「"testing method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING METHOD OF TARGET FOR SPUTTERING例文帳に追加

スパッタリング用ターゲットの検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

半導体試験方法および装置 - 特許庁

MICROCOMPUTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

マイクロコンピュータ及びその試験方法 - 特許庁

DETECTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

検出装置及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST BASAL PAPER AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用基紙および検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイスおよび試験方法 - 特許庁

LEAK TESTING SYSTEM AND LEAK TESTING METHOD例文帳に追加

リークテストシステム及びリークテスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR FLUID BEARING DEVICE例文帳に追加

流体軸受装置の検査方法 - 特許庁

HOLDING FORCE TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

把駐力試験方法及び装置 - 特許庁

SEAT TESTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

シート試験装置および試験方法 - 特許庁

BEARING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

軸受装置及びその検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路テスト方法 - 特許庁

ACCESS CONTROLLER AND TESTING METHOD例文帳に追加

アクセス制御装置及び試験方法 - 特許庁

WIRING BOARD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

配線基板およびそのテスト方法 - 特許庁

PROBE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ装置およびその試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

ELUTION AMOUNT TESTING METHOD FOR SLUGS例文帳に追加

スラグ類の溶出量試験方法 - 特許庁

CRACK TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤのクラック試験方法 - 特許庁

TIRE TESTER AND TIRE TESTING METHOD例文帳に追加

タイヤ試験機及びタイヤ試験方法 - 特許庁

IC TESTER, AND TESTING METHOD FOR IC例文帳に追加

ＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

OSCILLATOR TESTING METHOD AND OSCILLATOR例文帳に追加

発振器試験方法及び発振器 - 特許庁

SOFTWARE TESTING METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM例文帳に追加

ソフトウェアシステムのソフトウェア試験方法 - 特許庁

LOAD TESTING METHOD FOR PILED RAFT FOUNDATION例文帳に追加

パイルド・ラフト基礎の載荷試験方法 - 特許庁

MULTICHIP MODULE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

マルチチップモジュール及びそのテスト方法 - 特許庁

IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

イムノクロマトグラフ検査方法および装置 - 特許庁

STRENGTH TESTING METHOD OF ADHESION STRUCTURE例文帳に追加

接着構造の強度試験方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING DEVICE AND FATIGUE TESTING METHOD例文帳に追加

疲労試験装置、疲労試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

GAS-INSULATED BUS AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ガス絶縁母線とその試験方法 - 特許庁

LIFE TESTING METHOD FOR DEBURRING TOOL例文帳に追加

バリ取り工具の寿命試験方法 - 特許庁

SWITCHING CIRCUIT, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スイッチング回路及びその試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

集積回路及びその試験方法 - 特許庁

PRESSURE TESTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

圧力試験方法及びその装置 - 特許庁

TIRE TESTING MACHINE AND TIRE TESTING METHOD例文帳に追加

タイヤ試験機及びタイヤ試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, TESTING METHOD, AND DEVICE例文帳に追加

試験装置、試験方法、および、デバイス - 特許庁

CONTROL UNIT AND TESTING METHOD FOR IT例文帳に追加

制御ユニット及びその検査方法 - 特許庁

PROTOCOL TESTER AND PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

プロトコル・テスタ及びプロトコル試験方法 - 特許庁

LIFT-OFF TESTING METHOD OF ANCHOR AND TAPPING METHOD OF ANCHOR PLATE BEFORE THIS TESTING METHOD例文帳に追加

アンカーのリフトオフ試験方法、及びそれに先立つアンカープレートのタップ方法 - 特許庁

COAXIAL CABLE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

同軸ケーブルおよびその試験方法 - 特許庁

CLEAN ROOM AIRTIGHTNESS PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

クリーンルームの気密性能試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THIS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置 - 特許庁

SAMPLING AND TESTING METHOD FOR MICROORGANISM例文帳に追加

微生物の捕集及び試験方法 - 特許庁

JOINT BOUNDARY FACE TESTING METHOD例文帳に追加

接合境界面を試験する方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスクの耐久性試験方法 - 特許庁

PROBE CARD AND PROBE-CARD TESTING METHOD例文帳に追加

プローブカード及びプローブカード試験方法 - 特許庁