「thickness analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THICKNESS BY PHOTOTHERMAL ANALYSIS OF MATERIAL LAYER AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTOTHERMAL ANALYSIS例文帳に追加

材料層の光熱解析による厚さ測定方法及び厚さ測定装置、並びに光熱解析のためのコンピュータプログラム - 特許庁

Meshing, thickness and material characteristic information are given for an FEM analysis.例文帳に追加

そして、メッシュ分割や板厚、材料特性情報を与えてFEM解析に供させる。 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING THICKNESS-DIRECTIONAL COMPONENT CONCENTRATION OF METAL SAMPLE BY SPARK DISCHARGE EMISSION SPECTROPHOTOMETRIC ANALYSIS例文帳に追加

スパーク放電発光分析による金属試料の厚み方向成分濃度評価方法 - 特許庁

To easily control a thickness of a sample, and to realize accurate micro spectrometric analysis.例文帳に追加

試料の厚みの制御を容易にし、より正確なマイクロ分光分析を実現すること。 - 特許庁

To acquire, through analysis, the degree of wall thickness change (a diminution in thickness of a pipe caused by a fluid, as to pipes) of a solid wall contacting with a fluid.例文帳に追加

流体に接する固体壁の肉厚変化（配管においては流体による配管の減肉）の程度を解析により把握する。 - 特許庁

TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE OR X-RAY GENERATOR, FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS DEVICE AND THICKNESS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

テラヘルツ電磁波ないしＸ線の発生器、蛍光Ｘ線分析装置ならびに膜厚計測装置 - 特許庁

To display the thickness of a thin film formed on a sample as a map image in a face analysis.例文帳に追加

面分析において、試料上に形成された薄膜の膜厚をマップ画像表示する。 - 特許庁

To easily analyze characteristics of an analysis object with film thickness ranging from several nm to several μm.例文帳に追加

膜厚が数ｎｍから数μｍの範囲に及ぶ分析対象の特性を容易に分析する。 - 特許庁

To provide a sampling instrument of a sample for infrared spectral analysis capable of obtaining the sample of which the thickness is suitable for infrared spectral analysis by one sampling.例文帳に追加

１回の試料採取により、赤外分光分析に適した厚さの試料が得られる赤外線分光分析用試料採取器具を提供する。 - 特許庁

SUBSIDENCE OR SETTLEMENT/STRESS ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER SUBSTRATE USING EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS AND EQUIVALENT ELASTIC MODULUS WHICH WERE GENERALIZED例文帳に追加

一般化された等価換算厚と等価弾性係数を用いた多層地盤の沈下・応力解析法 - 特許庁

SINKING-STRESS ANALYSIS METHOD OF PILE DRAFT FOUNDATION ON MULTILAYERED GROUND USING GENERALIZATION EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS-EQUIVALENT ELASTIC MODULUS例文帳に追加

一般化等価換算厚・等価弾性係数を用いた多層地盤上のパイルドラフト基礎の沈下・応力解析法 - 特許庁

ANALYSIS PROGRAM OF THICKNESS OF EACH AIR LAYER IN WINDING ROLL, RADIAL YOUNG'S MODULUS OF AIR LAYER, AND INTERNAL STRESS例文帳に追加

巻き取りロールにおける各空気層厚さ、空気層の半径方向のヤング率、および、内部応力の解析プログラム - 特許庁

The skin thickness, a surface figure of the skin, viscoelasticity feature of the skin or inner tissue structure of the skin is suitable example for the skin characteristics, and a PLS analysis or a main ingredient analysis is a suitable example for the multivariate analysis.例文帳に追加

皮膚性状としては、皮膚の厚さ、皮膚表面形態、皮膚粘弾特性又は皮膚内部組織構造が好適に例示出来、多変量解析としては、ＰＬＳ分析或いは主成分分析が好適に例示出来る。 - 特許庁

To provide a fundus observation apparatus capable of clearly indicating a part obtained from the analysis of the vascular region in the result of analysis of the thickness of the fundus oculi.例文帳に追加

