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probe microanalyzerとは 意味・読み方・使い方
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「probe microanalyzer」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プロ—ブマイクロアナライザ - 特許庁
DATA PROCESSING METHOD IN ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER AND ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザにおけるデータ処理方法及び電子プローブマイクロアナライザ - 特許庁
PARTICLE ANALYZING DEVICE BY MEANS OF ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置 - 特許庁
GEOLOGICAL AGE MEASURING METHOD BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザによる地質年代測定法 - 特許庁
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「probe microanalyzer」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁
INCLUSION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プロ—ブマイクロアナライザによる試料の介在物分析方法 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁
To efficiently measure a geological age using an electron probe microanalyzer, and to efficiently display an age map.例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザを用いる地質年代測定と年代マップの表示を効率よく行う。 - 特許庁
To provide an electronic probe microanalyzer capable of accurately measuring the average compsn. of particles.例文帳に追加
粒子の平均組成を正確に測定することが可能な電子プローブマイクロアナライザを提供する。 - 特許庁
To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加
斜出射EPMA分析において、複数の波長分散形X線分光器に対するX線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁
To provide an electronic probe microanalyzer constituted so as to be capable of recognizing a correlation between the positional and geometrical characteristics of particles to be measured and the chemical compositional characteristics of them at a glance.例文帳に追加
測定粒子の位置及び幾何学上の特徴と化学組成の特徴の相互関係を一目で認識できるようにした電子プローブマイクロアナライザを提供する。 - 特許庁
To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.例文帳に追加
無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、EPMAによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁
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