal.例文帳に追加

衝撃強度、加水分解性および粘度安定性に優れ、さらには低温と高温試験を繰り返すヒートサイクル性に優れるため、金属がインサートされた機械機構部品、電気電子部品または自動車部品に有用なポリブチレンテレフタレート樹脂組成物および成形品を得ることを課題とする。 - 特許庁

An aggregate 61 of conductive fibers is provided as the terminal, which is made up in an outer shape having an almost flat surface whose elastic coefficient is lower than that of the bulk of a material making up an electrode of a semiconductor element 1, thereby preventing the molten marks in the terminal and flaws in the chip electrode from occurring, and enabling the tests to be carried out continuously.例文帳に追加

半導体素子１の電極を形成する材料のバルクの弾性係数より低い弾性係数を有し、ほぼ平坦な面を有する外形に形成して導電性繊維の集合体６１を接触子とすることでチップ電極のキズや接触子の溶融痕の発生を防ぎ、連続試験を可能とする。 - 特許庁

To improve precision in test inspection, and to contribute to the improvement of safety in electrical appliances by achieving a coil withstand voltage tester that prevents switching noise from affecting the detection of corona discharge even if a switching element is switched when starting tests when testing coil withstand voltages and can generate high withstand test voltages.例文帳に追加

コイル耐圧試験器に関し、コイル耐圧を試験する際、試験開始時にスイッチング素子のスイッチングを行っても、そのスイッチングノイズがコロナ放電の検出に影響せず、また、高い耐圧試験電圧を発生させることが可能なコイル耐圧試験器を実現し、試験検査の精度を向上し，電気製品の安全性向上に寄与する。 - 特許庁

To provide a device and method for power-saving driving of a same-load pattern device which can minimize the amount of loss in consideration of loss characteristics of all components, without obtaining loss characteristics data by conducting preliminary tests on the electrical characteristics of wiring, presence/absence of an electromagnetic noise eliminating element, loss characteristics and temperature change of each motor, etc.例文帳に追加

配線の電気的特性、電磁ノイズ除去用素子の有無、モータごとの損失特性及び温度変化、等を予め実験して損失特性のデータを取得することなく、すべての構成要素の損失特性を考慮して損失量を最小化することができる同一負荷パターン装置の省電力駆動装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a constitution enabling necessary measurements and testings in measuring electrostatic discharge resistance and electrostatic discharge failure tests in a continuity state, after the element voltage prior to a similar trigger state, by setting low the value of the input line voltage, and while maintaining at the increase rate of the input line voltage a low value.例文帳に追加

静電気放電耐性特性の測定、及び静電気破壊試験において、同程度のトリガー状態以前の素子電圧の後における導通状態において、入力ライン電圧の値を低く設定し、更には当該入力ライン電圧の上昇率を低い値としながら必要な測定及び試験を可能とする構成を提供すること。 - 特許庁

To provide a power-saving driving device and a method for an identical load pattern apparatus which consider the loss characteristics of all components to minimize an amount of loss without obtaining loss characteristics data by conducting preliminary tests on wiring electric characteristics, the presence/absence of an electromagnetic noise eliminating element, the loss characteristics of each motor, a temperature change, etc.例文帳に追加

配線の電気的特性、電磁ノイズ除去用素子の有無、モータごとの損失特性及び温度変化、等を予め実験して損失特性のデータを取得することなく、すべての構成要素の損失特性を考慮して損失量を最小化することができる同一負荷パターン装置の省電力駆動装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The probe device which tests electric characteristics of a semiconductor element region formed on a wafer includes a wafer driving stage on which the wafer is placed, a probe card provided with a plurality of probe needles electrically connected to an electrode part formed in the semiconductor element region, and a test head in which the probe card is installed, the test head being movable in a direction perpendicular to the wafer surface.例文帳に追加

ウエハに形成された半導体素子領域における電気的な特性の試験を行うプローブ装置において、前記ウエハが設置されるウエハ駆動ステージと、前記半導体素子領域に形成された電極部と電気的に接続されるプローブ針が複数設けられたプローブカードと、前記プローブカードが設置されるテストヘッドと、を有し、前記テストヘッドは、前記ウエハ面に対し垂直方向に移動させることができるものであることを特徴とするプローブ装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

The electro-optical apparatus is provided with a plurality of external circuit connection terminals which are arrayed along one side of a projected area projected from a counter substrate on one side of a peripheral area of an element substrate, and to which an external circuit for supplying various signals for displaying images on a plurality of display elements is connected and testing image signals are collectively supplied in the case of performing display tests.例文帳に追加

電気光学装置は、素子基板上における周辺領域のうちその一辺において対向基板から張り出している張出領域に、その一辺に沿って配列され、複数の表示素子に画像表示させるための各種信号を供給する外部回路が接続されると共に、表示検査の際に、一括して検査用画像信号が供給される複数の外部回路接続端子を備える。 - 特許庁

This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the developing layer is not broken by 20 times or less of 25g continuous load surface abrasion repetition tests.例文帳に追加

水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも１つの機能層と少なくとも１つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該粒状構造物展開層が２５gの連続荷重表面擦り繰り返し試験において２０回以下では破壊しないことを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