眼底の層厚の解析結果中のどの部分が血管領域を解析して得られた部分であるかを明示することが可能な眼底観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device for cutting a semiconductor substrate for measuring a local film thickness such as a film thickness or the like in a hole without carrying out any section analysis, and at the same time for forming the local film thickness to a prescribed film thickness.例文帳に追加

半導体基板を切断して断面解析することなくホール内の膜厚等の局所膜厚を測定し、かつ当該局所膜厚を所定の膜厚に形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Numerical analysis on the distributions of current density and temperature in the metal wiring is performed again, taking into consideration the thickness of each element (S304).例文帳に追加

金属配線における電流密度と温度の分布の数値解析を各要素の厚さを考慮して再び行う(S304)。 - 特許庁

METHOD FOR OPTICALLY MEASURING THICKNESS OR OPTICAL CHARACTERISTIC VALUE OF FILM AND OPTICAL SURFACE ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

膜の厚さ若しくは膜の光学的な特性値を光学的に測定する方法、および光学的表面解析装置 - 特許庁

The image analysis section 29 measures thickness between the two contours as a characteristic value about the extracted contour.例文帳に追加

画像解析部２９は、抽出した輪郭に関する特徴値として２つの輪郭どうしの間の厚みを測定する。 - 特許庁

Numerical analysis of the current density and temperature distribution in the metal wiring is performed again, while taking the thickness of each element into consideration (S304).例文帳に追加

金属配線における電流密度と温度の分布の数値解析を各要素の厚さを考慮して再び行う（Ｓ３０４）。 - 特許庁

To provide a biosensor for forming a reagent distribution having a thickness bringing a substantially uniform chemical reaction so as to allow accurate analysis.例文帳に追加

略均一な化学反応となる厚さを有する試薬分布を形成し、正確な分析を可能にするバイオセンサを提供する。 - 特許庁

To reduce arithmetic operation quantity required for estimating coating film thickness of a real car and to efficiently calculate coating film thickness of the real car by enabling coating film thickness of the real car to be estimated without executing electrodeposition coating analysis of a vehicle model base.例文帳に追加

車両モデルベースでの電着塗装解析を実施しなくても、実車の塗膜厚を予測可能にすることで、実車の塗膜厚予測に要する演算量の低減を図り、実車の塗膜厚を効率的に算出する。 - 特許庁

To provide a mechanism capable of measuring the thickness of a thin film sample with an accuracy of subnanometer order and capable of measuring the analysis of various measuring results of a thin film, taking into consideration the thickness of the thin film sample.例文帳に追加

薄膜試料厚さをサブナノメートルオーダーの精度で測定することを可能とし、薄膜の各種測定結果の解析を、試料厚さを考慮して測定できる機構を提供する。 - 特許庁

Until the absolute value of the difference between the thickness (d_photo) of the spectrophotometer and the thickness (d_elli) of the polarizing analysis device becomes smaller than a predetermined absolute value, the spectrophotometer is matched with the polarizing analysis device by changing the initial incident angle (θ_init).例文帳に追加

分光光度計の層厚（ｄ_ｐｈｏｔｏ）と偏光解析装置の層厚（ｄ_ｅｌｌｉ）の差の絶対値が所定の絶対値より小さくなるまで、初めの入射角（θ_ｉｎｉｔ）を変えることにより分光光度計と偏光解析装置が互いに合わされる。 - 特許庁

The fluid analysis means executes fluid analysis in a mold in injection molding by using respective shell meshes of the base layer and the surface layer to calculate plate thickness distribution of the base layer and the surface layer.例文帳に追加

流動解析手段は、基材層と表皮層のそれぞれのシェルメッシュを用い、射出成形時における成形型内の流動解析を実行して、基材層と表皮層の板厚分布を算出する。 - 特許庁

To provide a thin film thermal diffusivity measuring device of a surface heating/surface temperature measuring type, into which an analysis model that takes into consideration the film thickness is incorporated.例文帳に追加

