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semiconductor defectとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 半導体欠陥
「semiconductor defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1414件
SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING APPARATUS, DEFECT ANALYZING METHOD, AND DEFECT ANALYZING PROGRAM例文帳に追加
半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT REDUCTION METHOD例文帳に追加
半導体ウエハの欠陥低減法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
半導体ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の不良検査法 - 特許庁
DEFECT EVALUATION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の欠陥評価方法 - 特許庁
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「semiconductor defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1414件
METHOD FOR EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体の欠陥評価方法 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
半導体欠陥検査装置および半導体欠陥検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリと半導体メモリの不良解析方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁
DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加
欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁
DEFECT DETERMINATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, DEFECT DETERMINATION PROGRAM AND DEFECT DETERMINING DEVICE例文帳に追加
半導体素子の欠陥判定方法、欠陥判定プログラムおよび欠陥判定装置 - 特許庁
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