円錐回折の英語

円錐回折斜入射分光器及び該分光器用回折格子例文帳に追加

CONICAL DIFFRACTION OBLIQUE-INCIDENCE SPECTROSCOPE, AND DIFFRACTION GRATING FOR THE SPECTROSCOPE - 特許庁

格子溝による影による回折効率の低下を防止し、かつ円錐回折に起因する収差を極めて少なくするように設計された回折格子、及びそのような回折格子を備える円錐回折斜入射分光器を提供する。例文帳に追加

To provide a diffraction grating designed to prevent diffraction efficiency from being lowered by a shadow generated by a grating groove, and designed to reduce extremely an aberration caused by conical diffraction, and a conical diffraction oblique-incidence spectroscope provided with the diffraction grating. - 特許庁

得られる円錐状の凸部は六方細密配置となり、凸部に囲まれる部位は小さく、凸部間の距離も短くなって、反射、回折共に抑えられる。例文帳に追加

The obtained conic projection parts are in hexagonal close arrangement to make parts surrounded with projection parts small and shorten distances between projection parts, thereby suppressing both reflection and diffraction. - 特許庁

微細な円錐状の凸部または凹部の配列からなる無反射構造であって、反射防止能が高く、短波長の光に対しても回折を生じさせないものを実現する。例文帳に追加

To realize a nonreflective structure, formed of an array of fine conic projection or recessed parts, that has high antireflective property and does not diffract even short-wavelength light. - 特許庁

基板上に微細な円錐形状やピラミッド状の突起を２次元に配列する際に、その配列周期を基本となる周期を中心に変動させて配列したり、突起の高さを変動させて配列ことにより光の回折による影響が低減でき、理想的な反射防止構造が形成できる。例文帳に追加

When fine conical or pyramidal projections are arrayed two-dimensionally on a substrate, the arrangement period is varied with a fundamental period as the center or the height of the projections is varied, so that the influence of diffraction of light can be reduced to form an ideal antireflection structure. - 特許庁

これにより、測定プレート４１および校正プレート４２に入射する超音波形状を円錐状、つまり軸対象形状とすることができるので、従来の液面検出装置における両反射部材の境界部分での超音波の回折現象、超音波の干渉を防止できる。例文帳に追加

As a result, the shape of ultrasonic waves entering the measurement plate 41 and the calibration plate 42 is set to be in a conical shape, namely an axisymmetric shape, so that a diffraction phenomenon in ultrasonic waves and interference of ultrasonic waves at the boundary section of both the reflection members in a conventional liquid level detector are prevented. - 特許庁