roughness measuring systemとは 意味・読み方・使い方

SURFACE ROUGHNESS/CONTOUR SHAPE MEASURING SYSTEM例文帳に追加

表面粗さ／輪郭形状測定装置 - 特許庁

To provide a method and system for calibration between dissimilar measuring devices by roughness-adjusted sampling.例文帳に追加

ラフネスを考慮したサンプリングによる異種計測装置間のキャリブレーション方法及びそのシステムを提供する。 - 特許庁

There is provided a carbon dioxide discharge reduction system periodically measuring roughness of a propeller under water without docking the ship in service, and reducing fuel by implementing propeller maintenance management means, wherein, when the roughness is unsatisfactory, underwater polishing work is carried out to keep the propeller in a satisfactory state.例文帳に追加

就航中の船舶をドックに入れずに水中でプロペラの粗度を定期的に測定し、粗度が悪い場合は水中研磨をしてプロペラを良い状態に保つプロペラの保守管理手段を行い、燃料を削減する二酸化炭素排出量削減システムで。 - 特許庁

To provide a road surface quality measuring device for easily determining the IRI (International Roughness Index) of a road surface, and to provide a road surface management system effectively utilized for management of the road surface in a large area using this.例文帳に追加

路面のＩＲＩを簡易に求めることができる路面性能測定装置を提供し、これを用いて広い地域での路面の管理に有効に活用できる路面管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for accurately measuring the trial of the cuff of a fine pattern, and also to provide a semiconductor device manufacturing control system for deciding the processing accuracy on the basis of shape information, such as the height of pattern, tapering angle, amount of trail, and roughness.例文帳に追加

微細パターンのボトム部の裾引き形状を正確に計測する方法および計測装置を提供するとともに、パターン高さ、テーパー角、裾引き量およびラフネス等の形状情報に基づいて加工精度を判定する半導体デバイスの製造管理システムを提供する。 - 特許庁

This device is provided with an optical means 40 having at least one cameras 42, 42', and connected to an image collection processing system 48 capable of a geometric defect existing in each of the fuel rods 2 to be inspected, and is provided further with a roughness measuring instrument 50 controlled to measure a depth of the each geometric defect detected by the image collection processing system 48.例文帳に追加

この装置は、少なくとも１つのカメラ４２、４２’を有し、検査すべき各燃料棒２上に存在する幾何的欠陥を検出することができる画像収集処理システム４８に連結されている光学手段４０を備え、画像収集処理システム４８によって検出された各幾何的欠陥の深さを測定するように制御される粗さ測定器５０をさらに備える。 - 特許庁