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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 機械工学英和和英辞典 > manufacturing defectの意味・解説 

manufacturing defectとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 製造欠陥

機械工学英和和英辞典での「manufacturing defect」の意味

manufacturing defect


「manufacturing defect」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 1727



例文

There was a manufacturing defect.例文帳に追加

製造上の欠陥がありました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

MANUFACTURING DEFECT FACTOR ANALYSIS SUPPORT DEVICE例文帳に追加

製造不良要因分析支援装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁

MASK FOR DEFECT INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査用マスク及び欠陥検査用マスクの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF COIL WITH DEFECT MARKED THEREON例文帳に追加

欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁

例文

DEFECT EXAMINATION APPARATUS, DEFECT EXAMINATION METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR LENS SHEETS例文帳に追加

レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置 - 特許庁

>>例文の一覧を見る

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JST科学技術用語日英対訳辞書での「manufacturing defect」の意味

manufacturing defect


日英・英日専門用語辞書での「manufacturing defect」の意味

manufacturing defect


「manufacturing defect」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 1727



例文

DEFECT REVIEWING SYSTEM, DEFECT REVIEWING METHOD, DEFECT ANALYZING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW SYSTEM, DEFECT REVIEW METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

欠陥レビューシステム、欠陥レビュー方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERNED SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK, MANUFACTURING METHOD, AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法、製造方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

例文

DEFECT INSPECTION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

>>例文の一覧を見る


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