scanning force microscopeとは 意味・読み方・使い方

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

SIGNAL DETECTING APPARATUS BY SCANNING PROBE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、および原子間力顕微鏡 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally.例文帳に追加

プローブ走査装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を一体的に備える。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