膜厚を考慮した解析モデルを組み込んだ表面加熱・表面測温型の薄膜熱拡散率測定装置を構築する。 - 特許庁

An operation part for calculating a thermal diffusivity of the thin film from the analysis model that takes into consideration the film thickness is integrated into the information processing device.例文帳に追加

情報処理装置は、膜厚を考慮した解析モデルから、薄膜の熱拡散率を算出する演算部が組み込まれている。 - 特許庁

To simply obtain the membrane thickness data of a membrane sample and to rapidly select a visual field suitable for observation or analysis.例文帳に追加

薄膜試料の膜厚情報を簡単に得ることができて、観察及び又は分析に適した視野を迅速に選択できるようにする。 - 特許庁

To reduce the operation volume necessary for the estimation of the thickness of a coating film on a practical car and to efficiently calculate the thickness of the coating film on the practical car by enabling the estimation of the thickness of the coating film on the practical car even if the electrodeposition coating analysis about a vehicle model base is not carried out.例文帳に追加

車両モデルベースでの電着塗装解析を実施しなくても、実車の塗膜厚を予測可能にすることで、実車の塗膜厚予測に要する演算量の低減を図り、実車の塗膜厚を効率的に算出する。 - 特許庁

The first node moving means moves each mesh node of the surface layer in a plate thickness direction in accordance with a deviation in the plate thickness of the surface layer calculated by the fluid analysis means from a design value.例文帳に追加

第１節点移動手段は、流動解析手段によって算出された表皮層の板厚の設計値に対する偏差に応じて、表皮層の各メッシュ節点を板厚方向に移動させる。 - 特許庁

The thickness of piping, a material or sound velocity, a region R to be inspected, and reference waveform are inputted to a waveform creation/analysis means 5.例文帳に追加

波形作成・解析手段５に、配管の肉厚と、材質または音速、及び検査すべき領域Ｒ、並びに基準波形が入力される。 - 特許庁

An equivalent conversion thickness theory provided by generalizing a Barber method for a two-layer ground to a method for the multi-layer ground is adopted to a vertical stress analysis for the multi-layer ground to provide an analysis method using stress distribution width.例文帳に追加

二層地盤におけるBarberの方法を多層地盤に一般化した等価換算厚理論を、多層地盤の鉛直応力解析において適用し、応力分散幅を用いた解析方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method for calculating thickness of an electrodeposited film, which can calculate the thickness of the electrodeposited film on each part of an article to be coated with high accuracy, by using an analysis model equivalent to the article to be coated.例文帳に追加

本発明は、被塗装物に置き換えた解析モデルを用いて、高い精度で、被塗装物の各部に電着した塗膜の膜厚を算出可能とした電着塗膜の膜厚算出方法を提供する。 - 特許庁

An analysis section 18 measures the thickness of a complex of the intima and the media or the like from the data of the ultrasonic measurement acquired from outside of the excluded area.例文帳に追加

解析部１８は、この除外された領域以外から得られた超音波測定のデータから、血管の内膜中膜複合体厚等の測定を行う。 - 特許庁

To provide an in situ analyzing method and device which ensure accurate non-destructive analysis of a film thickness and chemical structure of a thin film of the nano order in real time.例文帳に追加

非破壊かつリアルタイムで、ナノオーダーの薄膜に対し、精度良く、膜厚および化学構造を解析できるその場解析方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analytic model generation method capable of generating an analytic model with high analysis accuracy which can reproduce the thickness of an actual molded article.例文帳に追加

実際の成形品の厚みが再現可能な解析精度の高い解析モデルを作成することができる解析モデル作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method which enable very easy and quick implementation of plate thickness measurement and a stress analysis of a tubular structure.例文帳に追加

きわめて容易かつ迅速に管状構造体の板厚測定及び応力解析を実現させることができるシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

