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Weblio専門用語対訳辞書での「surface microscopy」の意味

surface microscopy

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「surface microscopy」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 6



例文

MICROSPHERE PROBE FOR OPTICAL SURFACE MICROSCOPY AND ITS USAGE例文帳に追加

光学表面顕微鏡法のための微小球プローブとその使用方法 - 特許庁

The solder powder has a substantially globular shape and has a plurality of rugged parts over the entire surface, wherein an average surface roughness Ra measured by a scanning probe microscopy (SPM) is 18 to 100 nm.例文帳に追加

略球形状であり、表面全体に亘って複数の凹凸を有し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)により測定される平均面粗さRaが18〜100nmであるはんだ粉とする。 - 特許庁

The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.例文帳に追加

前記磁性層の表面潤滑剤指数は1.3〜5.0の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡(AFM)により測定された40μm×40μmの面積での中心面平均粗さSRaは4nm以下である。 - 特許庁

The self-supported III-V group nitride semiconductor substrate does not have clear boundaries betweem high-brightness regions and low-brightness regions in a fluorescence microscopy image of its surface layer existing from the top surface to a depth of at least 10 μm.例文帳に追加

自立したIII−V族窒化物系半導体基板であって、表面から少なくとも10μmの深さまでの表面層の蛍光顕微鏡像に、高明度領域と低明度領域が境界をもって存在しないことを特徴とするIII−V族窒化物系半導体基板。 - 特許庁

Devices with these improvements have numerous applications, including molecular force measurements, atomic force microscopy and manipulation technology, lithographic manufacturing, nanometer scale surface profiling and other aspects of nanotechnology.例文帳に追加

これらの改良点を伴う装置は、分子力測定、原子間力顕微鏡、および操作技術、リソグラフィ製造、ナノメータースケールの表面形状測定、およびナノテクノロジーの他の局面を含め、多くの用途を有する。 - 特許庁

例文

In the aromatic polyamide porous film, mean pore size is 0.2-5 μm, mean opening size obtained from a scanning microscopy micrograph on at least its one surface is 0.001-0.1 μm, and liquid absorption of the film is 10-200 mm/10 min.例文帳に追加

平均孔径が0.2〜5μmであり、少なくとも一方の表面の走査型顕微鏡写真により求めた開口径の平均が、0.001〜0.1μmであり、かつ膜の液吸い上げ性が10〜200mm/10minである芳香族ポリアミド多孔質膜とする。 - 特許庁

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