「scan functional」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

This semiconductor integrated circuit includes a functional block comprising a functional flip-flop tested in scan testing, the macro-block with a signal outputted from the functional flip-flop inputted thereinto and not tested in scan testing, and a flip-flop for observation for obtaining the result of scan testing from the inputted signal.例文帳に追加

半導体集積回路は、スキャンテスト時にテストされる機能フリップフロップを有する機能ブロックと、機能フリップフロップから出力された信号が入力され、スキャンテスト時にテストされないマクロブロックと、入力された信号からスキャンテストの結果を得る観測用フリップフロップとを備える。 - 特許庁

Each test cycle includes a functional phase 315, a scan moving phase 320, and a hold phase 325.例文帳に追加

テストサイクルの夫々は、機能フェーズ３１５と走査移動フェーズ３２０とホールドフェーズ３２５とを含む。 - 特許庁

To estimate accurately a blood input function (BIF) in the analysis of an image obtained by a functional medical scan.例文帳に追加

機能的医療スキャンによって得られる画像の分析における血液入力関数（ＢＩＦ）の正確な推定。 - 特許庁

To provide a multi-functional print method and multi-functional printer for inexpensively enhancing functionality from a network correspondence printer having a single print function to a multi-functional printer having both a copy function and a scan function.例文帳に追加

プリントのみの単機能しかないネットワーク対応プリンタにコピー機能及びスキャン機能を持った多機能プリンタへシンプルな構造で、安価に機能アップ可能となる多機能印刷方法及び多機能印刷装置の提供。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁

Supply of a clock signal to functional blocks other than a functional block being an object of current measurement out of a plurality of functional blocks (2A-2D) is stopped, and a built-in self test circuit and a scan circuit are operated in the functional block which is the object of current measurement.例文帳に追加

複数の機能ブロック（２Ａ〜２Ｄ）のうち電流測定対象とされる機能ブロックを除く他の機能ブロックについて上記クロック信号の供給を停止し、且つ、上記電流測定対象とされる機能ブロックにおける上記ビルトインセルフテスト回路と上記スキャン回路とを動作させる。 - 特許庁

To provide a low-cost optical functional device and a light scattering device which can fast scan the emitted light and increase the scanning angle.例文帳に追加

低コストで高速に出射光を走査し、走査角を大きくすることのできる光機能素子及び光走査装置を提供する。 - 特許庁

The image is acquired by the functional medical scan, such as a positron emission tomography (PET) and a magnetic resonance imaging (MRI).例文帳に追加

陽電子放出断層撮影（ＰＥＴ）と磁気共鳴断層撮影（ＭＲＩ）のような機能的医療スキャンによって画像を得る。 - 特許庁

The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁

When the functional pattern of the functional block FA comes to an end, the output data stored in the flip-flop circuit SFF are outputted in synchronization with a scan clock signal of low speed to compare the data with corresponding expectation values.例文帳に追加

機能ブロックＦＡのファンクションパターンが終了すると、スキャンフリップフロップ回路ＳＦＦに格納されている出力データを、低速のスキャンクロック信号に同期して出力し、各々を対応する期待値と比較する。 - 特許庁

With the manufacturing method of the organic EL element forming organic EL functional layers on a number of pixel areas on a substrate W by making a functional drop discharge head 8 fed with luminous functional materials relatively scan the substrate W to selectively discharge the luminous functional materials on it, drying gas is blown on the spotted luminous functional materials following the relative movement of the functional drop discharge head 8 associated with the scanning.例文帳に追加

発光機能材料を導入した機能液滴吐出ヘッド８を基板Ｗに対し相対的に走査し、発光機能材料を選択的に吐出して基板Ｗ上の多数の画素領域に有機ＥＬ機能層をそれぞれ形成する有機ＥＬ素子の製造方法であって、走査に伴う機能液滴吐出ヘッド８の相対的な移動に後行して、着弾した発光機能材料に乾燥ガスを吹き付けるものである。 - 特許庁

The output data Y1 and Y2 are selected in selector circuits SEL1 and SEL2 and inputted into already scan-inserted circuits SCB and SCC of functional blocks FB and FC.例文帳に追加

出力データＹ１，Ｙ２は、セレクタ回路ＳＥＬ１，ＳＥＬ２において選択されて、機能ブロックＦＢ，ＦＣのスキャン挿入済回路ＳＣＢ，ＳＣＣに入力される。 - 特許庁

To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.例文帳に追加

複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁

To provide a network document management system, its control method and a storage medium for flexibly designating scan control information and registration control information by a simple operation from a document management client and a digital multi-functional unit.例文帳に追加

文書管理クライアント、及びデジタル複合機から簡易な操作によりスキャン制御情報と登録制御情報を柔軟に指定することができるネットワーク文書管理システム、及びその制御方法、並びに記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

The test pattern input from and output to an inter-chip connection pad of the semiconductor chip to be made an object of a functional test is generated by using a boundary scan of another semiconductor chip, and is composed with the test pattern input from and output to the pad connected to the external terminal.例文帳に追加

他の半導体チップのバウンダリスキャンを用いて機能テストの対象とする半導体チップのチップ間接続パッドから入出力されるテストパターンを生成し、外部端子に接続されるパッドから入出力されるテストパターンと合成する。 - 特許庁

To prevent a wiring from increasing in length so as not to cause a deterioration in signal or timing to induce a quality trouble in a semiconductor integrated circuit which comprises boundary scan registers and a functional core to realize a test of ANSI/IEEE 1149.1 standard.例文帳に追加

ＡＮＳＩ／ＩＥＥＥ１１４９．１標準のテストを実現する複数のバウンダリスキャンレジスタと機能コアを含む半導体集積回路において、タイミングあるいは信号鈍りによる品質問題を引き起こす配線長の増大を防ぐ。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ１を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁

When performing processing such as copy processing, scan processing and FAX processing in an image forming apparatus in which power saving is partially performed by supplying power only to required functional parts, a document is read first (102-106) and a user performs various settings, so that power consumption is estimated and displayed while considering the number of recording sheets to be ejected in accordance with settings (108-114).例文帳に追加

必要な機能部のみに電力供給を行って部分的に節電する画像形成装置において、コピー処理、スキャン処理、ファックス処理等の処理を行う際に、原稿を先に読み取り（１０２〜１０６）、利用者が各種設定を行うことで、設定に応じた排出記録用紙数を考慮した消費電力を見積もって表示する（１０８〜１１４）。 - 特許庁