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thickness analysisとは 意味・読み方・使い方
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「thickness analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 99件
Normally when EDS analysis of thin films is undertaken, the thickness of the point of analysis is unknown.発音を聞く 例文帳に追加
通常、薄膜のEDS分析が始められるとき、分析点の厚さは知られていない。 - 科学技術論文動詞集
To generate a space mesh considering plate thickness, which can be applied to an electrodeposition coating analysis, a heat flow analysis or an electric field analysis, etc., with a FEM mesh without considering plate thickness as a base.例文帳に追加
板厚を考慮していないＦＥＭメッシュをベースとして、電着塗装解析、熱流れ解析または電場解析等に適用可能な、板厚を考慮した空間メッシュを生成する。 - 特許庁
Then, thickness (d_elli) of the polarizing analysis device of the sample is determined using the polarizing analysis device.例文帳に追加
次いで、試料の偏光解析装置の層厚（ｄ_ｅｌｌｉ）が偏光解析装置を用いて決定される。 - 特許庁
METHOD FOR ESTIMATING THICKNESS OF ELECTRIC FURNACE SLAG COATING BY UNSTEADY HEAT TRANSFER ANALYSIS例文帳に追加
非定常伝熱解析による電気炉スラグコーチング厚みの推定方法 - 特許庁
FILM THICKNESS DISTRIBUTION ANALYSIS METHOD, ELECTRONIC CIRCUIT SUBSTRATE, AND DESIGN APPARATUS FOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加
膜厚分布解析方法、電子回路基板及び製造プロセスの設計装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THICKNESS BY PHOTOTHERMAL ANALYSIS OF MATERIAL LAYER AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTOTHERMAL ANALYSIS例文帳に追加
材料層の光熱解析による厚さ測定方法及び厚さ測定装置、並びに光熱解析のためのコンピュータプログラム - 特許庁
Meshing, thickness and material characteristic information are given for an FEM analysis.例文帳に追加
そして、メッシュ分割や板厚、材料特性情報を与えてFEM解析に供させる。 - 特許庁
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「thickness analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 99件
METHOD OF EVALUATING THICKNESS-DIRECTIONAL COMPONENT CONCENTRATION OF METAL SAMPLE BY SPARK DISCHARGE EMISSION SPECTROPHOTOMETRIC ANALYSIS例文帳に追加
スパーク放電発光分析による金属試料の厚み方向成分濃度評価方法 - 特許庁
To easily control a thickness of a sample, and to realize accurate micro spectrometric analysis.例文帳に追加
試料の厚みの制御を容易にし、より正確なマイクロ分光分析を実現すること。 - 特許庁
To acquire, through analysis, the degree of wall thickness change (a diminution in thickness of a pipe caused by a fluid, as to pipes) of a solid wall contacting with a fluid.例文帳に追加
流体に接する固体壁の肉厚変化（配管においては流体による配管の減肉）の程度を解析により把握する。 - 特許庁
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE OR X-RAY GENERATOR, FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS DEVICE AND THICKNESS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
テラヘルツ電磁波ないしＸ線の発生器、蛍光Ｘ線分析装置ならびに膜厚計測装置 - 特許庁
To display the thickness of a thin film formed on a sample as a map image in a face analysis.例文帳に追加
面分析において、試料上に形成された薄膜の膜厚をマップ画像表示する。 - 特許庁
To easily analyze characteristics of an analysis object with film thickness ranging from several nm to several μm.例文帳に追加
膜厚が数ｎｍから数μｍの範囲に及ぶ分析対象の特性を容易に分析する。 - 特許庁
To provide a sampling instrument of a sample for infrared spectral analysis capable of obtaining the sample of which the thickness is suitable for infrared spectral analysis by one sampling.例文帳に追加
１回の試料採取により、赤外分光分析に適した厚さの試料が得られる赤外線分光分析用試料採取器具を提供する。 - 特許庁
SUBSIDENCE OR SETTLEMENT/STRESS ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER SUBSTRATE USING EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS AND EQUIVALENT ELASTIC MODULUS WHICH WERE GENERALIZED例文帳に追加
一般化された等価換算厚と等価弾性係数を用いた多層地盤の沈下・応力解析法 - 特許庁
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