「surface microscopy」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MICROSPHERE PROBE FOR OPTICAL SURFACE MICROSCOPY AND ITS USAGE例文帳に追加

光学表面顕微鏡法のための微小球プローブとその使用方法 - 特許庁

The solder powder has a substantially globular shape and has a plurality of rugged parts over the entire surface, wherein an average surface roughness Ra measured by a scanning probe microscopy (SPM) is 18 to 100 nm.例文帳に追加

略球形状であり、表面全体に亘って複数の凹凸を有し、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）により測定される平均面粗さＲａが１８〜１００ｎｍであるはんだ粉とする。 - 特許庁

The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.例文帳に追加

前記磁性層の表面潤滑剤指数は１．３〜５．０の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）により測定された４０μｍ×４０μｍの面積での中心面平均粗さＳＲａは４ｎｍ以下である。 - 特許庁

The self-supported III-V group nitride semiconductor substrate does not have clear boundaries betweem high-brightness regions and low-brightness regions in a fluorescence microscopy image of its surface layer existing from the top surface to a depth of at least 10 μm.例文帳に追加

自立したIII−V族窒化物系半導体基板であって、表面から少なくとも10μmの深さまでの表面層の蛍光顕微鏡像に、高明度領域と低明度領域が境界をもって存在しないことを特徴とするIII−V族窒化物系半導体基板。 - 特許庁

Devices with these improvements have numerous applications, including molecular force measurements, atomic force microscopy and manipulation technology, lithographic manufacturing, nanometer scale surface profiling and other aspects of nanotechnology.例文帳に追加

これらの改良点を伴う装置は、分子力測定、原子間力顕微鏡、および操作技術、リソグラフィ製造、ナノメータースケールの表面形状測定、およびナノテクノロジーの他の局面を含め、多くの用途を有する。 - 特許庁