photoelectron spectroscopic measurementとは 意味・読み方・使い方

To provide a method of photoelectron spectroscopic analysis capable of realizing more accurate and efficient measurement of insulating material, and equipped with a charge relaxing function with a wide relaxation margin by relaxing uneven charge-up.例文帳に追加

本発明は、不均一なチャージアップを緩和し、緩和マージンの広いチャージ緩和機能を備えた、より高精度に効率的な絶縁物測定が実現できる光電子分光分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The surface of the magnetic layer 3 of the magnetic recording medium is measured with an X-ray photoelectron spectroscopic analyzer and the area ratio O/C of an O1s (oxygen) peak to a C1s (carbon) peak obtained by the measurement is adjusted to <2.0.例文帳に追加

磁気記録媒体の磁性層３表面をＸ線光電子分光分析装置で測定したときの、Ｏ１ｓ（酸素）ピークとＣ１ｓ（炭素）ピークの面積比Ｏ／Ｃ値を２．０未満にする。 - 特許庁

This method of photoelectron spectroscopic analysis for an insulating material has, at least, a conductive-film forming process for forming a conductive thin film near a measured position of a sample prior to measurement, and a measurement process for performing measurement while irradiating the measured position with electron rays and applying a voltage on the thin film.例文帳に追加

本発明は絶縁物試料のＸ線光電子分光分析法において、測定に先立ち、該試料の測定箇所近傍に導電性薄膜を形成する導電性薄膜形成工程と、該測定箇所に電子線を照射しつつ、かつ該導電性薄膜に電圧を印加しながら測定を行なう測定工程とを少なくとも有するＸ線光電子分光分析方法を提供する。 - 特許庁