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scan functional
「scan functional」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
At least a given one of the scan cells of the scan chain comprises output control circuitry which is configured to disable a functional data output of the scan cell in the scan shift mode of operation and to disable a scan output of the scan cell in the functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンチェーンのスキャンセルの少なくとも所与の１つは、スキャンシフト動作モードではスキャンセルの機能データ出力をディスエーブルし、機能動作モードではスキャンセルのスキャン出力をディスエーブルするように構成された出力制御回路を備える。 - 特許庁
In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加
走査移動フェーズ３２０では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁
To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加
スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁
The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁
This semiconductor integrated circuit includes a functional block comprising a functional flip-flop tested in scan testing, the macro-block with a signal outputted from the functional flip-flop inputted thereinto and not tested in scan testing, and a flip-flop for observation for obtaining the result of scan testing from the inputted signal.例文帳に追加
半導体集積回路は、スキャンテスト時にテストされる機能フリップフロップを有する機能ブロックと、機能フリップフロップから出力された信号が入力され、スキャンテスト時にテストされないマクロブロックと、入力された信号からスキャンテストの結果を得る観測用フリップフロップとを備える。 - 特許庁
Each test cycle includes a functional phase 315, a scan moving phase 320, and a hold phase 325.例文帳に追加
テストサイクルの夫々は、機能フェーズ３１５と走査移動フェーズ３２０とホールドフェーズ３２５とを含む。 - 特許庁
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「scan functional」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
To estimate accurately a blood input function (BIF) in the analysis of an image obtained by a functional medical scan.例文帳に追加
機能的医療スキャンによって得られる画像の分析における血液入力関数（ＢＩＦ）の正確な推定。 - 特許庁
To provide a multi-functional print method and multi-functional printer for inexpensively enhancing functionality from a network correspondence printer having a single print function to a multi-functional printer having both a copy function and a scan function.例文帳に追加
プリントのみの単機能しかないネットワーク対応プリンタにコピー機能及びスキャン機能を持った多機能プリンタへシンプルな構造で、安価に機能アップ可能となる多機能印刷方法及び多機能印刷装置の提供。 - 特許庁
A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加
機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁
Supply of a clock signal to functional blocks other than a functional block being an object of current measurement out of a plurality of functional blocks (2A-2D) is stopped, and a built-in self test circuit and a scan circuit are operated in the functional block which is the object of current measurement.例文帳に追加
複数の機能ブロック（２Ａ〜２Ｄ）のうち電流測定対象とされる機能ブロックを除く他の機能ブロックについて上記クロック信号の供給を停止し、且つ、上記電流測定対象とされる機能ブロックにおける上記ビルトインセルフテスト回路と上記スキャン回路とを動作させる。 - 特許庁
To provide a low-cost optical functional device and a light scattering device which can fast scan the emitted light and increase the scanning angle.例文帳に追加
低コストで高速に出射光を走査し、走査角を大きくすることのできる光機能素子及び光走査装置を提供する。 - 特許庁
The image is acquired by the functional medical scan, such as a positron emission tomography (PET) and a magnetic resonance imaging (MRI).例文帳に追加
陽電子放出断層撮影（ＰＥＴ）と磁気共鳴断層撮影（ＭＲＩ）のような機能的医療スキャンによって画像を得る。 - 特許庁
The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加
機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁
When the functional pattern of the functional block FA comes to an end, the output data stored in the flip-flop circuit SFF are outputted in synchronization with a scan clock signal of low speed to compare the data with corresponding expectation values.例文帳に追加
機能ブロックＦＡのファンクションパターンが終了すると、スキャンフリップフロップ回路ＳＦＦに格納されている出力データを、低速のスキャンクロック信号に同期して出力し、各々を対応する期待値と比較する。 - 特許庁
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