Then an increment in the film thickness in the leaving time is compared with a threshold of an increment in film thickness allowed in a normal monitoring environment; when the threshold is exceeded, it is determined that the monitoring environment is abnormal, and qualitative analysis and quantitative analysis of the silicon wafer are made to examine the cause of the abnormality (steps S5, S6).例文帳に追加

そして、その放置の間の膜厚増加量を、正常なモニタ環境で許容される膜厚増加量の閾値と比較し、閾値を上回る場合には、モニタ環境が異常であると判定すると共に、そのシリコンウェーハの定性分析や定量分析を行って異常原因を調査する（ステップＳ５，Ｓ６）。 - 特許庁

Based on the relation between the shear rate and the viscosity in the first case and the second case, injection molding analysis when using a member 50 having an arbitrary cavity thickness is performed, and a value of an evaluation function is obtained based on an analysis result thereof.例文帳に追加

第１及び第２の場合の粘度とせん断速度との関係それぞれに基づいて、任意のキャビティ厚を有する部材５０を用いた場合の射出成形解析を行い、この解析結果に基づき評価関数の値を求める。 - 特許庁

The electrodeposition coating analysis using a constitution member constituting a part of an objective car as the subject to be analyzed is carried out to calculate the analyzed value of coating film thickness of the constitution member (step 1).例文帳に追加

対象車の一部を構成する構成部材を解析対象にした電着塗装解析を行い、この構成部材の塗膜厚解析値を算出する（ステップ１）。 - 特許庁

To enable an accurate fluorescent X-ray analysis method without a necessity of a complicated process when a correction of a predetermined sample is considered and specialized for an thickness of the sample.例文帳に追加

試料の厚みに特定した所定の試料の補正を考慮した場合に、複雑な工程を不要としながらも精度の高い蛍光Ｘ線分析方法を可能とする。 - 特許庁

For the hole where the section analysis is difficult, the filling rate characteristic (a broken line B) in the hole is obtained based on the proportional relationship between the flat film thickness when the filling rate becomes 100% and the filling rate characteristics (the solid line A) obtained by the section analysis, and at the same time the local film thickness in the hole is obtained according to the filing characteristic.例文帳に追加

断面解析が困難なホールに対しては前記フィリング率が１００％になるときの平坦膜厚と、断面解析により求めたフィリング率特性（実線Ａ）との比例関係に基づいて、当該ホールにおけるフィリング率特性（破線Ｂ）を求め、かつそのフィリング特性から当該ホールにおける局所膜厚を求める。 - 特許庁

After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground.例文帳に追加

分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。 - 特許庁

A soft magnetism metal material component uses the soft magnetic stainless steel which has an oxide film in which the thickness of the oxide film measured by the glow discharge light emission analysis method (GDS) is ≥0.5 μm, and the analysis strength of Ti in the oxide film is ≥20 times of the base material.例文帳に追加

グロー放電発光分析法（ＧＤＳ）で測定した酸化皮膜の厚みが０．５μｍ以上であり、酸化皮膜中のＴｉの分析強度が母材の２０倍以上からなる酸化皮膜を有する軟磁性ステンレス鋼を用いた軟磁性金属材料部品。 - 特許庁

It is also preferable in the flat particles that an average particle size D of primary particles measured by image analysis is 0.01-1 μm, and average thickness is 0.001-0.15 μm.例文帳に追加

この扁平銀粒子は、画像解析によって測定された一次粒子の平均粒径Ｄが０．０１〜１μｍであり、平均厚みが０．００１〜０．１５μｍであることも好適である。 - 特許庁

To improve aggregation position accuracy of a sample spot, and to improve measurement accuracy, by solving a problem wherein spectrum analysis is hindered by unevenness or dispersion of the thickness of a thin film having water repellency.例文帳に追加

撥水性を有する薄膜の厚みの不均一やバラツキなどによって、スペクトル解析に支障をきたす問題や試料スポットの凝集位置精度を改善し測定精度を改善する。 - 特許庁