units-under-testとは 意味・読み方・使い方

The semiconductor test apparatus comprises a plurality of units for performing a test on a device under measurement, a tester processor 100 for controlling each of the plurality of units, and a local bridge circuit 120 for relaying operation instructions transmitted from the test processor 100 to the plurality of units.例文帳に追加

被測定デバイスに対して試験を行う複数のユニットと、複数のユニットのそれぞれを制御するテスタプロセッサ１００と、テスタプロセッサ１００から複数のユニットに対して送信される動作指示を中継するローカルブリッジ回路１２０とを備えている。 - 特許庁

When a test object to be vibrated Tp on a plane is tested, for instance, vibration units 1A and 1B are tightened on right and left sides of the test object to be vibrated Tp to be controlled under the vibration control part 4 to generate composition vibration such as reciprocation, rotation, compression, tension and torsion on the test object Tp so as to be tested.例文帳に追加

平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。 - 特許庁

(iii) Propulsion units or components thereof, motor case linings, or insulation materials falling under any of the following, or equipment or tools for the manufacture thereof, or test equipment, or components thereof発音を聞く 例文帳に追加

三　推進装置若しくはその部分品、モータケースのライニング若しくは断熱材であって、次のいずれかに該当するもの又はこれらの製造用の装置若しくは工具、試験装置若しくはこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Under standard test conditions, the evaporation temperature of the evaporator 23 is lowered by the first condenser 21, whereby the dehumidification capacity rises, and besides the condensation load of a compressor 27 is reduced by arranging two units of condensers thereby suppressing the rise of indoor temperature.例文帳に追加

標準試験条件下では第１凝縮器２１により蒸発器２３の蒸発温度が低下して除湿能力が向上し、かつ凝縮器を２台配置することにより圧縮機２７の凝縮負荷を低減し、室内温度の上昇を抑制する。 - 特許庁