scan FF selectionとは 意味・読み方・使い方

In a normal operation, an output of the scan output fixing NAND circuit 106 can be fixed by mode selection, so that the output of the scan output fixing NAND circuit 106 remains unchanged and that the power consumption of the scan FF can be reduced.例文帳に追加

通常動作時、スキャン出力固定用のＮＡＮＤ回路１０６からの出力をモードセレクトにより固定することができるため、スキャン出力固定用のＮＡＮＤ回路１０６の出力は変化せず、スキャンＦＦの消費電力を削減することができる。 - 特許庁

The scan separation circuit 10 is provided with a selector 11 for selecting anyone out of the two signal lines, in addition to a selector 12 for constituting a scan path and an FF 13 therefor, and a switch controlling data latched by the each FF 13 from a test input terminal 2 via the scan path is used as an input selection signal SL of the selector 11.例文帳に追加

スキャン分離回路１０には、スキャンパスを構成するためのセレクタ１２とＦＦ１３に加えて、２本の信号線の内のいずれか一方を選択するセレクタ１１が設けられ、このセレクタ１１の入力選択信号ＳＬとして、テスト入力端子２からスキャンパスを介してＦＦ１３にラッチされた切替制御用のデータを用いる。 - 特許庁

A timing deviation is retrained from being generated in a transfer of an FF data between respective output clocks COn, and execution of the test such as a scan test is facilitated, when the LSI operated by the clocks of the plural different frequencies is tested, by generating the output clocks COn of n-pieces in which the selection clocks SC are synchronized with the input clock CI.例文帳に追加

同期化手段１０３において、選択クロックＳＣを入力クロックＣＩにて同期させたｎ個の出力クロックＣＯｎを生成することにより、複数の異なる周波数のクロックで動作するＬＳＩの試験時において、各出力クロックＣＯｎ間でのＦＦのデータの受け渡しでタイミング違反が発生することを抑制することができ、スキャン試験等の試験の実施を容易にすることができる。 - 特許庁