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incident electronとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 入射電子
「incident electron」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 203件
ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE MEASURING APPARATUS, ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE DISTRIBUTION MEASURING APPARATUS, ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS, ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE MEASURING METHOD AND ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE DISTRIBUTION MEASURING METHOD例文帳に追加
電子線入射角度測定装置、電子線入射角度分布測定装置、電子線露光装置、電子線入射角度測定方法及び電子線入射角度分布測定方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND CALIBRATION METHOD OF INCIDENT ANGLE OF ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線装置および電子ビームの入射角度較正方法 - 特許庁
A shutter shields the electron beam to prevent the electron beam emitted from the electron gun from being incident into the wafer.例文帳に追加
シャッタが、電子銃から出射された電子線がウエハに入射しないように電子線を遮蔽する。 - 特許庁
Suppose the specimen diffracts the incident electron beam.発音を聞く 例文帳に追加
試料が入射電子ビームを回折させると仮定する。 - 科学技術論文動詞集
Intercepting parts 20b intercept the incident electron beams.例文帳に追加
遮断部20bは、入射された電子線ビームを遮断する。 - 特許庁
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「incident electron」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 203件
The device is equipped with a beam incident angle control device 32 to make incident angle α of incident electron beam change, and the incident angle α of incident electron beam which is made incident into a collision point is changed.例文帳に追加
電子ビームとレーザ光の所定の衝突点5に入射する電子ビームの入射角度αを変化させるビーム入射角制御装置32を備え、衝突点に入射する電子ビームの入射角度αを変化させる。 - 特許庁
A wafer is held on a stage at a position where an electron beam emitted from an electron gun is incident.例文帳に追加
電子銃から出射された電子線が入射する位置にウエハがステージに保持される。 - 特許庁
A proper incident electron acceleration voltage is selected so that incident electrons reach the variable layer.例文帳に追加
入射電子が可変層に到達するよう適切な入射電子加速電圧を選択する。 - 特許庁
an electron that is emitted from an atom or molecule by an incident photon発音を聞く 例文帳に追加
入射光子によって、原子か分子から放たれている電子 - 日本語WordNet
When the aperture for incident angle adjustment 1 is irradiated with an electron beam, an electron beam 6 which is vertically made incident on the aperture for incident angle adjustment 1 can pass through the aperture for incident angle adjustment 1.例文帳に追加
電子線を入射角調整用アパーチャ1に照射すると、入射角調整用アパーチャ1にほぼ垂直に入射する電子ビーム6は入射角調整用アパーチャ1を通過できる。 - 特許庁
The anti-scanning deflector is used for correction of scanning of the incident electron beams.例文帳に追加
反走査デフレクタは、入射電子ビームの走査の補正に使用される。 - 特許庁
The transmitted electron beam 3a is incident on an image detector 8 through a slit 6 and the image detector 8 obtains an electron beam diffraction image by the incident transmitted electron beam 3a.例文帳に追加
透過電子線3aはスリット6を介して画像検出装置8に入射され、画像検出装置8は、入射された透過電子線3aによって電子線回折像を得る。 - 特許庁
By the above, the electron emitted from the photoelectric face 11 of the photoelectric face plate 10 can be made incident on the p^+ layer 45 functioning as an electron incident face.例文帳に追加
よって、光電面板10の光電面11から放出された電子を、電子入射面であるp^+層45の表面に入射させることができる。 - 特許庁
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