in-process defectとは 意味・読み方・使い方

To rapidly evaluate a crystal defect occurring in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程で生じた結晶欠陥を迅速に評価すること。 - 特許庁

The method for handling the defect of the hard disk drive comprises a process of detecting a potential defect which can develop to a defect in the future and a process of alternating the potential defect to an alternate area.例文帳に追加

将来に欠陥に発展できる潜在的欠陥を検出する過程，及び潜在的欠陥を代替領域に代替する過程を含む欠陥処理方法である。 - 特許庁

To detect a lapping defect in line in a process of producing a welding wire.例文帳に追加

溶接用ワイヤの製造工程においてラップ不良をインラインで検出する。 - 特許庁

FIELD PATTERN DEFECT DETECTION METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程におけるＦｉｅｌｄパターン欠陥検出方法 - 特許庁

To correct inner and/or external defect in an image capture process.例文帳に追加

画像取込みプロセスの内部および／または外部欠陥を補正すること。 - 特許庁

In a process 15, the defect distribution provided in the process 14 is determined as a function of film thinning quantities of insulating films provided in the process 12.例文帳に追加

過程１５は、過程１４で得られた欠陥分布を過程１２で得られた絶縁膜の薄膜化量の関数として確定する。 - 特許庁

Rank determination of the liquid crystal panel is performed based on a defect area of the irregular defect and average brightness detected in the irregular defect detection process (ST300) (rank determination process ST400).例文帳に追加

ムラ欠陥検出工程（ＳＴ３００）にて検出されたムラ欠陥の欠陥面積、平均輝度に基づいて液晶パネルをランク判定する（ランク判定工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

JUDGING METHOD OF SURFACE DEFECT EVALUATION ON CAST SLAB IN CONTINUOUS CASTING PROCESS例文帳に追加

連続鋳造プロセスにおける鋳片の表面欠陥評点判定方法 - 特許庁