secondary sampleとは 意味・読み方・使い方

Secondary electrons from the photoreceptor sample S are detected by a detector 23.例文帳に追加

検出器２３で感光体試料Ｓからの２次電子を検出する。 - 特許庁

The image of the sample face is formed by the detected secondary electron signal.例文帳に追加

検出した二次電子信号から試料面の画像が形成される。 - 特許庁

To provide a method for holding a solid sample for a secondary ion mass analysis, capable of readily securing the solid sample to a solid sample holder.例文帳に追加

固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。 - 特許庁

An photoelectron and a secondary electron are emitted from a sample 7 by X-ray irradiation, and the secondary electron is detected by a secondary electron detector 15.例文帳に追加

Ｘ線照射により試料７から光電子や２次電子が放出され、２次電子は２次電子検出器１５で検出される。 - 特許庁

The secondary electrons from the sample 4 are detected and converted into an electric signal by a secondary electron detector 5, and displayed on a secondary electron image display means 8.例文帳に追加

試料４からの２次電子は２次電子検出器５により検出され電気信号に変換されて、２次電子像表示手段８に表示される。 - 特許庁

A primary sample is obtained by crushing the recycled raw material to a particle size of ≤20 mm by a crusher, the primary sample is crushed to a particle size of ≤2 mm by a micronizer and it is recovered, mixed and reduced by a dust collecting system to obtain a secondary sample, and the secondary sample is ultimately used as the sample for analyzing.例文帳に追加

リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サンプルを採取して最終的に分析用サンプルとした。 - 特許庁

To measure a correct secondary electron current by cleaning the surface of a sample in advance when the secondary electron current generated by secondary electrons emitted from a sample is measured.例文帳に追加

試料から放出された二次電子による二次電子電流を測定する際に、前もって試料表面をクリーニングして正確な二次電子電流を測定できる技術を提供する。 - 特許庁

A secondary target is laid in a sample cell, and the primary X-ray, a scattered ray of the primary X-ray by the secondary target, and an X-ray generated from the secondary target serve as an excitation ray source group, within an analytical depth of the measuring sample.例文帳に追加

２次ターゲットを試料セル中に載置し、測定試料の分析深さ内で、１次Ｘ線、２次ターゲットによる１次Ｘ線の散乱線および２次ターゲットから発生したＸ線を励起線源群とする。 - 特許庁