scan flip-flop; scan FFの英語

With reference to the scan-designed semiconductor integrated circuit, a clocked scan flip-flop (abbreviated as FF) is used for a scan FF.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路に対して、スキャンフリップフロップ(以下FF)にクロックドスキャンFFを用いる。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop circuit (scan FF circuit) that has a fixed value input function, relaxes the setup timing condition about data to be input, and relaxes the hold timing condition about a scan-in signal to be input.例文帳に追加

固定値入力機能を有し、かつ、入力されるデータについてのセットアップタイミング条件の緩和、及び入力されるスキャンイン信号ついてのホールドタイミング条件の緩和を図ったスキャンＦＦ回路を得る。 - 特許庁

Scan passes within each of flip flop blocks from the frontmost stage on the side of the input terminal to the last stage on the side of the output terminal are serially connected sequentially to the last FF 1mx from the first FF 11x.例文帳に追加

入力端子側にある最前段から出力端子側にある最後段までの各フリップフロップ群内のスキャンパスは、最先頭ＦＦ１１ｘから最後尾ＦＦ１ｍｘまでを順次シリアル接続している。 - 特許庁

The scan passes have an input terminal SIN exclusively used for scanning connected to the input terminal of the first FF 11n at the last stage and at each of the flip flop blocks, the scan passes are serially connected sequentially to the stage immediately before the last stage from the second stage on the side of the input terminal following the last stage.例文帳に追加

スキャンパスは、スキャン専用入力端子ＳＩＮを最後段の先頭ＦＦ１１ｎの入力端子に接続し、各フリップフロップ群では、最後段に次いで入力端子側の第２段から最後段の前段までを順次シリアル接続する。 - 特許庁