ion probeとは 意味・読み方・使い方

The probe device reduces adverse effect on the sample caused by sputter particles generated by ion beam irradiation to the probe, debris of the probe, and the ion beams passing through the vicinity of the probe.例文帳に追加

本発明により、プローブへのイオンビーム照射により発生したスパッタ粒子，プローブの破片，プローブの近傍を通過したイオンビームなどによる試料などへの悪影響を低減できる。 - 特許庁

In a probe device having an ion beam system for irradiating an ion beam, and a probe control device for driving the probe arranged in a vacuum sample chamber, a zone for processing the probe with ion beams is arranged in the sample chamber, and sputter particles of the probe and ion beams passing through in the vicinity of the probe are captured in the zone.例文帳に追加

本発明は、イオンビームを照射できるイオンビーム装置と、真空試料室内に配置されたプローブを駆動するプローブ制御装置と、を備えたプローブ装置において、プローブをイオンビームで加工するための領域を試料室内に設け、プローブのスパッタ粒子やプローブ近傍を通過したイオンビームを当該領域に捕捉させることに関する。 - 特許庁

Preferably, an oxide film is removed from the tip end of the probe without exposing the probe in the atmosphere through dry processing using an ion source or the like, and the probe is housed in the probe housing container.例文帳に追加

好ましくは、大気暴露することなく、イオン源等を用いたドライ処理により探針先端部の酸化膜を除去し、探針を探針収納容器に収容する。 - 特許庁

Identification of the position of the probe tip is easily identified, by synchronizing the incoming current of a carrying probe, with ion beam scanning and turning into data.例文帳に追加

特に、搬送用プローブの流入電流をイオンビーム走査と同期させてデータ化することで、プローブ先端位置の同定を容易にする。 - 特許庁

A sensor probe and a standard probe are arranged in the layer of the ion-exchange material in a vertical direction and mutually shifted.例文帳に追加

センサプローブおよび基準プローブは、イオン交換材の層内に、垂直方向に相互にずらして配置される。 - 特許庁

The groove 30, having a surface 30M perpendicular to a central axis O of the probe, is formed in a part near the tip of the probe 18' by means of the focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームにより、プローブ１８′の先端に近い部分に、プローブ中心軸Ｏに垂直な面３０Ｍを有する溝３０を作る。 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