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high speed testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 高速テスト
「high speed test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 306件
TEST JIG AND PROBE FOR TEST APPARATUS OF DEVICE FOR HIGH FREQUENCY AND HIGH SPEED例文帳に追加
高周波・高速用デバイスの検査治具および検査用プローブ - 特許庁
To compactly generate a test series of high test quality for an actual working speed function test.例文帳に追加
実動作速度機能テストにおけるテスト品質の高いテスト系列をコンパクトに生成する。 - 特許庁
HIGH SPEED TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の高速テスト - 特許庁
To efficiently test semiconductors at high speed.例文帳に追加
半導体装置の試験を効率的に且つ高速に行う。 - 特許庁
HIGH SPEED INTERCONNECT CIRCUIT TEST METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
高速相互接続回路テスト方法並びに装置 - 特許庁
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「high speed test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 306件
HIGH-SPEED DIGITAL RADIOGRAPHY TEST FOR FUSELAGE OF AIRCRAFT例文帳に追加
航空機の胴体の高速ディジタル放射線写真検査 - 特許庁
To enable implementation of a high-quality, high-speed memory test even when using a low-speed tester.例文帳に追加
低速のテスタを用いた場合でも、高品質で高速のメモリテストを実施可能にすること。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage and a test method which can perform a read-out test at high speed.例文帳に追加
高速で読出しテストを行なうことができる半導体記憶装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加
ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE例文帳に追加
高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a test board that can test multiple devices to be tested separately at high speed.例文帳に追加
複数の被テストデバイスのテストを高速かつ個別に行えるテストボードを提供する。 - 特許庁
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