secondary sampleとは 意味・読み方・使い方

An photoelectron and a secondary electron are emitted from a sample 7 by X-ray irradiation, and the secondary electron is detected by a secondary electron detector 15.例文帳に追加

Ｘ線照射により試料７から光電子や２次電子が放出され、２次電子は２次電子検出器１５で検出される。 - 特許庁

To measure a correct secondary electron current by cleaning the surface of a sample in advance when the secondary electron current generated by secondary electrons emitted from a sample is measured.例文帳に追加

試料から放出された二次電子による二次電子電流を測定する際に、前もって試料表面をクリーニングして正確な二次電子電流を測定できる技術を提供する。 - 特許庁

PREPARATION OF STANDARD SAMPLE FOR DETERMINATION FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析のための定量用標準試料の作製方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE AND METHOD FOR REGULATING ITS POSITION例文帳に追加

２次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 - 特許庁

To provide a method for holding a solid sample for a secondary ion mass analysis, capable of readily securing the solid sample to a solid sample holder.例文帳に追加

固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。 - 特許庁

By detecting secondary electrons emitted from the sample 10, defects of the sample 10 can be tested.例文帳に追加

試料１０から放出される二次電子を検出することにより、試料１０の欠陥を検査することができる。 - 特許庁

DEPTH CALIBRATION SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY, PRODUCTION METHOD OF THE SAME AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法の深さ校正用試料、その製造方法及び二次イオン質量分析方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DEPTH-DIRECTION CONCENTRATION DISTRIBUTION OF SAMPLE THROUGH SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析による試料の深さ方向濃度分布測定方法 - 特許庁