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"testing method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2141件
STRESS CORROSION CRACK TESTING METHOD例文帳に追加
応力腐蝕割れ試験方法 - 特許庁
NON-CONTACT VIDEO TYPE TESTING METHOD例文帳に追加
非接触ビデオ式試験方法 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR WELDS例文帳に追加
溶接部の非破壊検査方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING MACHINE AND TEMPERATURE TESTING METHOD例文帳に追加
温度試験装置及び方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC ELEMENT例文帳に追加
圧電セラミック素子の検査方法 - 特許庁
RADIO TESTING METHOD FOR MOBILE STATION例文帳に追加
移動局の無線試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加
磁気ディスク装置の試験方法 - 特許庁
MICROCOMPUTER, AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
マイクロコンピュータとその試験方法 - 特許庁
INDOOR TIRE DURABILITY TESTING METHOD例文帳に追加
室内タイヤ耐久試験方法 - 特許庁
WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD OF BREAKER例文帳に追加
遮断器の耐電圧試験方法 - 特許庁
SWITCHING CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
スイッチング回路および試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁
MATERIAL-TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
材料試験方法および装置 - 特許庁
BEDROCK SAMPLE PERMEABILITY TESTING METHOD例文帳に追加
岩盤試料透水試験方法 - 特許庁
IC TESTING METHOD AND IC TESTING DEVICE USING THE TESTING METHOD例文帳に追加
IC試験方法及びその試験方法を用いたIC試験装置 - 特許庁
DURABILITY PERFORMANCE TESTING METHOD FOR TIRE例文帳に追加
タイヤの耐久性能テスト方法 - 特許庁
GATEWAY AND ORIGINATION TESTING METHOD例文帳に追加
ゲートウェイおよび発信試験方法 - 特許庁
AIR PERMEABILITY TESTING METHOD OF RUBBER例文帳に追加
ゴムの気体透過性試験方法 - 特許庁
FLASH MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
フラッシュメモリ及びその試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF SENSOR例文帳に追加
センサの温度特性検査方法 - 特許庁
CANCER EXAMINATION TEST DRUG AND TESTING METHOD例文帳に追加
ガン検査薬および検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
試験方法及び半導体装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及び試験方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路及び回路テスト方法 - 特許庁
LINE CONNECTION STATE TESTING METHOD例文帳に追加
回線接続状態試験方式 - 特許庁
CONTINUITY TESTING METHOD FOR ELECTRIC CONNECTOR例文帳に追加
電気コネクタの導通検査方法 - 特許庁
CRACK DEVELOPMENT TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
き裂進展試験方法及び装置 - 特許庁
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